X-s控制图初始研究表格1

制造工序：特性：量具：日期子组12345678910111213141516171819202122232425UCLX=LCLX=UCLs=LCLs=X中心值=s中心值=测量值X-s控制图判异准则①1个点落距离在控制限以外②连续7点在中心线同一侧④明显的非随机图形③连续7点上升或下降过程标准差σCPK整体标准差sPPK结束时间：Q-F-52-1-1规格上限：规格下限：记录人：量具编号：规格中心值：X-s控制图初始研究产品名称：产品品名：检测工序：频率：开始时间：计算控制限0.0000.1000.2000.3000.4000.5000.6000.7000.8000.9001.00012345678910111213141516171819202122232425X图X值中心线上限下限0.0000.1000.2000.3000.4000.5000.6000.7000.8000.9001.00012345678910111213141516171819202122232425s图s值中心线上限下限00.10.20.30.40.50.60.70.80.9100.10.20.30.40.50.60.70.80.91直方图计算过程能力序号发生时间异常情况异常原因分析改善措施完成时间责任人效果确认备注控制图异常记录表Q-F-52-4首先分析显著少于2/3以下的描点落在离R很近的区域（对于25个子组，如果有40%或少于40%的点落在中间三分之一的区域（C区内））极差图分析一般地，大约2/3的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内（C区内），大约1/3的点落在其他的三分之二的区域（A、B区内）。注：当极差受统计控制时，则认为过程的分布宽度：子组内的变差是稳定的。然后应对均值图进行分析看看在此期间过程的位置是否改变。点超出控制限连续7点位于中心线的一侧/连续7点上升（后点等于或大于前点）或下降明显的非随机图形点超出上控制限点超出下控制限连续7点位于中心线上侧或连续7点上升连续7点位于中心线下侧或连续7点下降显著多于2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25个子组，如果超过90%的点落在控制限1/3的区域（C区内））然后分析超出任一控制限显著超过2/3的点落在过程平均值的附近（对于25个子组的情况，如果有90%多的点在控制限1/3的中间区域（C区内））显著少于2/3的数据点落在过程平均值的附近（对于25个分组的情况，如果有40%或少于40%的数据落在中间1/3区域内（C区内））均值图分析一般情况下，大约2/3的描点应落在控制限1/3的在中间区域内（C区内），大约1/3的点落在其它2/3的区域（A、B区内）；1/20的点应落在控制限较近之处（A区内）。点超出控制限连续7点位于中心线的一侧/连续7点上升（后点等于或大于前点）或下降明显的非随机图形1.控制限计算错误或描点错误、数据录入错误2.零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏），这种增大可以发生在某个时间点上，也可能是整个趋势的一部分3.测量系统变化（例如：不同的检验员和量具）4.测量系统没有适当的分辨力1.控制限计算错误或描点错误、数据录入错误2.零件间的变化性或分布的宽度变小（即变好）3.测量系统变化（包括对数据编辑或变换）1.输出值的分布宽度增加，其原因可能是无规律的（例如设备工作不正常或固定松动）或是由于过程中的某个要素变化（例如：使用新的不是很一致的原材料），这些都是常见的问题，需要纠正2.测量系统变化（例如：不同的检验员和量具）1.输出值分布宽度减小，这常常是一个好状态，应研究以便推广应用和改进过程2.测量系统变化1.控制限或描点已计算错或描错2.过程或取样方法被分层：每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值3.数据已经被编辑（极差与均值相差甚远的几个子组被更改或剔除）1.控制限或描点计算错或描错2.过程或抽样方法造成连续的分组中包含从两个或多个具有明显不同的变化性的过程流的测量值（例如：输入材料批次混淆）极差图分析一般地，大约2/3的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内（C区内），大约1/3的点落在其他的三分之二的区域（A、B区内）。注：当极差受统计控制时，则认为过程的分布宽度：子组内的变差是稳定的。然后应对均值图进行分析看看在此期间过程的位置是否改变。1.控制限计算错误或描点错误、数据录入错误2.过程已改变，或是在当时的那一点（可能是一件独立的事件）或是一种趋势的一部分3.测量系统变化（例如：不同的检验员和量具）1.过程均值已改变——也许还在变化2.测量系统变化（偏差、灵敏度等）1.控制限或描点已计算错或描错或重新计算错2.过程或取样方法分层；每个子组包含从两个或多个具有不同均值的过程流的测量值3.数据已被编辑1.控制限或描点计算错或描错2.过程或抽样方法造成连续的子组中包含从两个或多个不同过程流的测量值。（这可能是由于对可调整的过程进行过度控制造成的，这里过程改变是对过程数据中随机波动的响应）均值图分析一般情况下，大约2/3的描点应落在控制限1/3的在中间区域内（C区内），大约1/3的点落在其它2/3的区域（A、B区内）；1/20的点应落在控制限较近之处（A区内）。