Genie-2000-general

欢迎使用Canberra公司的产品Genie2000定义和装载硬件(InSpector2000)Part1,Genie2000Series启动硬件定义编辑器(MCAInputDefinitionEditor)•从Edit的下拉菜单中选择AddMCA编辑定义InSpector2000（1）选择通讯接口（例如：USB)编辑定义InSpector2000（2）点击USB前面的+，得到下图界面，选择其中的InSpector-2000usingI2K-USB，点击Add和Done编辑定义InSpector2000（3）从Devices下拉菜单中选择MCA编辑定义InSpector2000（4）在DeviceSerialNumber栏输入仪器的序列号，点击OK编辑定义InSpector2000（5）编辑定义InSpector2000（6）从Settings的下拉菜单内选择HighVoltage编辑定义InSpector2000（7）•根据探测器要求确定高压的极性设置范围编辑定义InSpector2000（8）•从Settings的下拉菜单内选择DSPGain编辑定义InSpector2000（9）•根据探测器输出信号极性确定Inp.Polarity编辑定义InSpector2000（10）•从Settings的下拉菜单内选择DSPFilter编辑定义InSpector2000（11）•根据探测器特性确定前置放大器类型(Preamptype)和滤波参数(RiseTime/FlatTime)编辑定义InSpector2000（12）•从Settings的下拉菜单内选择Input编辑定义InSpector2000（13）•在InputName栏内输入探测器识别名编辑定义InSpector2000（14）•从File的下拉菜单内选择Saveas编辑定义InSpector2000（15）•输入文件名(FileName)和描述(FileDescrition),点击Save，编辑定义完毕加载InSpector2000（1）•选择Database的下拉菜单的Loadto加载InSpector2000（2）•加亮选择编辑定义的INS2K，点击Load和Done,InSpector2000加载完毕调用InSpector2000（1）•启动谱获取和分析(GammaAcquisition&Analysis)程序调用InSpector2000（2）•点击FileOpen工具靶调用InSpector2000（3）•选择Detector,加亮DET01,点击Open,调用完毕InSpector2000的控制•在GAA界面MCA下拉菜单中的Adjust,实施InSpector2000的控制Genie2000核素库编辑功能(NuclideLibraryEditor)Part2,Genie2000Series启动核素库编辑器•按下图启动核素库编辑器（NuclideLibraryEditor)核素库编辑程序（1）•从Option的下拉菜单选择Extract核素库编辑程序（2）•点击下图界面中的Open核素库编辑程序（3）•从CAMFILES文件夹内选择Stdlib.nlb，加亮后，点击Select核素库编辑程序（4）•加亮所选择的核素(例如:57Co和60Co)，点击OK核素库编辑程序（5）•从File中选择Saveas核素库编辑程序（6）•在文件名，Description和Title栏内输入文件名（例如：Co），点击Save核素库编辑结束•此刻核素库编辑完毕，在CAMFILES文件夹内即生成一个文件名为Co.nlb的核素库文件•该文件可用于谱数据的处理中的核素识别(NID)分析步骤时调用Genie2000刻度文件编辑功能(CertificateFileEditor)Part3,Genie2000Series启动刻度文件编辑器•按下图启动刻度文件编辑器（CertificateFileEditor)刻度文件编辑程序（1）•从Option的下拉菜单选择LibraryExtract刻度文件编辑程序（2）•从CAMFILES文件夹内选择Stdlib.nlb，加亮后，点击Select刻度文件编辑程序（3）•加亮所选核素，选择活度单位，输入活度和不确定度，点击Change，然后点击OK刻度文件编辑程序（4）•输入Title，Quantity*和Assaydate刻度文件辑程序（5）•从File中选择Saveas刻度文件编辑程序（6）•在文件名和Description栏内输入文件名（例如：Co），点击Save刻度文件编辑结束•此刻核素库编辑完毕，在CAMFILES文件夹内即生成一个文件名为Co.ctf的刻度文件•该刻度文件可在高纯锗谱仪系统的能量刻度(EnergyCalibration)和效率刻度(EfficiencyCalibration)时调用谱获取和分析基本操作(GammaAcquisition&Analysis)Part4,Genie2000Series基本操作内容硬件(InSpector2000)的控制显示界面调整参数预置和谱获取谱仪能量刻度谱仪效率刻度谱分析谱存储硬件(InSpector2000)的控制（1）选择GAA界面中MCA下拉菜单中的Adjust硬件(InSpector2000)的控制（2）加载高压，输入高压值(Voltage)，选择On硬件(InSpector2000)的控制（3）选择增益Gain粗调(Coarsegain)细调(Finegain)超细调(S-finegain)硬件(InSpector2000)的控制（4）选择滤波常数(Filter)上升时间(RiseTime)和平顶时间(FlatTime)显示界面调整(1)确省设置GAA界面显示界面调整(2)选择GAA界面中Display下拉菜单中的Preferences显示界面调整(3)编辑谱显示窗口的颜色显示界面调整(4)编辑坐标显示界面调整(5)编辑谱线显示方式坐标显示界面调整(6)编辑能量单位显示界面调整(7)编辑界面更新速率，推荐1s显示界面调整(8)编辑后的显示界面参数预置和谱获取（1）选择MCA中的AcquireSetup参数预置和谱获取（2）预置测量时间(TimePreset)和时间单位参数预置和谱获取（3）或者预置谱计数(ComputationalPreset)参数预置和谱获取（4）点击Start或者AcquireStart工具靶，获取谱谱仪能量刻度前准备工作（1）在谱仪能量刻度之前，必须进行以下工作：创建标准源刻度文件(.ctf)获取标准源的谱数据谱寻峰(PeakLocate)分析峰面积(PeakArea)分析谱仪能量刻度前准备工作（2）谱寻峰(PeakLocate)分析参数设置谱仪能量刻度前准备工作（3）峰面积(PeakArea)分析参数设置寻峰和峰面积分析后的谱谱仪能量刻度（1）点击Calibrate中的参数设置Setup谱仪能量刻度（2）高纯锗(HPGe)探测器刻度参数，确认后点击OK谱仪能量刻度（3）NaI(Tl)探测器刻度参数，确认后点击OK谱仪能量刻度（4）选择Calibrate中EnergyFull的ByCertificateFile谱仪能量刻度（5）选择刻度文件，点击Open谱仪能量刻度（6）根据谱线对应的峰，点击Cursor，相关数据输入对话框谱仪能量刻度（7）输入最高和最低能量峰的数据，点击Show谱仪能量刻度（8）确认后，点击OK谱仪能量刻度（9）点击Auto，其它能量峰数据自动输入点击Show谱仪能量刻度（10）确认后点击OK，根据需要可选择2nd多项式谱仪能量刻度（11）回到GAA界面，点击存储靶，即可存储刻度结果谱仪效率刻度（1）选择Calibrate中Efficiency的ByCertificateFile谱仪效率刻度（2）选择刻度文件，点击Open，谱仪效率刻度（3）选择165.8keV作为拐点(Cross-over),点击Auto谱仪效率刻度（4）点击Show谱仪效率刻度（5）确认后，点击OK谱仪效率刻度（6）回到GAA界面，点击存储靶，即可存储刻度结果谱分析（1）谱分析的基本步骤：寻峰(PeakLocate)峰面积(PeakArea)本底扣除修正(AreaCorrection)效率修正(EfficiencyCorrection)核素识别(NID)分析报告(Report)谱分析（2）寻峰(PeakLocate)推荐参数谱分析（3）峰面积(PeakArea)推荐参数谱分析（4）本底修正，点击Select，选择本底谱谱分析（5）本底谱的寻峰和峰面积分析方法必须与样品谱一致谱分析（6）效率修正(EfficiencyCorrection)推荐参数效率刻度类型必须与效率刻度时一致谱分析（7）核素识别(NID)推荐—NIDw/Interf.corr谱分析（8）分析报告推荐包括：Header和NID_Intf部分谱分析（9）谱分析批处理编辑选择Edit中AnalysisSequence谱分析（10）插入分析步骤(InsertStep)已编辑好的内容谱分析（11）点击Store，存储谱分析（12）输入文件名及描述，点击OK，存储谱分析（13）从Analyze的ExecuteSequence中可随时调用Basic_Analysis谱存储分析（1）选择File中的SaveAs谱存储分析（2）输入文件名和描述，点击SaveGENIE2000软件质量保证软件的应用(QualityAssurance)高纯锗谱仪质量保证实施•一个标准放射源（例如：60Co）•固定测量条件（源-探测器几何位置和测量时间）•观测参考峰（例如：1332.5keV）的峰位、峰能量、峰分辨率、峰面积、峰本底和加权活度变化情况，确定高纯锗谱仪系统的稳定性和可靠性启动质量保证程序编辑器(QualityAssuranceEditor)质量保证参数编辑主界面质量保证参数编辑（1）•从Add-defs中的PeakSearch下拉菜单内选择Peakcentroid峰位参数编辑•输入峰位限定参数质量保证参数编辑（2）•从Add-defs中的PeakSearch下拉菜单内选择Peakenergy峰能量参数编辑•输入参数质量保证参数编辑（3）•从Add-defs中的PeakSearch下拉菜单内选择PeakFWHM峰分辨率参数编辑•输入参数质量保证参数编辑（4）•从Add-defs中的PeakSearch下拉菜单内选择Peakarea峰面积参数编辑•输入参数质量保证参数编辑（5）•从Add-defs中的PeakSearch下拉菜单内选择Peakbackground峰本底参数编辑•输入参数质量保证参数编辑（6）•从Add-defs中的Nuclide下拉菜单内选择Wtdmeanactivity加权活度参数编辑•输入参数质量保证参数编辑（7）•选择Edit-defs中的Parameterdefinitions质量保证参数编辑（8）•确认相关参数，如果认可，点击OK存储质量保证文件（1）•选择file中的Saveas存储质量保证文件（2）•输入文件名（例如：QC_TEST)，点击Save谱获取及分析处理•获取的谱必须包括质量保证文件所需要的信息峰位、峰能量、峰分辨率、峰面积、峰本底和加权活度•获取一个60Co的谱后，必须进行以下处理，然后存成一个文件（QC_Co.CNF）–寻峰（PeakLocate）–峰分析（Peakarea）–效率修正（Efficiencycorrection）–核素识别（NIDw/Interf.Correction）启动质量控制文件（1）•选择Results中的Transfer选择Results中的transfer启动质量控制文件（2）•从CAMFILES中找到前面的QC_Co.CNF，点击Transfer质量保证的应用•定期获取60Co数据，分析处