3260B资料

WayneKerr产品培训刘震工程师邓凌霄业务苏州办公室0512-66876723Ver1.1WK3260B精密磁性元件分析仪WK3265B高電流直流偏压源WK3260B/WK3265B简介•前面板/后面板介绍•MAINMENU(菜单)•IMPEDANCEMODE（阻抗模式）•常用功能介绍：CALIBRATEMODE（校准）GRAPHMODE（曲线扫描）DEMAGMODE（退磁模式）CALSTATUS（校准状态）SETTINGS（系统参数设置）DELTAL（饱和电流运算测试）MULTIBIAS（多点饱和电流测试）•测试精度图查看方法•WK3260B+WK3265B连接方式。WK3260B前面板便捷键导航键本地菜单偏流2/4线控制键单次触发按下bias键，led亮，屏幕上方中央提示：单次触发单次/重复切换WK3260B后面板MAINMENU菜单阻抗模式校准下一页变压器模式绝缘阻抗模式分选模式自动测试编辑自动测试运行管理模式通讯变压器模式MAINMENU菜单多频率点曲线扫描模式退磁功能校准状态查看系统参数设置返回上一页谐振模式测试模式显示测试参数选择区便捷键直流电阻交流参数L/C/Z切换Q/D/R/Angle切换Series串联/Parallel并联切换等效电路/上下限设定切换设定的显示/隐藏IMPEDANCEMODE阻抗模式测试电压测试频率NORM/BOOST切换测试量程选择ALCON/OFF/HOLD切换*测试量程显示进入CALIBRATEMODE测试速度设定IMPEDANCEMODE阻抗模式•Parallel/Series是仪器提供的两种可供使用者选择的电路等效模式，由用户根据产品特性和测试需求进行选择，常见选择方式是电容Parallel，电感Series。•Range：1,2,3,4,5,6,7共七个测试量程。一般选择auto，即由仪器根据测试频率和元件阻抗自动选择。•Speed：四种速度可供选择，在Meas≥100HZ时Slow≈900ms提供最大测试精度,最大显示清晰度和最大测试干扰抑制能力。Med≈300ms提供最大测试精度。Fast≈100msMax≈40ms一般通过GPIB接自动分选机用。CALIBRATEMODE归零校准开路（初级）短路（初级）HF高频补偿仪器自校O/C&S/CTrim归零校准选项单频率点校准10KHZ以下校准100KHZ以下校准全频校准返回CALIBRATEMODE提示：*Spottrim，校准速度最快，但每调节一次频率就需要重新校准一次。*＜﹦10kHZ/＜﹦100kHZ，校准速度比Spottrim慢，比ALLfreq快，校准完成后在10kHZ以下/100kHZ以下调节频率不需要重新校准。*AllFreq，校准用时较长，校准完成后在仪器整个测量频率范围内任意调节频率都不要重新校准。*一般情况下，不拔下仪器或测试治具连接线及更换调整测试治具等，正常关机开机后不需要重新做归零校准，如果开机时出现“Settinglost…”提示，或开机后仪器出现“O/CTrimError”/“O/CTrimError等提示时，或感觉测试值异常时，或需要更精确测量时，请重新进行归零校准。HF高频补偿返回CALIBRATEMODE开始HF高频补偿提示：*HF高频补偿的作用是用来消除测试线的阻抗及杂散电感等对测试值的影响。*HF高频补偿必须在O/CTrim和S/CTrim归零校准通过后进行。*当测试时在LCD顶部看到“CalibrateError”提示，说明HF补偿未做或未通过，需重新校准。*HF高频补偿未通过的原因通常有O/CTrim和S/CTrim未做好（校准结果要很接近零），测试线及治具本身阻抗及杂散电感等超过仪器的补偿能力。SelfCalibration仪器自校•SelfCalibration用来消除仪器长期使用后内部元器件特性发生变化造成的精度下降问题，建议至少3个月做一次。•Self仪器自校注意事项：*当开机时仪器LCD提示“ToMaintainfullcalibrationaccuracy,theself-calibrateshouldberun…”时，必须在开机后做仪器自校。*仪器自校前需要取下BNC测试线。*仪器自校完成后重新连上BNC测试线依次进行O/C&S/C归零校准和HF高频补偿。恢复出厂默认值•恢复出厂默认值的方法：*按下“Menu”键进入“MAINMENU”*按下“Code”键，然后输入“9.1”（屏幕下方显示“code：9.1”）然后按下“Enter”键，等待至biason指示灯闪烁结束并且屏幕自动返回到“MAINMENU”*再次按下“Code”键，然后输入“9.2”（屏幕下方显示“code：9.2”），然后按下“Enter”，然后按下“Yes，doit”对应的便捷键，等待屏幕自动返回到“MAINMENU”*再次按下“Code”键，然后输入“9.3”（屏幕下方显示“code：9.3”），然后按下“Enter”，然后按下“Yes，doit”对应的便捷键，等待屏幕自动返回到“MAINMENU”，恢复出厂默认值结束•恢复出厂默认值后必须做Self仪器自校GRAPHMODE-Set曲线扫描模式-设定(一般用于产品特性分析或应用分析)返回CALIBRATEMODE返回MPEDANCEMODE查看扫描结果开始扫描主/次参数切换输入上下限方式：精确值/百分比Freq/Level/DCbias线性分布/对数分布扫描类型及开始/结束点Freq/Level/DCbias曲线清晰度调节以绝对值/中心值+百分比的形式设定参数的上下限GRAPHMODE曲线扫描模式-扫描结果用左右导航键移动“▼“位置查看其指示点的测试值“▼“指示位置测试值显示扫描条件显示返回GRAPHMODE-SetFUNCTION：打开隐藏的选项VIEW：隐藏选项FIT：自动调整扫描曲线TOGGLE：切换扫描参数波形RESONANCE：进入RESONANCEMODEPEAK：将“▼“自动移到曲线峰值DIP：将“▼“自动移到曲线谷值NOMMK：将“▼“处的值设定为GRAPHMODE-Set参数的中心值PRINT：将曲线用Epson-compatibleprinter输出（在MAINMENU使用Code30）CALSTATUS校准状态查看“×”未校准“√”已校准SETTINGS系统设置设置GPIB地址，默认值为6频率Coarse粗调Fine细调两线/四线测试方式切换单次测试/连续测试切换测量设定应用全部模式/当前模式自动退磁On/Off（仅singletrigger模式下可用）防磁化On/Off（仅singletrigger模式下可用）DELTAL饱和电流运算测试-开启选项Off：Norm/BoostOnStd：Norm/BoostOnMed：BoostOnMax：BoostDELTAL饱和电流运算测试-設定元件加DCBias/不加DCBias选项运算选项元件及运算项上/下限设定DELTAL饱和电流运算测试-运行元件Pass/Fail判定Pass/Fail判定MULTIBIAS多点饱和电流测试-开启MULTIBIAS–Set多点饱和电流测试-设定返回CALIBRATEMODE设定上下限的方式：关闭/绝对值/百分比删除排序返回MEASUREMENTMODE运行以绝对值/中心值+百分比的形式设定参数的上下限用导航键移动“▼“位置，设定饱和电流值MULTIBIAS–Run多点饱和电流测试-运行返回CALIBRATEMODE返回MEASUREMENTMODE返回MULTIBIAS–Set开始测试WK3260B测试精度图WK3260B+WK3265B连接图示-前面板红色DCbias旋钮对应黄橙BNC3260B+3265B连接图示-后面板谢谢