GOODIX测试数据分析

3、基于数据的常见问题判断内容提要：3.1测试数据格式说明3.2测试数据与实物位置对应关系3.3正常样品数据示例及分析3.4常见问题分析本章节内容均以单芯片小屏为例进行讲解，大屏为2＋1方案，只是感应通道和驱动通道各增加一倍，原理一致。3.1测试数据格式说明1、用汇顶科技GuitarTestPlatform套件测试sensor或模组的数据样式如下：3.1测试数据格式说明2、格式说明上述表格为10X15，因此行的方向对应10条感应线，列对应15条驱动线。每一个单元格对应一个结点的采样数据，该结点为表格上行列所在的感应与驱动相交而成。因此：同一行上数据表示该感应线在不同驱动产生激励信号时采样到的信号；同一列上数据表示该驱动产生激励信号时，各感应线上采样到的信号。3.2测试数据与实物对应关系实物模组与测试数据对应关系确定：1、此对应关系由配置信息确定，通常情况下测试数据的行与实物上感应线有序对应，测试数据与实物上的驱动有序对应。如：3.2测试数据与模组对应关系有一模组如上述图片，当触摸屏实物模组如图摆放时，模组上驱动从左至右与测试数据的列从左至右对应；模组上的感应从上至下与测试数据行从上至下对应。因此得出对应关系后，当测试数据某部分异常，即可确定是实物模组上哪个部位有异常。2、对应关系确定：在“数据分析”界面切换至查看差值模式，手指在操作面沿对角线（或分别沿水平和垂直）滑动，观看数据有变化区域的移动轨迹和方向，即可确定实物与数据表格间的对应关系。3.2测试数据与模组对应关系3、当按2中方法，发现测试数据与实物间无法有序（可以是顺序也可以是逆序）对应，可能是配置信息中驱动线或感应线定义的扫描顺序与实物不对应造成，此时应及时将情况反馈给汇顶科技技术人员，以便及时作出调整。3.3正常样品数据示例及分析•RC常数在最佳范围内的正常样品3.3正常样品数据示例及分析RC常数在正常范围内的数据特征如下：1、整屏数据离散性较小，只有2－300个点差异。2、无论是同一行还是同一列，数据差异性均较小。3.3正常样品数据示例及分析•RC常数超出最佳范围内的正常样品3.3正常样品数据示例及分析RC常数超出最佳范围数据特点：1、同一驱动与不同感应形成的结点（即列方向）采样数据接近，这是由于驱动ITO图案宽，阻抗小，激励信号基本无衰减；另外同一驱动与不同感应形成的结点RC常数接近。2、同一感应与不同驱动所形成的结点（即行方向），采样数据呈匀速递减，这主要是由于远离感应压合点处的结点RC增大，导致数据衰减。3、2中的衰减一定是匀速的，即同一行上每个结点与其前后两个结点间的差值较为接近。4、2中的衰减可以通过调整配置信息微调驱动芯片的积分时间窗口削弱衰减，但这个调整不是无限的。5、出现2中的情形，请将现象反馈给汇顶科技技术人员，并提供此类样品给汇顶科技，以便技术人员调整配置信息。3.4常见问题分析问题一：驱动开路数据特征如下：1、列方向（即同一根驱动）对应的数据不稳定，一般较小（只有几个点至几十个点不等），但也有可能个别值较大（如1023、2047等），一般这些较大的值会在较大值和较小值间跳动。2、一般与其相邻的两列（相邻的两根驱动）数据明显偏大。3、请用万用表检测，以进行确认是IC焊接开路、压合开路还是走线划伤。4、如果是sensor，也可用汇顶科技的阻抗测试工具进行确认（会测得单通道阻抗无穷大）。3.4常见问题分析3.4常见问题分析3.4常见问题分析3.4常见问题分析问题2：驱动与驱动或地短路数据特征：驱动与驱动或地短路的数据特征同驱动开路的数据特征类似，因此仅凭数据无法确定到底是哪一种故障，请用万用表检测以确定。从实际经验来看，开路的情况要多于短路的情况。3.4常见问题分析•问题3：驱动走线阻抗过大或“虚压接”数据特征：1、列方向（即同一根驱动对应的数据）数值整体偏小，一般为几百个点或明显比其它驱动少几百个点。2、请用万用表或阻抗测试工具测试走线阻抗或各个驱动的阻抗。3、通常阻抗过大的原因是由于走线被严重氧化，或走线有划伤、压接阻抗过大引起。3.4常见问题分析3.4常见问题分析3.4常见问题分析•问题4：驱动ITO图形损伤数据特征：1、当发生断裂性的划伤，列方向（同一根驱动方向）数据有部分正常，而从某个点以后就全都不正常（明显偏小或几乎没有。2、可能的原因为驱动划伤或ITO图形蚀刻不良，导致驱动ITO图形损伤。3、请在显微镜下观察，以确定问题。3.4常见问题分析•问题5：感应通道开路数据特征：1、行方向（同一条感应线对应的数据）数据很小（为3，5等）或较大数据（如1026,1024,2047等），且多数数据相同。2、可能是由于IC焊接不良、压合开路、走线被划伤等原因造成，请用万用表分段检测确定。3.4常见问题分析3.4常见问题分析3.4常见问题分析3.4常见问题分析•问题6：感应通道与感应通道或地短路感应通道与感应通道短路的可能性较小，由于物理上两者相距较远，但有可能走线短路或压合导致短路。感应与感应短路从数据上不能反映出来，但可以通过阻抗测试工具测试出来。感应通道与地短路数据特征：数据特征与感应同开路类似，因此要确定具体原因需用万用表检测或汇顶科技的阻抗测试工具检测。3.4常见问题分析•问题7：感应线与悬浮块短路数据特征：1、局部数据明显比其它地方大，呈突变状态。2、产生的原因可能是悬浮块与感应线短路，相当于增大了该区域感应线的面积，使得结点电容增大。3、这种问题会导致局部线性变差。4、请在显微镜下观测，以确定原因。3.4常见问题分析3.4常见问题分析3.4常见问题分析3.4常见问题分析•问题8：感应线阻抗偏大或感应压接阻抗偏大数据特征：1、行方向（一根感应线对应不同驱动的结点数据）数据整体明显偏小，阻抗越大值越小。2、用万用表检测或汇顶科技的阻抗测试工具进行测试确认。3.4常见问题分析3.4常见问题分析3.4常见问题分析问题9：感应通道IT0划伤数据特征：1、行方向（即感应通道与不同驱动的结点）有部分数据正常，而从某个点开始，数据突然变小成几个点、几十个点或变为固定值（1026、2047等）。2、引起此问题的原因是感应通道ITO图形有划伤，请用万用表检测确认。3.4常见问题分析3.4常见问题分析3.4常见问题分析•问题10：局部ITO有损伤数据特征：1、局部数据明显偏小，或孤立点数据明显偏小。2、可能是驱动ITO有损伤（如蚀刻不良），导致该位置电场削弱；也可能是感应面悬浮块有损伤（如蚀刻不良造成），导致该位置电场削弱。3、这种故障会导致局部线性不好。4、要确定具体原因，请在显微镜下观测。3.4常见问题分析3.4常见问题分析3.4常见问题分析