无损检测工艺规程

锅炉维修工程工艺规程汇编版次：01修改码：0受控：2010-04-01发布2010-04-06实施Xxx2无损检测工艺规程编制：xx审核：xx批准：xxxx3目录一、射线检测1.适用范围2.引用标准3.检测人员4.防护5.设备、器材和材料6.胶片处理7.底片质量8.评片室和观片灯9.受检部位的表面准备10.检测技术等级选择11.透照布置12.射线源到工件表面的最小距离13.暴光量14.暗室处理15.底片的评定16.焊缝质量分级17.射线照相检测报告及底片的存档附录A暗室安全操作规程二、超声波检测1.适用范围2.引用标准3.检测人员4.仪器、探头和试块5.检测的一般方法6.系统校准和复核47.初始检验8.规定检验9.缺陷评定10.检验结果的等级分类11.检测记录及报告三、磁粉检测1.适用范围2.引用标准3.检测人员4.设备、工具和材料5.磁化技术6.检测程序及要求7.磁痕的评定8.质量分级9.复验10.检测记录及报告四、渗透检测1.适用范围2.引用标准3.检测人员4.设备、工具和材料5.渗透检测方法6.渗透检测基本程序7.渗透检测操作方法8.观察9.复验10.后清洗11.显示记录12.渗透显示的分类和记录及质量分级13.检测记录及报告5一、射线检测1.适用范围本规程适用于我公司安装和维修工程中射线检测操作。2.引用标准JB4730—2005《承压设备无损检测》GB4792《射线卫生防护基本标准》3.检测人员3.1检测人员必须经过技术培训，按《特种设备无损检测人员资格考核与监督管理规则》取得与其工作相适应的资格证书。3.2检测人员应每年检查一次视力，校正视力≮1.0。评片人员还应辨别出400mm距离处高0.5mm和间距0.5mm的一组印刷字母。4.防护射线防护应符合GB4792的规定。5.设备、器材和材料5.1射线源和能量的选择5.1.1现使用设备见表15.1.2透照不同厚度的焊缝时，允许使用的最高管电压应控制在图1的范围内。表1制造厂型号有效焦点尺寸（mm）最大透照厚度（mm）备注丹东XXQ—25052.0×2.040定向丹东XXQ—20051.5×1.529定向※用γ射线透照，当采用内透法（中心法和偏心法）时，透照厚度下限减半。透照厚度和允许使用最高管电压如图1所示：6透照厚度TAmm→最高管电压KV→图1透照厚度和允许使用的最高管电压5.1.3钢管环缝透照时，其能量的选择参照JB/T4730-2005《承压设备无损检测》进行。5.2胶片和增感屏5.2.1胶片：在满足灵敏度要求的情况下，一般x射线选用T3型或更高类别胶片，如天津Ⅲ型等。γ射线选用T2型或更高类别胶片。5.2.2增感屏：采用金属增感屏或不用增感屏。金属增感屏的选用见表2。表2射线源增感屏材料前屏厚度（mm）后屏厚度(mm)≤100KV铅不用或≤0.03≤0.03＞100-150KV铅≤0.1≤0.15＞150-250KV铅0.02~0.150.02~0.15＞250-500KV铅0.02~0.20.02~0.25.2.3胶片和增感屏在透照过程中应始终紧密接触。5.3象质计5.3.1象质计的选用采用线型象质计，其型号和规格应符合JB/T7902的规定。5.3.2象质计的使用A.象质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区的一端（被检区长度1/4部7位）。金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，象质计应放在透照区最边缘的焊缝外。B.象质计放置原则按JB/T4730.2-2005中4.7.2及4.7.3的规定执行。5.4B标记背部散射线及无用射线应采用常规方法屏蔽。为验证背部散射线的影响，在每个暗盒背向工件侧贴一个“B”铅字标记（高13mm厚度1.6mm）。若在底片的黑色背影上出现B的较暗淡的影象，就说明背散射防护不良，应予重照。但若较淡背影上出现B的较黑的影象，则不作为底片质量判废的依据。5.5识别系统识别系统由定位标记和识别标记构成。5.5.1定位标记焊缝透照定位标记包括搭接标记（）和中心标记（）。局部检测时搭接标记称为有效区段标记。当铅质标记用数字表示时，可不用中心标记，如图2（a）所示。5.5.2识别标记识别标记包括产品编号、焊缝编号、底片编号和透照日期。返修部分还应有返修标记R1R2…（其数码表示返修次数）。扩大检测比例的透照还应有扩大检测标记。5.5.3象质计和识别系统的位置图2所示。识别系统编号至少距焊缝边缘5mm。5.5.4工件不适合打钢印标记时，应采用绘图和漆笔写的方法办理。8图2象质计和标记的布置//L33/4L3搭接标记片号/搭接标记33-2A19409131233-2A1-1940913拍片日期≥5B铅字识别标记象质计位置标记源产品编号片号台次焊缝编号b搭接号标记a数字标记6.胶片处理胶片处理应按胶片说明书或公认的有效方法处理。处理溶液应保持在良好的状况中，应注意温度、时间和抖动对冲洗效果的影响。自动冲洗时，还应准确控制传递速度药液的补充。7.底片质量底片质量应满足JB/T4730.2-2005中4.11的要求。8.评片室和观片灯8.1观片灯观片灯的亮度应能满足评片要求，且观片窗口的漫散射光亮度可调，并备有遮光板，对不需观察或透光量过强部分屏蔽遮光。8.2评片室评片应在评片室进行。评片室的光线应暗淡，但不能全暗，周围环境亮度应大致与底片上需要观察部位透过光的亮度相当。室内照明光线不得在观察的底片上产生反射。9.受检部位的表面准备9.1同一条焊缝的余高在允许范围内应均匀，以保证底片黑度处于规定范围内。9.2距焊缝中心40mm范围内的焊疤、飞溅、成型粗糙及表面缺陷等应修磨，以不掩盖或干扰缺陷影象的显示为度。99.3焊缝及热影响区的表面质量（包括余高高度）应经检查员检查合格。9.4受检表面经检测人员认可。10.检测技术等级选择一般采用AB级，具体按JB/T4730.2-2005中3.8的规定执行。11.透照布置11.1透照方式根据工件特点和技术条件的要求，在可以实施的情况下应选用单壁透照，在单壁透照不能实施时再选用双壁透照。11.2透照方向射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。11.3一次透照长度一次透照长度以透照厚度比进行控制。透照厚度比应满足JB/T4730.2-2005中表3的要求。环向对接接头的透照次数按JB/T4730.2-2005中附录D的曲线图确定。11.4小径管的透照布置和透照次数分别按JB/T4730.2-2005中4.1.4及4.1.5的规定执行。12.射线源到工件表面的最小距离射线源到工件表面的最小距离应满足JB/T4730.2-2005中4.3的要求。13.暴光量13.1X射线照相，当焦距为700毫米时，暴光量的推荐值为：A和AB级不小于15毫安分；B级不小于20毫安分。当焦距改变时按平方反比定律进行修整。13.2Y射线透照，总的暴光时间应不小于输送源往返所需时间的10倍。14.暗室处理胶片贮存、装取和冲洗按附录A进行。15.底片的评定底片的评定由Ⅱ级以上人员进行。16.焊缝质量分级焊缝质量分级按JB/T4730.2-2005中5及6的规定进行。1017.射线照相检测报告及底片的存档17.1射线照相检测后，应对检验结果及有关事项进行详细记录并写出检测报告。其主要内容应包括JB/T4730.2-2005中7的内容。17.2底片及检测报告必须妥善保管7年以上，以备随时查核。附录A暗室安全操作规程暗室处理是保证底片质量的重要工序，各班指定专人进行。暗室处理包括切片、装袋、显影、定影、水冲洗和底片烘干等。A1胶片的切片和装袋与保管A1.1胶片应与射线完全隔离，距暖气不少于1m的阴凉干燥处立放。A1.2胶片盒应在暗室开封，外包装纸富裕量要折回盖严，以防露光。A1.3按每次用量带衬纸取出胶片，单张按规格切，多余片带衬纸放回胶片盒内保存，以防划伤。A1.4装胶片要避免乳剂膜与衬纸或增感屏或其它粗糙摩擦，以防静电感光；拿胶片只能触及边或角，以防留下指印；胶片不得折叠和弯曲，以防折迹感光。A1.5操作人接触胶片时，应将手洗净，胶片处理前不得粘上显、定影液。A1.6暗室安全灯应在距胶片0.5以外安放，第一次使用须测试，以防胶片感光。A1.7当对胶片质量有怀疑时，应在暴光前显、定影分析之，问题严重者停用。B2暗室处理B2.1手工冲洗规程B2..1.1显影：其温度为18~21℃，显影时间为4~8分钟。显影之初和显影过程中要使胶片上下移动，以保证显影液的新鲜性。显影夹之间要有一定的距离，防止胶片相粘。B2.1.2显影后水冲洗10~15秒，以防显影液带入定影槽内。B2.1.3定影：胶片进入定影液1分钟内上下移动，定影时间为通透时间的2倍，一般为15分钟。B2.1.4水冲洗：在流动的清水（流速2立升/分）中进行，一般为15~20分钟。不得超过30分钟，以防乳剂膜泡胀粘附污物。B2.1.5底片干燥；在底片清洗后进行。自然干燥时，应在无干燥通风处晾干；需烘干时，应用去水剂或自然干燥至无水滴时进行。烘箱温度≤50℃。11B3责任：对暗室处理不当造成的底片伪像负责。二、超声波检测1.适用范围本规程适用于公司安装工程中超声波检测操作。2.引用标准JB4730-2005《承压设备无损检测》3.检测人员3.1检测人员必须经过技术培训，按《特种设备无损检测人员资格考核与监督管理规则》取得与其工作相适应的资格证书。3.2检测人员应每年检查一次视力，校正视力≮1.0。4.仪器、探头和试块4.1仪器和探头4.1.1现使用仪器为汕头超声仪器厂生产的CTS-23和南京新七星超声技术有限公司DUT710型仪器和探头。A.仪器和探头的组合灵敏度：在达到所检工件最大声程时，其灵敏度余量应≥10dB。B.衰减器精度：任意相邻12dB误差在±1dB以内，最大累计误差不超过1dB。C.水平线性：水平线性误差不大于1%。D.垂直线性：在荧光屏满刻度80%的范围内呈线性显示。垂直线性误差不大于5%。4.1.2探头A.晶片有效面积除另有规定外一般不应超过500mm²，且任意一边长不大于25mm..B.单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2°，主声束垂直主方向不应有明显的双峰。C.直探头的远场分辨力应大于或等于30dB，斜探头的远场分辨力应大于或等于6dB。4.1.3仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10042的规定进行测试。4.2试块4.2.1试块应采用与被检工件相同或近似声学性能的材料制成，该材料用直探头12检测时，不得有大于φ2mm平底孔当量直径的缺陷。4.2.2试块的制造要求应符合JB/T10043和JB/T7913的规定。4.2.3现场测试时，也可采用其他方式的等效试块。5.检测的一般方法5.1检测面5.1.1检测面和检测范围的确定原则上应保证检查到工件被检部分的整个体积。对于钢板和锻件应检查到整个工件；而对熔接焊缝则应检查到整条焊缝。5.1.2检测面应经外观检查合格，所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物都应予以清除，其表面粗糙度应符合检测要求。5.2扫查覆盖率检测时，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15%。5.3探头的移动速度探头的扫查速度不得超过150mm/s。当采用自动报警装置扫查时，不受此限。5.4扫查灵敏度扫查灵敏度不低于基准灵敏度。5.5耦合剂采用机油、浆糊、甘油和水等透声性好，且不损伤检测表面的偶合剂。5.6灵敏度补偿5.6.1在检测和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的耦合损失进行补偿，对材质衰减引起的检测灵敏度下降和缺陷定量误差进行补偿。5.6.2对探测面是曲面的工件，应采用曲率半径与工件相同或相近的试块，通过对比试验进行曲率补偿。6.系统校准和复核6.1系统校准应在标准试块上进行，校准中应使超声主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的和最大的反射信号。6.2仪器校准在仪器开始使用时，应对仪器的水平线性进行测定，测定方法按JB/T10041的规定进行。在使用过程中，每隔三个月至少应对仪器的水平线和垂直线性进行一次测定。136.3探头校准在探头开始使用时，应进行前沿距离、K值、主