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11.启动exceed;2.启动C:\ISE\BIN\GENESISEe,也可为其添加一个快捷方式。3.启动后,出现窗口如图2。图1启动exceed图2ISE7.0启动界面2图3ISE7.0启动界面4.打开ISEproject窗口(双击project图标,左上角),在左边树状图中单击Example_Library_7.0.lnk,NMOS,选中Id_Vd_curves,单击工具栏中的复制图标(下图第三个图标),弹出窗口如图4所示,点击“YesAll”,“Id_Vd_curves”就被复制到“COPYED_OBJECT_【计算机名】”目录下了,此时会在根目录下新建一个文件夹。(如图6)图4点击yes图5工具栏3图6复制后的Id_Vd_curves,第一个文件夹为新建文件夹5.选中复制出来的文件,单击工具栏地7个图标(工具栏见图二)激活文件。激活后文为黄色。(见图6)6.关闭上图窗口6,双击主窗口左边第二个图标“Status”,出现子窗口如图7所示。该窗口右边有9个按钮,其中“edit”配置器件结构的描述、模拟过程、结果显示等所有输入文件,“Runall”即开始模拟,“Abort”可以中断模拟。“Deselect”取消该工程的激活状态,等等。图7Status窗口6.点击cleanerup按钮,出现如下图弹出窗口,点击ok。文件变为绿色。4图8cleanup窗口7.点击edit文件周围会出现一个黑框。此时进入“Id_Vd_curves”工程的修改状态。图9激活后的文件7.双击主窗口左边的“ToolFlow”图标,出现工具使用流程窗口,如图8所示。该窗口左边显示了本工程使用的工具和使用流程,右边是本集成环境可以使用的工具,我们可以把右边的工具拖入到左边的流程中,完成自己的设计。“Id_Vd_curves”这个工程使用了三个工具,另外设置了一个全局参数。该工程的模拟流程为:MDraw把输入的器件二维剖面结构调用Mesh工具产生模拟用的离散化网格,然后Dessis模拟器件的工作,统计数据,得到电流、电场等结果,最后用Inspect把模拟结果用曲线图显示出来,另外也可以用picasso来观察器件内部的电场、电流分布等情况。5图10toolflow窗口8.先选中左侧流程图中的mydraw图标,在点击toolsflow菜单栏中的的edit,出现下拉菜单。图11选中input选项9.选中input项,此时会出现如下窗口。6图12选中boundary选项10.选中boundary项启动mydraw窗口。图13mydraw启动窗口711.可以同时启动两个mydraw窗口,以便借鉴例子的参数。12.点击mydraw窗口菜单栏file项选择new选项,新建一个文件。图14新建文件8图15新建的文件13.新建后右边作图区清空,我们重新画一个NMOS的二维截面图。画硅基MOS器件的流程一般是:A.作出器件所在的体(单晶硅);B.作出栅极下的二氧化硅层;C.作出栅极(多晶硅);D.作出各个接触点(contact);E.作出表面上方的硅绝缘层(可省略);F.对各个区域掺杂。14.选择要画的区域使用的材料。点击菜单上的“material”,会弹出很多材料供选择,点击其中的“Silicon”,选择器件所在的体为单晶硅,如图16所示。9图16材料选择15.选择左上按钮中的“AddRectangle”,画体硅矩形(如图16)。为了精确定义体硅区域,我们选中左下选项中的“ExactCoordinates”,如图17所示。10图17精确画图16.在右边作图区任意拖一个框,此时弹出一个对话框,它会让你填写你所画矩形的精确信息,填写内容如图18所示。我们可以将边界坐标定义为区域需要的尺寸大小。11图18衬底尺寸设置17.确定后,作图区出现体硅的图形,如图19所示。图19衬底截面图18.如果产生的图形位置不便于观察,可以选中左边的“Zoom”按钮放大观察,也可以点击其下面的“ZoomOut”按钮缩小观察。如果图形位置不正,可以点击菜单中“View”-“ZoomReset”,图形会自动调整到最佳观察位置。如果产生的图形不合适,可以选中左边的“Delete”按钮,然后再单击作图区中的图形块就可以将该块删除。如果想修改区域边界,选中左边的“MovePoint”按钮,并确保“ExactCoordinates”项选中。此时将鼠标放在一个边界点上,就会弹出一个对话框(如图20),此时可以修改该点坐标,修改后区域形状也随之变化。12如果想作多边形,选中左边的“Multiline”按钮,在右边作图区拖出多边形各条边即可。如果材料选错且已经作好了图形,可以选中左边的“ChangeMaterial”按钮,在菜单上的“Material”中重新选择材料,然后用鼠标点中想要改变材料的区域,此区域的材料就被替换了。19.作出体硅区域后,接着用上述同样的方法作出栅极下的SiO2和多晶硅栅极,不妨将SiO2边界坐标设为Left3.5Right6.5TOP-0.8Bottom0,多晶硅边界坐标设为(Left3.5Right6.5TOP-0.8Bottom-0.5如图所示。图20SiO2尺寸设置图21多晶硅尺寸设置13图22做好SiO2和多晶硅的截面图20.添加接触点(Contact)作为器件对外的接口电极。点击坐标的“AddContact”按钮,弹出一个对话框,将此Contact取名为“substrate”,如图23所示。21.选中“Set/UnsetContact”按钮,将鼠标放在衬底的表面点一下,可以看见一根红线添加到了衬底表面,这样就完成了衬底接触点的添加如图24所示。图23添加substrat接触点14图24添加substrat接触点后的结构图图25添加source接触点15图26添加source接触点后的结构图图27添加source接触点后的图1622.如果想在器件上去掉这个contact,确保坐标下拉框中选择了要去掉的contact,然后选中“Set/UnsetContact”按钮,再用鼠标点一下作图区的该contact即可去掉。23.如果觉得该contact接触面太大,想缩小长度,首先去掉该contact,然后选中左边的“AddPoint”按钮,在源区表面点出两个点,再在这两个点之间放置该contact即可,如图24所示。选中“ExactCoordinates”项同样可以精确确定这两个点的坐标。依照上面的方法,我们在栅极上放置“gate”接触点作为栅电极,在衬底下边沿放置“drain”接触点作为漏电极。图28添加gate接触点图29添加drain接触点图30添加接触点后的结构图24.点击MDraw左下角的“Doping”项,就可以进入掺杂和建立网格视图(图31)。如果还想返回上一步修改结构,可以点“Doping”项上面的“Boundary”项返回结构视图。我们需要掺杂产生沟道、源区、漏区,参照“Id_Vd_curves”的掺杂参数,掺杂步骤为:A.衬底掺杂:掺硼,浓度2×1017B.沟道掺杂:掺磷,浓度1×1017C.源区掺杂:掺磷,浓度5×1019E.漏区掺杂:掺磷,浓度5×1019掺杂视图中左上角有两个按钮,分别是“AddAnalyticalP.”和“addConstantP.”。第一个按钮是为扩散或注入掺杂准备的,主要用于制作源、漏和沟道,使用的时候是用鼠标拖17一根线,杂质就会在这根线的单边或双边按一定的衰减分布。第二个按钮是为在外延时就混合杂质准备的,主要用于制作掺杂的衬底。图31进入掺杂和建立网格视图25.进行衬底掺杂。衬底的杂质是制作基片或者外延时就生长的,所以选中“addConstantP.”。确保左边的“ExactCoordinates”项选中,然后按住鼠标在作图区随便拖一个框,松开鼠标时会弹出一个对话框,我们填好具体掺杂区域的材料、边界坐标和浓度,为该掺杂取名“substrate”,如图32所示。18图32衬底掺杂参数设置26.进行沟道掺杂。沟道的杂质是扩散进入体硅的。在NMOS中,沟道掺杂在制作好栅极之后,沟道杂质是通过掺入源区的杂质横向扩散到栅极下面形成的,因此选中“AddAnalyticalP.”按钮。确保左边的“ExactCoordinates”项选中,然后按住鼠标在作图区随便拖一条线,松开鼠标时会弹出一个对话框,我们填好杂质材料、源区掺杂表面的坐标(线的起点和终点坐标,注意要为后面的衬底接触掺杂留一定距离)、掺杂浓度、掺杂深度因子(standarddeviation)和横向扩散因子(lateralfactor),为该掺杂取名“channel”,如图28所示。注意,掺杂深度因子和横向扩散因子需参照mannual中计算并填写,也可以先设一个粗略值,等产生网格图像后,根据图像显示再调整。19图33沟道掺杂参数设置27.根据上面方法,完成其它两种掺杂,掺杂配置分别如图34,35所示。最后得到结果如图36。注意,给源区掺杂掺杂时,深度和横向扩散长度适当减小,以免遮盖了沟道区。20图34源区掺杂参数设置21图35漏区掺杂参数设置22图36掺杂完成后的结构图27.掺杂完成后,按左边的“BuildMesh”按钮产生离散化网格,同时还能看到掺杂效果,如图37所示。这时我们发现,产生的网格和掺杂似乎谁都不认识。这是因为没有定义好离散化网格在器件各个区域的格子大小造成的。图37加入离散化网格的结构图2328.选中左边的“AddRefinement”按钮,确保左边的“ExactCoordinates”项选中,然后按住鼠标在作图区随便拖一个框,松开鼠标时会弹出配置网格的对话框,就可以设置网格大小在某个区域的最大值和最小值,同时指定该区域的范围。一般来说,掺杂比较复杂的区域就应该是格子比较细小的地方,所以我们可以将源、漏、沟道区的格子设置较小,如图38所示。我们还可以根据需要添加多个相同或不同区域的网格大小配置。图38配置网格对话框29.设置好格子大小后,再“BuildMesh”一次,图中红色区域为N型掺杂,蓝色区域为P型掺杂,颜色越浓掺杂浓度也越高。可以选中左边的“ShowPalette”项查看图例。24图39加入精确网格后的结构图30.保存文件。点击mydraw菜单中的file菜单,选择saveall。会出现图40窗口。图40保存文件25图41命名文件31.在fiter下的框中*后加上mdr。单击左侧选中第二项进行同样修改,点击ok。弹出如下窗口。图42文件保存32.点击yes。完成后点dissmiss。文件保存在默认文件夹30.关闭toolflow窗口,双击statues图标,点击cleaneup图标进行清楚,再激活文件,点击process图标,若有错误,则文件夹变红。26图43Process进行中31.完成后若无错误,点击runall按钮,出现如下窗口点击yse,等待一段时间后会自动绘制Id—Vd曲线。结果如图46。到此一个NMOS就完成了。图44绘制I-V曲线27图45runall进行中图46Id-Vd曲线28注:1.若中途发现结构上有错误,可以点击maydraw左边的“Doping”项上面的“Boundary”项返回结构视图。图47返回结构设计2.若不想改变掺杂,则按以下步骤进行。1).点击doping。进入掺杂界面。图48掺杂界面292).点击flie选项,选择includecommendfile选项。图49选择文件3).选择mdr.Cmd点击ok,若没有,点击ok,再点击cancl,在次打开即可。图50选择文件4).选中mdr.cmd文件,。点击ok即可。5).若掺杂后图像为白色,点击showrefinement使其处于非选中状态即可。30图51加载掺杂文件后体区为白色图52showrefinement处于非选中状态时体区状态316).然后再重新布网格即可。3.修改掺杂项图51修改掺杂项1).选择上图view——listofprofiles选项出现如下窗口。图52修改掺杂参数2).选择需要修改的选项,点击edit即可修改。3).修改后点击ok,然后buildmes
本文标题:NMOS器件制作流程
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