光耦检验规范

项目作业规范名称光电耦合器检验规范版次01页次1/31目的:对光电耦合器样品零件进行规格及性能测试,使其能达到工程设计及生产之质量需求.2.测试项目:(检查前必须先戴上静电带)2.1.外观:2.1.1测试工具:目视﹑静电带2.1.2测试方法:在自然光线下,把光电耦合器放在距离眼睛10cm~20cm处正视.a.表面的丝印标记应清晰正确且符合样板和承认书规格。b.表面应无崩缺、无裂痕，光耦的引脚应无变形、无粘杂物、无氧化、无生锈。2.1.3判定:无以上不良为合格.2.2.尺寸:2.2.1测试工具:光标卡尺(精确度0.02mm)静电带﹑镊子2.2.2步骤:对所测试样品的长、宽、高、管脚大小及管脚间距进行测量.2.2.3判定:实测尺寸值符合工程设计要求且与承认书相符为合格.通用型(無基極引纖);通用型(有基極引纖);(達林頓型;(高速型;(光集成電路;(光纖型;(光敏晶閘管型;(光敏場效應管上圖為光耦合器的分類及內部電路2.3.耐温测试:2.3.1测试工具:静电带﹑电锡炉﹑镊子2.3.2测试方法:取待测试样品进行测试,将电锡炉温度调至260±20℃,将光电耦合器引脚放入电锡炉加热3~~5秒钟.2.3.3判定:表面无裂痕,无碳化,引脚无松动判定为合格.2.4基本功能测试:2.4.1测试工具:静电带、万用表.2.4.2测试方法:核准审核制定日期文件编号:WI-02-009文件编号:WI-02-009项目作业规范名称光电耦合器检验规范版次01页次2/32.4.2.1(基本测试)a.用万用表R*100(或R*1K)档测量发射管的正﹑反向电阻,应呈单向导电性;再测量发射管的正向压降.(具体测试方法参见二极管检验规范2.3.2.a.b)b.对于无基极引纤的光电耦合器,需测量C-E极间电阻为无穷大,即穿透电流Iceo=0.对于有基极引纤的光耦还应分别测量接收管的集电极与发射结正.反向电阻,均应单向道通.(具体测试方法参见三极管检验规范2.3.2.)c.用R*10K档检查发射管与接收管的绝缘电阻应为无穷大.(此步骤可用高压AC5000V测试取代)2.4.2.2(CTR电流传输比)测试工具要求:静电带、万用表两块(需选同一型号).公式1.1CTR=(Ic/If)×100%(Ic为输入电流.If为输出电流.)如下图:表表a.设表A﹑表B代表两块万用表,均拔至R*100檔,电流比例系数分别为K1.K2.被测光电耦合器为PC817型.先不接表A,只将表B的黑表毕接第4脚,红表毕接第3脚,因接收管呈截止状态,故电阻读数为无穷大.然后接上表A,其黑表毕接1脚,红表毕接2脚.此时观察到表B的读数从无穷大迅速减小到几百欧,说明接收管已导通.在同样测试条件下(测试环境不变),指针偏转角度愈大,证明光电耦合器的CTR值愈高.设测量时表A.表B的正向偏转格数分别为n1.n2,利用测负载电流法得到:If=K1n1,Ic=K2n2,代入公式1.1中CTR=(Ic/If)×100%=(K2n2/K1n1)×100%式1.2若选用同一型号的两块万用表且均置于R*100檔,则并不需要求出Ic.If之值,只要记下表A.表B在测量时的偏转格数n1.n2,就能迅速﹑准确地计算CTR值.b.根据承认书和工程设计要求的CTR值作为标准.2.4.2.3对于除2.2图中(a)以外的光电耦合器其它功能请参见相关检验规范.2.4.3判定:测试产品性能符合承认书和工程设计要求判定合格核准审核制定日期文件编号:WI-02-009项目作业规范名称光电耦合器检验规范版次01页次3/32.5.电气性能测试:2.5.1测试工具:与之相对应的PCB成品板、静电带2.5.2测试步骤:根据工程设计要求和电路所具有的相应功能进行判定.2.5.3判定:相应功能符合工程设计要求且与承认书相符为合格核准审核制定日期