10kV电力电缆及附件抽检作业指导书

第1页共29页1、额定电压10kV交联聚乙烯绝缘电力电缆抽检检验项目标准要求检验器具检验方法检测结果备注(照片或相关文件)绝缘厚度测量电缆绝缘最薄点厚度≥标称值90%-0.1mm，偏心度≤8%GB/T12706.2—2008：17.5.2或依据业主技术协议要求。投影仪、测量显微镜试样制备：1.从样品切取一试验薄片试件用于测量平均厚度和最薄点厚度；2.用锋利刀具从样段上沿着与试样导体线芯轴线垂直的平面切取薄片一个；测试步骤：1.每一试片都必须进行焦距调节，使其处于最佳清晰状态；2.找出试片厚度的最薄点作为第一个测量点；3.每个试片测量6点，沿试片芯痕凹槽处圆周尽可能等距离测量6点。试验结果的计算：在电缆离端头25cm取1个试件测得6个数值的平均值（用mm表示），应计算到小数点后2位，取该值为厚度的平均值；GB/T2951.11-2008（1）环境温度：℃，相对湿度：%试验选用仪器：（2）绝缘最薄点厚度：mm偏心度：%结论：符合□不符合□非金属护套厚度测量1、非铠装和护套不直接包覆铠装、金属屏蔽或同心导体上的电缆，护套最薄点测量值≥标称值的85%-0.1mm；2、直接包覆在铠装、金属屏蔽或同心导体上的护套，其最小测量值应≥标称值的80%-0.2mm.隔离套最薄点厚度应≥标称值的80%-0.2mmGB/T12706.2—2008：17.5.3投影仪、测量显微镜（1）环境温度：℃，相对湿度：%试验选用仪器：（2）护套最薄点厚度：mm隔离套最薄点厚度：mm结论：符合□不符合□电缆结构检查（导体检查、铠装金属丝和金属带的测量、外径测量）导体根数不少于规定值。铠装金属带、圆金属丝、扁金属丝尺寸低于标称尺寸的量值分别应不超过10%、5%、8%。外径尺寸不考核。铠装钢带包带间隙应不大于钢带宽度的50%。铜带屏蔽搭盖率最小5%，铜带最小厚度应不小于标称值的90%。GB/T12706.2—2008：17.5，17.7千分尺、游标卡尺1.导体检查应采用适当的检验及测量方法来检查导体结构是否符合GB/T3956要求。2.导体结构2.1截面积为800ｍｍ2以下的导体采用符合GB/T3956的第2种紧压绞合圆形结构。2.2截面积为800ｍｍ2以上的导体采用分割导体结构；800ｍｍ2的导体可以采用紧压绞合圆形结构，也可以采用分割导体结构。2.3铜分割导体中的单线应不少于170根。2.4各种绞合导体不允许整芯或整股焊接。绞合导体中的单线允许焊接，但在同一层内,相邻两个接头之间的距离应不小于300ｍｍ。3导体表面应光洁、无油污、无损伤屏蔽及绝缘的毛刺、锐边以及凸起或断裂的单线。4铜丝屏蔽应由同心疏绕的软铜线组成，铜丝屏蔽层的表面上应有铜丝或铜带反向扎紧，相邻屏蔽铜丝的平均间隙G应不大于4ｍｍ。G由下式定义：G=[π（D+d）-nd]/n式中：D——铜丝屏蔽下的缆芯直径，ｍｍ；d——铜丝的直径，ｍｍ；n——铜丝的根数。铜丝屏蔽的截面积应能满足短路容量的要求。适用时，铜丝屏蔽的电阻测量值应符合GB/T3956规定；或者不大于制造厂标称值(当铜丝屏蔽的)截面积与GB/T3956推荐的系列截面积不同时)。5金属套屏蔽电缆采用铅套或铝套时，金属套可作为金属屏蔽。如铅套或铝套的厚度不能满足用户对短路容量的要求时，应采取增加金属套厚度或增加铜丝屏蔽的措施。GB/T12706.2—2008（1）环境温度：℃相对湿度：%试验选用仪器：仪器编号：（2）导体根数：根铠装层：——层数：层——厚度：mm——包带间隙/钢带宽度：%铜带屏蔽：——搭盖率：%——厚度：mm结论：符合□不符合□局部放电在1.73U0下无超过声明灵敏度（5pC或更优）的可测放电局部放电检测1试样制备1.1应按产品标准规定取短电缆试样。（1）环境温度：℃相对湿度：%第2页共29页试验GB/T12706.2—2008：18.1.4.仪、串联谐振试验系统1.2应仔细制作试验用电缆终端，以避免因终端产生的局部放电。2试验程序2.1短电缆试验2.1.1条件短电缆可认为与集中电容相似，对短电缆长度上的限制取决于所采用的试验回路，其实际数值可从GB/T3048.12中附录B的双脉冲曲线图确定，并定义为lk。当电缆两端连接在一起时，长度直至2lk也属于短电缆。2.1.2灵敏度检验校准器应并联于试样远离测试仪器的一端，由注入校准电量qcal和对应测出的偏转值a2，可计算出刻度系数k2(pC/mm)(k2=qcal/a2)和灵敏度qmin(pC)。qmin=2k2hn式中：hn——背景干扰偏转值，单位为毫米（mm）2.1.3试验步骤只需在试样的一端进行测量，用测得的偏转值A（mm）计算出放电量q（pC），即：q=k2A3注意事项3.1电缆终端的局部放电影响电缆本体局部放电测量准确度时，可采用任何合适方法加以消除。3.2测量前试样应先经过工频交流耐受电压试验（在试样上施加试验时所需的最高测试电压有效值，试样不应有任何异常现象），以免在进行局部放电试验发生击穿或闪络，损坏局部放点检测仪。3.3为了获取理想的双脉冲图，应选用具有a响应宽频带的局部放点检测仪。4试验记录4.1试验类型；4.2试样编号、试样型号、规格、长度；4.3试验日期、大气条件、试验时试样的温度；4.4试验回路、测试仪器信号、测试时的相关技术参数；4.5回路灵敏度校验和背景干扰值；4.6施加的试验电压的数值和局部放电量；4.7试验中的异常现象、处理和判断；4.8必要时的双脉冲图；4.9试验设备及其校准有效期；GB/T3048.12-2007试验选用仪器：仪器编号：（2）试验电压：kV背景噪声：pC局部放电量：A相pCB相pCC相pC结论：符合□不符合□第3页共29页电压试验在3.5U0下，持续5min不击穿GB/T12706.2—2008：18.1.8.高压测试系统1试样制备1.1试样的数量和长度应符合产品标准规定；1.2试样终端部分的长度和终端头的制备方法应能保证在规定的实验电压下不发生沿其表面闪络放电或内部击穿。2试验程序2.1试验方式，试样耐压试验的试验电压值和耐受电压时间按产品标准规定。2.2试验电压应施加在导体和金属屏蔽/金属套间逐渐地升到规定值。2.3试验要求2.3.1除非产品标准另有规定，试验应在（20±15）℃温度下进行。试验时，试样的温度与周围环境温度之差应不超过±3℃。2.3.2对试样施加电压时，应当从足够低的数值（不应超过产品标准所规定试验电压值的40%）开始，以防止操作瞬变过程而引起的过电压影响；然后应缓慢地升高电压，以便能在仪表上准确读数，但也不能升得太慢，以免造成在接近试验电压时耐压时间过长。2.3.3保持试验电压至规定时间后，降低电压至试验电压值的40%，然后再切断电源。”3试验结果及评定3.1试样在施加所规定的试验电压和持续时间内无任何击穿现象，则可认为该试样通过耐受工频电压试验。3.2试验中如发生异常现象，应判断是否属于“假击穿”。假击穿现象应予排除，并重新试验。只有当试样不可能再次耐受相同电压值的试验时，则应认为试样已击穿。3.3如果在试验过程，试样的试验终端发生沿其表面闪络放电或内部击穿，允许另做试验终端，并重复进行试验。GB/T3048.8-2007（1）环境温度：℃相对湿度：%试验选用仪器：仪器编号：（2）试验电压：kV试验时间：hA相试验是否通过：B相试验是否通过：C相试验是否通过：不通过时，记录异常情况结论：符合□不符合□弯曲试验及随后的局部放电试验[弯曲直径：15（D+d）±5%]正反弯曲三次，随后的局部放电试验放电量（1.73U0下）不超过声明灵敏度（5pC或更优）的可测放电GB/T12706.2—2008：18.1.4.局部放电检测仪、串联谐振试验系统、电缆弯曲试验机1弯曲试验电缆试样应在环境温度下围绕试验用圆柱体(例如电缆盘的筒体)弯曲至少一整圈，然后展直，再在反方向弯曲一整圈，如此作为一个循环。这样的弯曲循环共应进行三次试验用圆柱体直径应不大于——36(+D)+5%,平铝套电缆；——25(+D)+5%,铅、铅合金、皱纹金属套或金属塑料复合护层电缆；——20(+D)+5%,其他电缆，这里——导体标称直径，mm；D——电缆标称直径，mm。2、弯曲试验结束后，电缆应立即进行局部放电试验并应符合GB/T12706.2-2008:18.1.4要求，试验方法参考第3页局放试验方法。GB/T3048.8，12—2007（1）环境温度：℃，相对湿度：%试验选用仪器：仪器编号：（2）弯曲直径：mm，正反弯曲次数：次（3）试验电压：kV，背景噪声：pC局部放电量：A相pC，B相pCC相pC结论：符合□不符合□第4页共29页导体电阻测量值应按GB/T3956给出的公式和系数校正到温度为20℃，长度为1km的数值，所得计算值应不超过GB/T3956规定的相应的最大值GB/T12706.2—2008：16.2双臂直流电桥、通用导体电阻夹具测试要点：1、试样在接入测量系统前，预先清洁其连接部位的导体表面，去除附着物、污垢，连接处表面的氧化层应尽除尽；2、在试验环境中放置足够长时间最好在密封性好的房间，选择一支精密温度计和一支数字式温湿度计。两温度计离夹具和试样不超过0.5米，且两者基本在同一高度；3、对各测量关键配套标准电阻、直流稳流器和检流计等作好功能性检查；4、施加电流应不大于1.0A/mm2，正反各测量一次。试验环境要求：1、在试验环境中放置足够长时间；2、最好在密封性好的房间，温度：15-35℃，湿度不大于85%；3、准备两支精密玻璃温度计和点温计（观察施加电流后导体的温升）。GB/T3048.4-2007（1）环境温度：℃相对湿度：%试验选用仪器：仪器编号：（2）导体直流电阻(20℃)：A相Ω/kmB相Ω/kmC相Ω/km结论：符合□不符合□tgδ测量将导体加热达到95℃至100℃之间的一个稳定温度，在2KV下，tgδ测量值应不大于0.0080GB/T12706.2—2008：18.1.2高压电桥、串联谐振试验系统、标准电容器1试样制备1.1应按产品标准规定选取试样的长度，但不得小于4m。1.2试样终端部分的长度和终端的制备方法，应能保证在规定的最高测试电压下不发生沿其表面闪络放电或内部击穿。1.3被测试样的端部切开保护环，并将保护环接地。1.4试样测量极对地应具有一定电阻值。1.5交联聚乙烯绝缘电力电缆可采用脱离子水终。这时终端制备（包括开保护环）应按其技术说明书的规定进行。2试验程序2.1除产品标准中另有规定外，应按下列方式接线：2.1.1单芯电缆，应将导体接高压端，金属套、屏蔽或附加电极接测量极；2.1.2分相铅套电缆，应依次将每一线芯接高压端，其他线芯相互连接并与金属套、屏蔽一起接至测量极；2.1.3多芯电缆，应依次将每一线芯接高压端，其他线芯相互连接并接至测量极；或每一线芯接高压极，其他线芯相互连接并与金属套、屏蔽一起接至测量极。2.2除产品标准另有规定外，试验一般均应在（20±15）℃的环境温度下进行。试样的温度与周围环境温度之差应不超过±3℃。2.3按产品标准要求在规定的试验温度下测量tanδ值时，可采用各种方法测量试样温度，但测量值与标准规定之差不超过±3℃。2.4测量时应从较低值（不应超过产品所规定的测试电压值的40%）开始将电压缓慢平稳地升至规定的试验电压（电压偏差应不超过规定值的±3%），然后进行电桥平衡（检流计灵敏度应从最低值开始）。测量结束后，将检流计灵敏度调至最低值，并应迅速降压至低于所规定的试验电压的40%，然后在切断电源。3试验结果及计算3.1按试验所采用测量电桥的型式，直接读数或计算试样的tanδ值。3.2按试验所采用测量电桥的型式，直接读数或计算试样的电容值。GB/T3048.11-2007（1）环境温度：℃相对湿度：%试验选用仪器：仪器编号：（2）导体温度：℃试验电压：kVtanδ：A相B相C相结论：符合□不符合□第5页共29页热循环试验及随后的局部放电试验加热循环20次后，随后的局部放电试验：1.73U0下，无超过声明试验灵敏度（5pC或更优）的可检测到的放电。GB/T12706