凌达光电品质训练--制程能力分析(1)

GIANTPLUSOPTOELECTRONICS大綱名詞解釋製程能力分析步驟GIANTPLUSOPTOELECTRONICS變异一般與特殊原因一般原因:製程中某些微小而不可避免的原因,現象所此造成之分配與時間的關系是穩定而可重複,可預測的.特殊原因:製程中不常發生但造成製程變异的原因,此現象所造成之分配與時間的關系是不穩定且無法預期的名詞解釋GIANTPLUSOPTOELECTRONICS製程能力當我們的製程處于穩定狀態時,即對製程進行研究分出一般原因與特殊原因,消除特殊原因,只存在一般原因,此時的製程狀況處于穩定狀態即是我們所謂的製程能力偵查製程是否處于穩定狀態,需要借助于管制圖,通過管制圖找出一般原因與特殊原因,确定製程狀況,方可進行製程能力分析GIANTPLUSOPTOELECTRONICS製程准确度Ca(Capabilityofaccuracy)生產中所獲得產品資料的實績平均值(X)與規格中心值(u)其間偏差的程度即稱之為(製程准确度),即衡量製程平均值與規格中心值兩者間的一致性Ca=實際平均值-規格中心值規格公差/2*100%=(x-u)/T/2*100%注明:當為單邊規格時無Ca值GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCa值的評估Ca值越小,品質越佳,為了便于區分製程實績值(X)的好坏一般將Ca值分成4個等級作為評估的標准.等級Ca值A級Ca=12.5%B級12.5%Ca=25%C級25%Ca=50%D級50%CaA級:理想的狀態故維持現狀B級:盡可能調整﹑改進為A級C級:應立即檢討並予以改善D級:采取緊急措施,並全面檢討,必要時應考慮停止生產Ca反應工序實際平均值與規格中心值之間的差异GIANTPLUSOPTOELECTRONICSUCLLCL規格中心值製成平均值Ca=23%GIANTPLUSOPTOELECTRONICS製程精密度Cp(Capabilityofprecision)以規格公差(T)與自生產中所獲得產品資料的6個估計績標准差()其間相差程度,即在衡量規格公差範圍與製程變异寬度兩者之間相差的程度Cp值=規格公差6個估計實績標准差=T/6雙邊規格時GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCp值=規格上限-平均值3個估計實績標准差=USL-X/3Cp值=3個估計實績標准差=X-LSL/3單邊規格時規格下限-平均值GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCp值的評估Cp值越大,品質越佳,為了便于區分製程實績估計標准差的好坏,一般將Cp值分成5個等級作為評估的標准.等級Cp值A+級Cp=1.67A級1.67Cp=1.33B級1.33Cp=1.00C級1.00Cp=0.67D級0.67CpA+級:產品變异如大一些也不要緊,考慮管理的簡單化或成本降低方法A級:理想的狀態故維持現狀B級:确實進行製程管理,使其保持在管制狀態,當Cp接近於1時,恐怕會產生不良品,盡可能改善為A級C級:生產不良品,產品須全數選別,並管理,改善製程D級:品質無法在滿足的狀態,須進行品質的改善,探求原因.須要採取緊急對策,並重新檢討規格GIANTPLUSOPTOELECTRONICSuLSLUSLCp說明尺寸分布的范圍大小﹐並不說明尺寸分布跼中心位置的遠近GIANTPLUSOPTOELECTRONICS規格中心值,製成中心值製成中心值Cp=1製程能力指數Cpk將Ca與Cp兩值同時參考而對製程作一個客觀評价的指標即Cpk,既考慮到變异的寬度,又考慮實績平均值與規格中心值兩者的比較.其計算公式有兩种Cpk=(1-K)T6=(1-|Ca|)CpK=|X-u|T/2=|Ca|(1)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS當Ca=0時Cpk=Cp(單邊規格時,Cpk即以Cp值計之)=Rd2(2)Cpk=Zmin3Zmin=[Su-X與-(Sl-X)]的最小值n2345678910d21.131.692.062.332.532.72.852.973.08d2之參考表GIANTPLUSOPTOELECTRONICS(1)(2)=i=1n(Xi-X)n-1(X為所有數据之平均值)=Rd2Zmin=[Su-X與-(Sl-X)]的最小值i=1n(Xi-X)n-1=3示例:在內胎壓出工程其長度規格為750+/-10mm,而十一月份壓出工程長度之實際平均值為749mm,實際估計標准差為4mm,計算十一月份之Ca,Cp,Cpk為何?十一月份Ca值=(x-u)/T/2*100%=(749-750)/10*100%=-10%(A級)Cp=T/6=20/6*4=0.83(C級)Cpk=Cp*(1-|Ca|)=0.83*(1-|-10%|)=0.747(C級)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS示例:GIANTPLUSOPTOELECTRONICSProcessCapability9.9979.9989.99910.00010.00110.00210.003LSLUSLProcessCapabilityAnalysisforC1USLTargetLSLMeanSampleNStDev(ST)StDev(LT)CpCPUCPLCpkCpmPpPPUPPLPpkPPMLSLPPMUSLPPMTotalPPMLSLPPMUSLPPMTotalPPMLSLPPMUSLPPMTotal10.1000*9.900010.0002400.00106920.001042831.1831.1231.2331.12*31.9731.9132.0331.910.000.000.000.000.000.000.000.000.00ProcessDataPotential(ST)CapabilityOverall(LT)CapabilityObservedPerformanceExpectedSTPerformanceExpectedLTPerformanceSTLT製程能力分析步驟确切了解要調查的品質特性與調查範圍确定製程是處于穩定的狀態計算製程能力指數判斷製程能力是否足夠,如不足時,則加以改善這四個步驟可以循環使用,直到獲得滿意的製程能力為止.GIANTPLUSOPTOELECTRONICS