JJF 1548-2015 楔形塞尺校准规范-www.bzfxw.com

中华人民共和国国家计量技术规范JJF1548—2015楔形塞尺校准规范CalibrationSpecificationforWedge-ShapeFillerGauges2015-08-24发布2015-11-24实施国家质量监督检验检疫总局发布JJF1548—2015楔形塞尺校准规范CalibrationSpecificationforWedge-ShapeFillerGauges02oJJF1548—2015«5$归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会主要起草单位：安徽省计量科学研究院河北省计量监督检测院参加起草单位：浙江省计量科学研究院辽宁省计量科学研究院沈阳佳宇工具有限公司本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释JJF1548—2015本规范主要起草人：马琳（安徽省计量科学研究院)胡登山（安徽省计量科学研究院)王少平（河北省计量监督检测院)金美峰（安徽省计量科学研究院)参加起草人：周闻青（浙江省计量科学研究院)刘娜（辽宁省计量科学研究院)赵霞（沈阳佳宇工具有限公司）JJF1548—2015目录引言.........................................................................（n)i細.....................................................................a)2引用文件.................................................................（1)3».....................................................................(1)4计量特性.................................................................（3)4.1表面粗糙度..............................................................（3)4.2侧边直线度............................................................（3)4.3测量面的平面度..........................................................（3)4.4示值变#性............................................................(3)4.5示值误差...............................................................（3)4.6漂移.....................................................................（3)5校准条件.................................................................（3)5.1环境条件................................................................（3)5.2校准用设备............................................................（4)6校准项目和校准方法......................................................（4)6.1表面粗糙度..............................................................（4)6.2侧边直线度..............................................................（4)6.3测量面的平面度........................................................（4)6.4示值变#性............................................................(5)6.5示值误差...............................................................（5)6.6漂移.....................................................................（6)7校准结果表达..............................................................（6)8复校时间间隔..............................................................（6)附录AI型楔形塞尺示值误差测量结果不确定度评定.......................（7)附录B数显楔形塞尺示值误差测量结果不确定度评定.......................（11)附录C校准证书内容及内页格式...........................................（15)IJJF1548—2015引言JJF1071—2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001—2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1—2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑本校准规范制定的基础性系列规范。本规范主要参考标准为JB/T12202—2015《楔形塞尺》。本规范为首次发布。nJJF1548—2015图1I型楔形塞尺外形结构示意图1,3—侧边；2—尺面；4一标记和标尺数字楔形塞尺校准规范1范围本规范适用于分度值为〇.〇5mm、0.1mm,测量范围上限至60mm的I型模形塞尺；分度值为〇.〇5mm、0.1mm、0.5mm,测量范围上限至15mm的H型楔形塞尺;分辨力为〇.〇1mm，测量范围上限至40mm的数显楔形塞尺的校准。2引用文件本规范引用了下列文件：JJF1094—2002测量仪器特性评定JB/T12202—2015楔形塞尺凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修订单）适用于本规范。3概述楔形塞尺是用于测量间隙和孔径尺寸的量具。常见结构型式有I型楔形塞尺、II型楔形塞尺、数显楔形塞尺。I型楔形塞尺为楔形薄片状，具有锥形角度，尺面上有一组有序的标尺标记和标尺数字，标尺数字表示相应标记位置的尺身宽度。其结构型式见图1。II型楔形塞尺为楔块状，具有楔形角度，尺面上有一组有序的标尺标记和标尺数字，标尺数字表示相应标记位置垂直于测量基面的厚度。其结构型式见图2。数显楔形塞尺又称通流间隙测量尺，是利用带有数字显示器的移动测量头在尺身上相对运动，以数显形式显示移动测量头的端面处垂直于上测量面的楔块厚度。其结构型式见图3。1JJF1548—2015艰模形塞尺面构示意图-测量基面形2(b)图3数显楔形塞尺外形结构示意图1一上测量面；2—移动测量头；3—数字显示器；4—尺身标尺；5—尺身；6—下测量面JJF1548—20154计量特性4.1表面粗糙度I型楔形塞尺和II型楔形塞尺测量面的表面粗糙度一般不超过i?al.6^m，数显楔形塞尺测量面的表面粗糙度一般不超过4ym。4.2侧边直线度I型楔形塞尺的侧边直线度一般不大于〇.〇1mm。4.3测量面的平面度测量面的平面度一般不超过表1的规定。n型楔形塞尺的测量基面只允许呈凹形。表1测量面的平面度楔形塞尺名称分度值/分辨力测量面的平面度n型楔形塞尺0.050.010.10.020.50.10数显楔形塞尺0.010.0054.4示值变动性数显楔形塞尺的示值变动性一般不超过〇.〇1mm。4.5示值误差示值最大允许误差一般不超过表2的规定。表2最大允许误差楔形塞尺名称分度值/分辨力最大允许误差I型楔形塞尺0.05,0.1±0.05n型楔形塞尺0.05士0.050•1士0.100.5士0.20数显楔形塞尺0.01土0.034.6漂移数显楔形塞尺的数字漂移在1h内一般不大于0•01mm，带有自动关机功能的可不校准此项。注：校准工作不判断合格与否，上述计量特性要求仅供参考。5校准条件5.1环境条件校准室温度：（20±5)X：JJF1548—2015校准室相对湿度：不大于70%。校准前，被校楔形塞尺和校准用器具平衡温度时间不少于2h。5.2校准用设备校准用设备见表3。允许使用满足测量不确定度要求的其他测量标准及其他设备进行校准。表3校准项目和校准用设备序号校准项目设备名称和技术要求1表面粗糙度表面粗糙度比较样块MPE:+12%〜一17%2侧边直线度4等量块，1级平板3测量面的平面度4等量块，刀口形直尺MPEV:2fim,塞尺MPE:±0.005mm，1级平板4示值变动性3级量块及量块附件5示值误差万能工具显微镜MPEV:lpm+lO^L，3级量块及量块附件，1级平板，数显千分表MPEV:0.010mm6漂移6校准项目和校准方法校准前首先检查外观和各部分相互作用。确定没有影响计量特性因素后再进行校准。6.1表面粗糙度测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块进行比较测量。进行比较时，所用的表面粗糙度样块和被校测量面的加工方法应相同，表面粗糙度样块的材料、形状、表面色泽等也应尽可能与被校测量面一致，以相应表面粗糙度比较样块的标称值作为校准值。6.2侧边直线度I型楔形塞尺的侧边直线度用量块试塞法测量。测量时，在平板上放置2块1mm的量块，将I型楔形塞尺两侧边分别贴合在量块上，并使尺面与平板保持垂直，再用相应尺寸的量块在侧边全长范围内进行试塞，以试塞时刚好能通过的量块尺寸与1mm的差值作为该位置的测量值。所有位置测量值的最大值与最小值的差值为该侧边的直线度测量值，取两侧边直线度测量值中的最大值作为直线度校准值。6.3测量面的平面度6.3.1数显楔形塞尺测量面的平面度用刀口形直尺以光隙法测量。分别在测量面的长边、短边和对角线位置上进行，其平面度根据各方位的间隙情况确定。当所有方位上出现的间隙均在中间部位或两端部位时，取其中一方位间隙量最大的作为平面度。当其中有的方位中间部位有间隙，而有的方位两端部位有间隙，则平面度以中间和两端最大间隙量之和确定。JJF1548—20156.3.2分度值为0.05mm的n型楔形塞尺测量基面的平面度用量块试塞法测量。测量前先用刀口形直尺观察测量基面的光隙情况，将2块1mm的量块放置在基面上，用刀口形直尺的工作面轻轻接触量块，再用相应尺寸的量块在基面全长范围内进行试塞，以试塞时刚好能通过的量块尺寸与1mm的差值作为该位置的测量值。所有位置测量值的最大值与最小值的差值为该基面的平面度校准值。6.3.3分度值为0.1mm、0•5mm的]1型楔形塞尺测量面的平面度用塞尺在平板上用试塞法测量。将楔形塞尺的测量基面放在1级平板上，用塞尺在测量基面全长范围内进行试塞，以可塞人最大尺寸塞尺的厚度作为校准值。6.4示值变动性以接近测量范围下限位置的尺寸选择一块量块与量块附件组合成内尺寸，数显楔形塞尺置于正常测量状态，将楔形部分放人组合的内尺寸中，推动移动测量头，使移动测量头的端面紧贴着量块附件的侧块，并与上测量面保持垂直并读数。在相同条件下，重复5次测量，示值变动性以最大与最小读数的差值确定。6.5示值误差6.5.1I型楔形塞尺的示值误差I型楔形塞尺的示值误差用万能工具显微镜以影像法测量。在测量范围内选择均勻分布的5点作为校准点。将工型楔形塞尺标记面向上平放在工作台上，调整焦距，使楔形塞尺所有标记成像清晰，并调整楔形塞尺轴线方向与纵向滑板移动方向平行。将米字线的垂直线瞄准被校标记宽度的中间位置，横向移动滑板