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习题参考答案第一章1)求基函数为一般平面波、哈密顿量为自由电子系统的哈密顿量时,矩阵元1ˆ1H和2ˆ1H的值。解:令rkieV111,rkieV212,222ˆmH,有:mkrdeemVkrdeVmeVHrkiVrkirkiVrki221)2(11ˆ121202122201111021)2(12ˆ121210222220rdeemVkrdeVmeVHrkiVrkirkiVrki2)证明)2(Nalk,)2(Nalk,l和l均为整数。证:由Bloch定理可得:)()(reRrnRikn考虑一维情况,由周期性边界条件,可得:221)()()(NalklNakererNarNaikNaik同理可证)2(Nalk。3)在近自由电子近似下,由02ˆ21ˆ22ˆ11ˆ1EHHHEH推导出0)()(0021knnkVV。解:令rkieV111,rkieV212,VrVVmVVrVmrVmH)(2)(2)(2ˆ222222VmVkVVVmVkrdeVeVrderVeVVmVkrdeVVrVVmeVHrkiVrkirkiVrkirkiVrki2)2(1)(1)2(1])(2[11ˆ121221200212220111111令VmVkk221201,即有011ˆ1kH。同理有:022ˆ2kH。nrkiVrkirkiVrkiVrderVeVrdeVrVmeVH2121)(101)](2[12ˆ10220其中rderVeVVrkiVrkin21)(10,是周期场V(x)的第n个傅立叶系数。同理,nVH1ˆ2。于是有:0)()(0021knnkVV。4)证明当mRkimeNa1时,)()(mnRmnRrarm具有bloch波函数的形式。证:将mRkimeNa1代入)()(mnRmnRrarm,有:)(1)(mnRRkinRreNrmm要证明)(rn具有bloch波函数的形式,只要证明)()(reRrnRkinnn即可。因为:)]([1)(1)()(nmnRRRkiRkimnnRRkinnRRreNeRRreNRrmnmnmm令nmlRRR,即有:)(1)(lnRRRkiRkinnRreNeRrnlln,由于求和遍及所有格点,有:)(1)(1lnRRkilnRRRkiRreNRreNllnll,于是有:)()(1)(reRreNeRrnRkilnRRkiRkinnnlln,证毕。5)写出用紧束缚近似LCAO方法求解硅材料能带的思路,计算)(2kg。解:取如右图的坐标系,坐标系原点位置原子的最近邻原子坐标为:考虑令rdrHrrrHSjyjyS)()(4)(*,绕x轴转,31rr,**yy;绕y轴转,41rr,**yy;绕z轴转,21rr,**yy也即)()()()(4321rHrHrHrHySySySyS,于是有)()(}2cos2sin2cos2sin2cos2sin){()}(2sin2cos2)(2cos2sin2{4)()}22sin(2)22sin(2{4)()]}(2exp[)](2exp[)](2exp[)](2{exp[4)(4)(21122221221114321kgrHkkkikkkrHeekkieekkirHkkiekkierHkkkikkkikkkikkkirHeeeerHAHBySzyxzyxySkikiyxkikiyxySyxkiyxkiySzyxzyxzyxzyxySrkirkirkirkiySSyzzzzzzzyxzyxkkkikkkkg2cos2sin2cos2sin2cos2sin)(2其中),,(2zyxkkkak)1,1,1(4),1,1,1(4),1,1,1(4),1,1,1(44321arararar'jrrdrHrrerdrHrrerdrHrrerdrHrrerdrHrreAHBSyrkiSyrkiSyrkiSyrkijSjyrkiSyj)()()()()()()()()()(4*3*2*2*4,3,2,1*43216)写出pk微扰方法的主要思路。答:将已知0k处的)(0runk和)(0kEn作为零级近似,求附近kkk0处的)(runk和)(kEn值。3,2,1)(0nrunk形成一组正交、完备的基函数,pk作为微扰来处理。通过kkk0进一步扩展到整个布里渊区。第二章1)请问分布函数),(tkf的物理意义。答:t时刻,单位体积内运动状态为k的电子数目。2)请用文字说明:a)如何得到玻尔兹曼方程;b)通过该方程,如何得到材料的电导率计算公式。答:电子系统的分布函数随时间的变化率可表示成漂移项、碰撞项与扩散项的总和。当系统达到平衡态时,电子分布函数随时间的变化率为零。恒温条件下,忽略电子密度在空间的不均匀性引起的扩散项,因此恒定电磁场引起的漂移项与散射引起的碰撞项的和为零,即为波尔兹曼方程。在弛豫时间近似下,考虑均匀材料恒温零磁场、弱电场下的非简并电子气,将分布函数按电场强度的幂次展开。考虑到分布函数变化的一级小量,根据电流密度EdnveJ关系,可得电导率的计算公式,它取决于弛豫时间、能带结构和分布函数。3)请问何为弛豫时间近似?为何要引入该近似?如何通过理论求弛豫时间?如何通过实验求弛豫时间?答:考虑到碰撞促使系统趋向平衡态这一基本特点,引入弛豫时间)(k使得碰撞tfkff)(0,即碰撞引起的分布函数的变化率。因为只有碰撞作用时,上式对t积分得到的解是/00)(teffff。我们看到,弛豫时间大致度量了恢复平衡所用的时间。从理论上定量的求出弛豫时间需要具体计算系统中各种散射机制,根据不同的散射机制,计算散射矩阵元和电子的跃迁几率,积分得到)(k,存在多种散射机制时ii11。实验上测定弛豫时间:利用)(k与散射截面c的关系,Nvkc1)(,实验上测定c来计算)(k。4)若给出)422(233*422*3*2233*422*3*2zyzxyyzxzyxxBmneBmnemneJBmneBmnemneJ请你推导出Hall系数neneRH122和磁阻公式。答:在一个长方形样品的Hall系数测量中,假设外加电流方向为x方向,磁场B沿z方向,由于载流子在磁场中运动发生偏转,我们在y方向上可探测到电压。由于在y方向无电流,0yJ,积累的电场为y。若仅考虑的一次方项,在稳态下)1(2*zxyBmeHall系数将(1)式代入(2-42)中xJ表达式磁阻为磁场在x方向引起的电流变化其中22322,称为磁阻系数。nenenemnemejmeBjBmeBjRxxxxzxzxzxyH1222*2*2*2*2233*422*22*3*2233*422*3*2zxzxxzxzyxxBmneBmemnemneBmneBmnemneJ22*22322232*22222*2*2233*422*22*3*2*200zzzxzxzxxxxxBxmBmeBmeBmemneBmneBmemnemnemneJJJR222232222222*2222232222*223222*)()(zHzHzzmHBBBmeBmeRme5)在霍尔效应中,和xJ为什么不在同一方向上?两者夹角的大小和正负与什么因素有关?答:由于在y方向存在电场,电流和电场并不在同一方向上,两者的夹角称为Hall角。Hall角的大小与弛豫时间、磁场强度、载流子的有效质量有关,正负与载流子类型有关,电子的Hall角是负值而空穴的Hall角是正值。6)请问电离杂质散射、中性杂质散射和声学波散射的机理,以及在这些散射过程中弛豫时间、迁移率和温度的关系。答:电离杂质散射:在常温下,浅施主和浅受主杂质大部分处于电离状态,载流子在经过这些杂质中心时,将受到其库仑引力或斥力的作用,运动方向发生偏折,通常也将电离杂质和其它荷电中心引起的散射统称为库仑散射。在较高温度下,载流子平均动能较大,I也较大,散射作用较弱。在较低温度下,载流子的平均动能较小,电离杂质有较强的散射作用。这时载流子的迁移率往往由电离杂质散射决定,2/3TI。中性杂质散射:电子的散射是一个很基本的过程,与气体中低能电子散射有相似的过程,弛豫时间和迁移率与温度无关。声学波散射:对于纵声学波,原子位移引起原子分布的疏密变化,即引起原子间距的周期性变化。原子间距的变化将改变能带的扩展情况,导致在波的传播方向上,带边的能量将发生周期性的起伏。对于载流子,这相当于存在一附加的势。通常把这种和晶格形变相联系的附加势称为形变势。纵声学波主要通过这种形变势和电子z*nz*xzx*xypBττmeθBττmeεBεττmeεεθ222tantan发生相互作用。对于横声学波实际是一种切变波,不会引起原子的疏密变化。对于能带极值在k=0的简单带,切变并不产生形变势。但在多谷的能带中,切变也可产生形变势,对载流子也可以产生散射作用。声学波形变势散射是弹性散射,2/3TI。7)某半导体材料的电阻率随温度的变化趋势如图所示,请分析并说明原因。解:AB)低温下,本征激发忽略,载流子主要由杂质电离提供,电离杂质散射为主要的散射机制,迁移率随T增加而增加(2/3TI),所以电阻率随T增加而减小;BC)温度逐渐升高,杂质全部电离,本征激发还不显著,载流子浓度不变,晶格散射上升为主要的,迁移率随T增加而减小(2/3TI),随T增加而增加;CD)温度再升高,本征激发开始,大量载流子产生,远远超过了迁移率减小对电阻率的影响,本征激发为主要的,因此电阻率随T增加而下降。8)右图是三个未知的锗样品的电导率随温度的变化结果,请分析它们的电导率随温度变化的原因。解:不同样品的电导率不同,主要是由于掺杂浓度不同所引起的。掺杂浓度越高,样品的电导率越大。在高温端,晶格散射是主要的,2/3TI,所以样品的电导率随着温度的减小而增加。在低温端,电离杂质散射是主要的,2/3TI,所以样品的电导率随着温度的减小而减小。每个样品都出现了温度转折点,对应着样品电导率随温度变化规律的改变。掺杂浓度越大的样品,温度转折点越高。这说明了对于掺杂浓度大的样品,在较高的温度下晶格散射才比电离杂质散射明显。第三章1)
本文标题:高等半导体物理参考答案
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