【精品课件】SPC方法与过程能力

1制造过程的控制Subject2.8302003年春第九讲“SPC图与过程能力”2004年3月4日2SPC假设3xbar的例子4WesternElectric规则（表4-1）•超限的数据点•超过2σ的2~3个连续点•连续5个点中有4个超出1σ•连续8个点在中心的一侧5失控•数据不是平稳的。（μ或σ不是常量）•过程输出被一个扰动所作用。（可指出的或特定的原因）•这个扰动是可以被辨识和消除的。–趋势指出确定的类型–与已知的事件关联•换班•更换材料6图的设计•样本大小n–中心极限定理–ARL的影响？•采样时间⊿T–采样的成本–无数据的产品–快速的现象•参考数据的选择–S是在最小吗？样本大小和“滤波”vs.对变化的响应时间7限制与扩展•需要平均•正态假设•独立假设•还有什么可选的？•缺陷–对数据的曲解–不适当的采样8S图的使用•画出样本方差–Shewhartxbar的均值的方差（n1）•它告诉我们哪些有关控制状态的信息？–它简单地画出了“其它”的统计信息9考虑这个过程Xbar图10及其S图11在控制下吗？12随后同样这个过程13随后的S图14什么改变了？？15一个不同的序列16S图17S图的使用•侦测母体分布方差的改变•区分均值和方差的改变18统计过程控制•将过程建模为一个正态独立随机变量•用μ和σ完全描述•用xbar和S来估计•遵从平稳条件•关注这些统计量的偏离•如果这样…？•叫工程师来！19统计过程模型的另一种使用：制造-设计的接口•我们现在有了一个过程的经验模型这个过程有多么“好”？它是否具有我们需要的生产能力？20过程能力•假设过程在控制下•全面地被xbar和S所描述•与(产品的)设计规格比较–容限(公差)–质量损失21(产品的)设计规格•容限：上限和下限22(产品的)设计规格•质量损失：对于所有偏离目标的处罚。如何标定？23容限的使用：过程能力•用一个正态分布来定义过程•在其上叠加x*，LSL和USL•评估期望的性能24过程能力•定义•只比较范围•没有均值偏移的影响25过程能力：Cpk•比较偏移量的影响=距均值的标称偏离的最小值26Cp=1;Cpk=127Cp=1;Cpk=028Cp=2;Cpk=129Cp=2;Cpk=230变化的影响•在设计规格中•在过程均值中•在过程方差中•Cp和Cpk取什么值为好？31Cpk表32“6Sigma”问题336σ问题：均值偏移甚至在发生一个2σ的均值偏移时，我们只有32ppm超出规格。34来自质量损失函数的能力给定L(x)和p(x)，什么是E{L(x)}？35质量损失期望变化惩罚偏移惩罚36过程能力•现实（过程统计量）•要求（设计规格）•Cp–方差对容限的一个度量•Cpk-方差距目标的一个度量•期望损失-一个“好坏”的全面度量