您好,欢迎访问三七文档
1SPC–统计过程控制StatisticalProcessControl--汽车行业五大工具之SPC--SPC导出•质量体系关注改进和预防•合理的过程控制可以实现改进和预防•过程是把输入转化成输出的相互关联和相互作用的活动,过程涉及到我们业务的各个方面•什么是过程?能产生输出(一种给定的产品或服务)的人、设备、材料、方法和环境的组合。过程可涉及到我们业务的各个方面。管理过程的有力工具即为统计过程控制。•什么是过程控制?过程控制是为了确保满足顾客的要求而对过程所执行的一套程序和经过策划的措施。这些程序和措施包括:-经过策划的用以收集有关输入和输出信息的检验和监控-基于所收集信息而对过程进行的调整•什么是统计过程控制?使用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出,以便采取适当的措施来达到并保持统计控制状态,从而提高过程能力。-有反馈的过程控制系统模型过程的呼声人设备材料方法产品或环境服务输入过程/系统输出顾客的呼声我们工作的方式/资源的融合统计方法顾客识别不断变化的需求量和期望过程的状态的衡量过程控制:操作员培训、变换材料设备修理人员沟通改变车间温度、湿度输出控制:返修、返工、特采退步放行、降级、报废变差及其产生原因1)产品的特性具有变异性;没有两件产品是完全相同的任何过程都存在许多引起变差的原因机加工轴直径的变差源?哪些是长期影响,哪些是短期影响?2)产品质量的变异具有统计规律性;利用统计技术来进行正确的推定和预测;根据推定和预测采取正确的行动;----------真正实现预防性管理范围范围范围范围过程变差:每件产品的尺寸与别的产品都不同范围范围范围过程变差:但它们形成一个模型,若稳定,可以描述为一个分布过程变差:分布可以通过以下因素来加以区分范围范围范围或这些因素的组合位置分布宽度形状•标准差(StandardDeviation)δ过程输出的分布宽度的分布宽度的量度。正态分布与几率范围百分比±1σ68.26%±2σ95.44%±3σ99.73%σΧ普通原因和特殊原因•▲普通原因——持续得影响过程,是具有稳定的、随时间可重复分布的诸多过程变化根源,影响过程输出的所有单值•处于统计控制状态的稳定系统(受控)•过程的输出是可预测的•过程固有的、始终存在•例如:机床开动时的轻微振动、机器部件的正常间隙、轴承自然磨损等。▲特殊原因——指并不永远作用于过程而引起变化的任何因素,间断的•如果存在特殊原因,过程输出随时间进程将不是稳定的(不受控)•异因则非过程固有,有时存在,有时不存在•例如:原材料不均匀、设备未润滑、参数设置不正确、人员技术不纯熟等。普通原因特殊原因不同原因导致变差的措施•局部措施通常用来消除变差的特殊原因通常由与过程直接相关的人员实施通常可纠正大约15%的过程问题•对系统采取措施通常用来消除变差的普通原因几乎总是要求管理措施,以便纠正大约可纠正85%的过程问题措施选择不当的后果技术状态满足要求受控非受控可接受Ⅰ理想状态—过程处于控制状态,满足要求的能力是可接受的Ⅲ过程满足要求可被接受,但不受控.如果特殊原因已确定但难以以经济的方式予以消除,过程也可能被顾客接受不可接受Ⅱ过程虽然受控,但是由普通原因引起的变化过多,必须减少。短期来讲可以通过100%检查以保护客户Ⅳ过程既不受控,也不可接受,普通和特殊原因引起的变差都必须被减少。100%检查并采取措施稳定过程何时需要采取措施?何种过程控制和过程能力能接受?两类错误一类错误:没有特殊原因影响,但采取了措施(过度控制)二类错误:有特殊原因影响,但没有采取措施(控制不足)不可能把错误概率降为零通过控制图可以有效地降低该错误针对计量型数据和计数型数据的不同控制图控制图的主要特征:-合适的刻度-上下控制线-中心线-子组顺序-失控点的识别-事件记录计量型数据控制图与过程有关的控制图计量单位:(mm,kg等)过程人员方法材料环境设备123456结果举例控制图举例螺丝的外径(mm)从基准面到孔的距离(mm)电阻(Ω)锡炉温度(ºC)工程更改处理时间(h)X图R图使用控制图的准备1、建立适合于实施的环境a排除阻碍人员公正的因素b提供相应的资源c管理者支持2、定义过程根据加工过程和上下使用者之间的关系,分析每个阶段的影响因素。3、确定待控制的特性应考虑到:-顾客的需求-当前及潜在的问题区域-特性间的相互关系4、确定测量系统a规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。b确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。接上页5、使不必要的变差最小-确保过程按预定的方式运行-确保输入的材料符合要求-恒定的控制设定值注:应在过程记录表上记录所有的相关事件,如:刀具更新,新的材料批次等,有利于下一步的过程分析。均值和极差图(X-R)1、收集数据以样本容量恒定的子组形式报告,子组通常包括2-5件连续的产品,并周性期的抽取子组。注:应制定一个收集数据的计划,将其作为收集、记录及描图的依据。1-1选择子组大小,频率和数据1-1-1子组大小:一般为5件连续的产品,仅代表单一刀具/冲头/过程流等。(注:数据仅代表单一刀具、冲头、模具等生产出来的零件,即一个单一的生产流。)1-1-2子组频率:在适当的时间内收集足够的数据,这样子组才能反映潜在的变化,这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班2次,或一小时一次等。接上页1-1-3子组数:子组越多,变差越有机会出现。一般为25组,首次使用控制图选用35组数据,以便调整。1-2建立控制图及记录原始数据(见下图)烤纸“温度”X---R图记录单位:组立滤纸材质:机油格规范温度:170-175°c机器名称:烤炉=均值=UCL=+A2R=LCL=-A2R=173UCL=+A2=175LCL=+A2=170=均值R=4.3UCL=D4=9.09LCL=D3=0编号1234567891011121314151617181920212223242526272829日期/时间9/68:00-9:009/69:00-10:009/610:-11:009/611:00-12:009/613:30-14:309/614:30-15:309/615:30-16:309/78:00-9:009/79:00-10:009/710:00-11:009/711:00-12:009/713:30-14:309/715:30-16:309/810:30-11:309/813:30-14:309/814:30-15:309/815:30-16:309/118:00-9:009/119:00-10:009/1110:00-11:009/1111:00-12:009/1113:30-14:309/128:00-9:009/1213:30-14:309/1214:30-15:309/1215:30-16:309/1216:30-17:30138:00-9:009/139:00-10:00读数1174175175173171172173176171172174176173176174172170175172176171175173169170175175175174读数2175176177174170174170175172173173174172174175172169174173175173174172171169173176173175读数3174175176175172173169173173174170172170171176173171172175174173175170173171170174171175读数4173174174176174172171170174176171169171170174174172170176173174173171174172169172169174读数5173173172175175173172169175175172170173171171175173171174170175172172175173171170170173读数之和读数数量R=最大值-最小值23535247444736534546433646662应记录人员、材料、环境、方法、机器或测量系统的任何变化,当控制图上出现信号时,这些记录将有助于采取纠正措施.日期/时间172173172174172171174173174172173171172174172172172174173A2=0.577D3=0.000D4=2.115172175172备注日期/时间备注174175175173171173174XXCRXXRRX图171172173174175123456789101112131415161718192021222324252627282930系列1系列2R图048123456789101112131415161718192021222324252627282930系列1RR1-3、计算每个子组的均值(X)和极差R对每个子组计算:X=(X1+X2+…+Xn)/nR=Xmax-Xmin式中:X1,X2••••为子组内的每个测量值。n表示子组的样本容量1-4、选择控制图的刻度4-1两个控制图的纵坐标分别用于X和R的测量值。4-2刻度选择:接上页对于X图,坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值(X)的最大值与最小值的差的2倍,对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差(R)的2倍。注:一个有用的建议是将R图的刻度值设置为X图刻度值的2倍。(例如:平均值图上1个刻度代表0.01英寸,则在极差图上1个刻度代表0.02英寸)1-5、将均值和极差画到控制图上5-1X图和R图上的点描好后及时用直线联接,浏览各点是否合理,有无很高或很低的点,并检查计算及画图是否正确。5-2确保所画的X和R点在纵向是对应的。注:对于还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明“初始研究”字样。2计算控制限首先计算极差的控制限,再计算均值的控制限。2-1计算平均极差(R)及过程均值(X)R=(R1+R2+…+Rk)/k(K表示子组数量)X=(X1+X2+…+Xk)/k2-2计算控制限计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反映在极差上的子组内的变差的量来决定的。计算公式:UCLx=X+A2RUCLR=D4RLCLx=X-A2RLCLR=D3RJiangsuTÜVProductServiceLtd.TUVSÜDGroupChoosecertainty-Addvalue.Choosecertainty-Addvalue.Choosecertainty.Addvalue.value.接上页注:式中A2,D3,D4为常系数,决定于子组样本容量。其系数值见下表:n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3٭٭٭٭٭0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.340.340.31注:对于样本容量小于7的情况,LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有下控制限,这意味着对于一个样本数为6的子组,6个“同样的”测量结果是可能成立的。控制图:-收集数据-建立控制图-登录数据-计算数据-建立控制限-分析R图,找出失控点,分析特殊原因,采取措施,重新计算控制限,分析R图,找出失控点,分析特殊原因,采取措施,重新计算控制限-更新Xbar图-分析Xbar图,找出失控点,分析特殊原因,采取措施,重新计算控制限控制限的沿用和更新(子组容量的变更)控制图失控的特征:超出极差上控制限的点说明存在下列情况中的一种或几种:·控制限计算错误或描点时描错;·零件间的变化性或分布的宽度已经增大(即变坏),增大可以发生在某个时间点上,也可能是整个趋势的一部分;·测量系统变化(例如,不同的检验员或量具);·测量系统没有适当的分辨力。有一点位于控制限之下,说明存在下列情况的一种或几种:·控制限或描点
本文标题:五大工具之SPC
链接地址:https://www.777doc.com/doc-418321 .html