QJ 1556B-2008 元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定

中华人民共和国航天行业标准FL1617QJ1556B—2008代替QJ1556A—1998元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定Rulesforfillinginpartsqualityandreliabilityinformationcollectioncard2008－03－17发布2008－10－01实施国防科学技术工业委员会发布QJ1556B－2008I目次前言.................................................................................................................................................................Ⅱ1范围.................................................................................................................................................................12规范性引用文件.............................................................................................................................................13术语和定义.....................................................................................................................................................14一般要求.........................................................................................................................................................14.1总则..............................................................................................................................................................14.2采集卡的分类..............................................................................................................................................14.3元器件的类别..............................................................................................................................................24.4元器件的质量等级......................................................................................................................................24.5航天产品的代号..........................................................................................................................................34.6采集卡中必须填写和可选择填写的数据项..............................................................................................34.7采集卡填写的质量要求..............................................................................................................................35详细要求.........................................................................................................................................................35.1元器件破坏性物理分析（DPA）信息采集卡（ZY01）填写要求.........................................................35.2元器件装机前失效信息采集卡（ZY02）填写要求.................................................................................55.3元器件装机信息采集卡（ZY03）填写要求.............................................................................................65.4元器件装机及装机后失效信息采集卡（ZY04）填写要求.....................................................................7附录A（资料性附录）元器件破坏性物理分析（DPA）信息采集卡（ZY01）格式和数据库文件结构..........................................................9附录B（资料性附录）元器件装机前失效信息采集卡（ZY02）格式和数据库文件结构........................11附录C（资料性附录）元器件装机信息采集卡（ZY03）格式和数据库文件结构....................................13附录D（资料性附录）元器件装机及装机后失效信息采集卡（ZY04）格式和数据库文件结构............15QJ1556B－2008II前言本标准代替QJ1556A－1998《电子元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定》。本标准与QJ1556A－1998《电子元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定》相比主要有以下变化：a)电子元器件准确的定义为电气、电子和机电元器件；b)元器件分类及失效分类的引用标准已进行了修订，本标准进行了相应的修订；c)元器件破坏性物理分析（DPA）增加了试验项目。本标准的附录A、附录B、附录C和附录D为资料性附录。本标准由中国航天科技集团公司提出。本标准由中国航天标准化研究所归口。本标准起草单位：中国航天标准化研究所。本标准主要起草人：李兰英、余振醒、魏明明。本标准于1988年4月首次发布，1998年2月第一次修订。QJ1556B－20081元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定1范围本标准规定了航天用电气、电子和机电元器件（以下简称元器件）质量与可靠性信息采集卡的格式和填写要求。本标准适用于元器件保证全过程主要质量与可靠性信息的采集。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包含勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GJB33半导体分立器件总规范GJB451可靠性维修性术语GJB597半导体集成电路总规范GJB2438混合集成电路总规范GJB/Z299电子设备可靠性预计手册GJB/Z9000A－2001质量管理体系基础和术语QJ1193.1人事系统数据源航天工业单位代码QJ1317A－2005电子元器件失效分类及代码QJ2983航天产品代号的编制规定QJ3057航天用电气、电子和机电（EEE）元器件保证要求MIL－PRF－19500半导体分立器件总规范MIL－M－38510微电路总规范MIL－PRF－38534混合微电路总规范MIL－PRF－38535集成电路（微电路）制造总规范3术语和定义GJB451、GJB/Z9000A－2001以及QJ1317A－2005确立的术语和定义适用于本标准。4一般要求4.1总则航天型号承制单位应明确元器件质量与可靠性信息的主管部门，必要时建立信息中心。按QJ3057的规定，分类收集、处理和保管元器件的质量与可靠性信息。其中部分信息应按本标准的规定填写质量与可靠性信息采集卡，按有关规定上报上一级的质量与可靠性信息管理机构。各级质量与可靠性信息管理机构对信息进行分类收集、处理和保管，供有关单位使用。4.2采集卡的分类QJ1556B－200824.2.1元器件破坏性物理分析（DPA）信息采集卡（ZY01）元器件破坏性物理分析（DPA）后，由负责DPA的单位填写本采集卡。采集卡的格式及数据库文件结构参见附录A。4.2.2元器件装机前失效信息采集卡（ZY02）元器件在装机前试验（主要指补充筛选、超期复验等，不包括DPA）过程中发生完全失效，应进行失效分析，并由负责试验的单位填写本采集卡。采集卡的格式及数据库文件结构参见附录B。4.2.3元器件装机信息采集卡（ZY03）整机单位按型号的不同研制阶段分别填写元器件装机信息采集卡。采集卡的格式及数据库文件结构参见附录C。4.2.4元器件装机及装机后失效信息采集卡（ZY04）元器件在装机及装机后各阶段发生完全失效，应进行失效分析，并由元器件所属整机的负责单位填写本采集卡。采集卡的格式及数据库文件结构参见附录D。4.3元器件的类别填写采集卡时，元器件的类别参照GJB/Z299的规定。4.4元器件的质量等级4.4.1国产元器件的质量等级国产元器件的质量等级分为：国军标、行军标、企军标、“七专加严”、“七专”、军品、民品、其它共8个质量等级。其中，国军标的质量等级还可进一步细分，如表1所示。表1国军标元器件的质量等级序号元器件类别依据的总规范质量等级分级1半导体分立器件GJB33质量等级分为：宇航级（JY）、超特军级（JCT）、特军级（JT）、普军级（JP）2半导体集成电路GJB597质量等级分为：宇航级（S）、B级、B1级3混合集成电路GJB2438质量等级分为：宇航级（K）、H级、G级、D级4有可靠性指标的元件相应的元件总规范失效率等级分为：L（亚五级）、M（五级）、P（六级）、R（七级）、S（八级）5没有可靠性指标的元件相应的元件总规范不以失效率等级划分，均以J表示4.4.2进口元器件的质量等级在国际市场采购到的进口元器件，质量等级以采购量较大的美国元器件为例，其质量等级可分为：MIL标准、准军级(883或与之等效的元器件)、军品温度范围、民品（包括工业品和商业品）。其中MIL标准的质量等级还可进一步细分，如表2所示。QJ1556B－20083表2MIL标准元器件的质量等级序号元器件类别依据的总规范质量等级分级1半导体分立器件MIL－PRF－19500质量等级分为：宇航级（JANS）、超特军级（JANTXV）、特军级（JANTX）、普军级（JAN）2微电路MIL－M－38510质量等级分为：宇航级（S）、B级3集成电路M