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TIME®2132/2134超声波测厚仪使用说明书(V20161009)京制01080383号2015L5-11北京时代之峰科技有限公司目录1概述...................................................................................................................-1-2性能范围...........................................................................................................-4-3测量与操作.......................................................................................................-5-4测量技术.........................................................................................................-19-5测量误差的预防方法.....................................................................................-23-6注意事项.........................................................................................................-25-7维修.................................................................................................................-26-8用户须知.........................................................................................................-27-附表1.....................................................................................................................-28--1-1概述1.1适用范围TIME®2132/2134超声波测厚仪采用超声波测量原理,适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。此仪器可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。1.2基本原理超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。1.3基本配置及仪器各部分名称1.3.1基本配置主机1台5MHz探头1支ZW5P高温探头1支(仅TIME®2132配)TSTU32高功率探头1支(仅TIME®2134配)耦合剂1瓶主机保护套1个1.3.2选购件标准试块-2-1.3.3仪器各部分及名称(见下图)注:此图为TIME®2132的示意图。-3-液晶屏显示F1(或FILE1):存储测量值的文件号5M:探头类型MENU:菜单凸:耦合标志BATT:低电压标志MIN:最小捕捉标志HIGH(LOW):增益指示键盘功能说明ON------开机键OFF------关机键MODE------功能选择键MEM------存储键VEL------声速键ENTER------二点校准;配合功能键操作使用------声速、厚度调整;菜单光标移动键------声速、厚度调整;菜单光标移动键------背光FILE15MHZMENU5900m/s凸BATTMINHIGH-4-2性能范围测量范围:1.2mm~225.0mm显示分辨率:0.1mm示值误差:±(0.1+1%H)mm,其中H为标准厚度块的实际值。管材的测量下限(钢):Φ20mm×3.0mm(5MHz探头)示值误差不超过±0.1mm。声速调节范围:1000m/s~9999m/s使用环境温度:0℃~40℃电源:二节5号干电池功耗:最大工作电流不超过20mA(3V不带背光)外形尺寸:152mm×74mm×35mm重量:370g左右本仪器技术性能符合国家计量技术规范JJF1126的要求及企业标准Q/HDSDF0001的要求。-5-3测量与操作3.1测量准备1)将探头插头插入主机探头插座。2)按住ON键直到屏幕出现显示,屏幕显示过程如下图所示:设定探头频率按MODE键移动光标至下图位置,按ENTER键改变设定值。屏幕显示过程如下图所示:每按一次ENTER键将依次显示5M、ZW5P(TIME®2132)/H2M(TIME®2134),直到所需要的探头频率。3.2声速调整如果当前屏幕显示为厚度值,按VEL键进入声速状态,屏幕将显示当前声速存储单元的内容。每按一次,FILE1ZW5PMENU5900m/sHIGHFILE15MHZMENU5900m/sHIGHPresszerokeyHIGHFILE15MHZMENU5900m/sHIGHTIMEGroupInc.TIME2132Version1.00SN:AG2900000001PresszerokeyHIGH-6-声速存储单元变化一次,可循环显示五个声速值。如果希望改变当前显示声速单元的内容,用或键调整到期望值即可,同时将此值存入该单元。3.3测量厚度先设置好声速,然后将耦合剂涂于被测处,将探头与被测材料耦合即可测量,屏幕将显示被测材料厚度,拿开探头后,厚度值保持,耦合标志消失。如图:说明:当探头与被测材料耦合时,显示耦合标志。如果耦合标志闪烁或不出现说明耦合不好。3.4测量声速如果希望测量某种材料的声速,可利用已知厚度试块测量声速。先用游标卡尺或千分尺测量试块,准确读取厚度值。将探头与已知厚度试块耦合,直到显示出一厚度值,拿开探头后,用或键将显示值调整到实际厚度值,然后按VEL键即可显示出被测声速,同时该声速被存入当前声速存储单元,声速测量必须选择足够厚度的测试块,推荐最小壁厚为20.0mm,进行声速测量时应关闭最小值捕捉和二点校准功能。FILE15MHZMENU20.05mmHIGHPresszerokeyHIGHFILE15MHZMENU20.05mm凸HIGHPresszerokeyHIGHFILE15MHZMENU5910m/sHIGHPresszerokeyHIGHFILE15MHZMENU5900m/sHIGHPresszerokeyHIGH-7-例:若测量厚度为20.0mm材料的声速,操作如下:a.任选一个声速测量,测出某一厚度值如图:b.用或键将显示值调整到20.00mm,如图:c.按VEL键显示出被测声速,显示如图:3.5接收增益设置两种接收增益选择,LOW(低增益)、HIGH(高增益)。增益LOW档主要用于测量散射大、声吸收小的粗晶FILE15MHZMENU6368m/sHIGHFILE15MHZMENU20.00mmHIGHFILE15MHZMENU18.30mmHIGH-8-材料如:铸铝、铸铜等金属铸件。设置步骤如下:a.按MODE键将光标移至菜单(MENU)如图:b.按ENTER键进入主菜单,用或键移动光标至系统设置(Systemsetup)如图:c.按ENTER键进入Systemsetup菜单如图:Unit:METRICGain:HIGHMincapture:OFF[ENTER]toselect↓todownSystemsetupFunctionsetup[ENTER]toselect↓todownFILE15MHZMENU5900m/sHIGH-9-d.按↑或↓键移动光标至Gain设置,如图:e.用ENTER键可选择LOW或HIGH,如图:f.按VEL键可退出设置如图,按MODE键可退到上层菜单。在以上设置过程中若进行测量可随时进入测量状态。FILE15MHZMENU5900m/sHIGHUnit:METRICGain:LOWMincapture:OFF[ENTER]toselect↓todownUnit:METRICGain:HIGHMincapture:OFF[ENTER]toselect↓todown-10-3.6设置测量单位仪器有两种测量单位可以选择,分别为米制和英制,可通过菜单选择,设置步骤如下:a.按3.5中a-c步骤进入如下界面,b.按ENTER键循环显示METRIC(米制)和IMPERIAL(英制)如图:按MODE键可退到上层菜单,按VEL键或进行测量退出当前设置状态。3.7最小测量值捕捉最小测量值捕捉是捕捉一组测量值中最小的数值。当探头与工件耦合时,显示实际测量值,当探头抬起时,显示刚才测量中的最小值,并且最小值标志MIN闪烁几秒,如果在MIN闪烁期间继续测量,前面的测量值将继续参加最小值捕捉,MIN停止闪烁后再进行测量,重新进行最小测量值捕捉,最小测量值捕捉的设置如下:Unit:IMPERIALGain:HIGHMincapture:OFF[ENTER]toselect↓todownUnit:METRICGain:HIGHMincapture:OFF[ENTER]toselect↓todown-11-a.按按3.5中a-c步骤进入如下界面,b.按或键选择Mincapture,如图:c.按ENTER键循环显示ON(打开最小测量值捕捉功能)、OFF(关闭最小测量值捕捉功能)。当打开最小测量值捕捉功能时,退出设置后显示屏上有MIN指示。按MODE键可退到上层菜单,按VEL键或进行测量,退出设置状态。3.8二点校准选择与被测物的材料、声速及曲率相同的两个标准试块,其中一个试块的厚度等于或略高于测量范围的上限,另一个试块的厚度尽可能接近测量范围的下限,进行二点校准可以提高测量精度,进行二点校准之前应先关闭最小值捕捉功能,选择功能设置菜单(Functionsetup)中的删除校准值(EraseCALdata)功能,删除以前的校准Unit:METRICGain:HIGHMincapture:OFF[ENTER]toselect↓todownUnit:METRICGain:HIGHMincapture:OFF[ENTER]toselect↓todown-12-值,然后将二点校准功能打开。二点校准操作步骤如下:a.按3.5中a-c操作,并用或键移动光标选择2-PointCALb.按ENTER键循环显示ON(打开二点校准)、OFF(关闭二点校准)。如果二点校准被设置为ON,在测量状态可随时进行二点校准。按VEL键或进行一次测量可退出设置界面。c.在较薄的试块上进行第一次测量,厚度显示状态按ENTER键进入二点校准,屏幕提示校准薄块,显示如图:d.用或键将测量值调整到标准值,然后按ENTER键,屏幕提示校准厚块,如图:FILE15MHZMENUThinCalibration2.89mmHIGHGain:HIGHMincapture:OFF2-PointCAL:OFF[ENTER]toselect↑toup↓todown-13-e.测量厚的标准试块,用或键将测量值调整到标准值,然后按ENTER键,完成校准操作,即可进行测量状态。测量管材时,由于声阻抗的匹配和耦合的情况会影响测量误差,为了准确测量管材的厚度,在测量管材时最好选择与被测物的材料、声速及曲率相同的两个标准试块进行二点校准。3.9厚度值存储,查看和
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