SNT 2764-2011 萤石中多种成分的测定 X射线荧光光谱法

书书书中华人民共和国出入境检验检疫行业标准犛犖／犜２７６４—２０１１萤石中多种成分的测定犡射线荧光光谱法犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳犿狌犾狋犻犮狅犿狆狅狀犲狀狋狊犻狀犳犾狌狅狉狊狆犪狉—犡狉犪狔犳犾狌狅狉犲狊犮犲狀犮犲狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉犻犮犿犲狋犺狅犱２０１１０２２５发布２０１１０７０１实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布书书书前　　言　　本标准按照ＧＢ／Ｔ１．１—２００９给出的规则起草。本标准由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。本标准起草单位：中华人民共和国宁波出入境检验检疫局。本标准主要起草人：张建波、林振兴、林力、陈建国、侯建国、王谦、应晓浒。本标准系首次发布的出入境检验检疫行业标准。Ⅰ犛犖／犜２７６４—２０１１萤石中多种成分的测定犡射线荧光光谱法１　范围本标准规定了萤石中多种成分的波长色散Ｘ射线荧光光谱测定方法。本标准适用于萤石中多种成分的测定，测定范围（质量分数）见表１。表１　萤石中各成分的测量范围成　　分质量分数范围／％Ａｌ２Ｏ３０．０４～３．６９ＢａＯ０．０２～８．２０Ｔ．ＣａＦ２６０．１～９８．８Ｆｅ２Ｏ３０．０６～２．３５Ｋ２Ｏ０．０２～１．４４ＭｎＯ０．０１～０．２３Ｐ０．０１～０．０６Ｓ０．０１～１．７５ＳｉＯ２０．６４～３６．１０　　注：Ｔ．ＣａＦ２———总Ｃａ以ＣａＦ２计。２　规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。ＧＢ／Ｔ１６５９７　冶金产品分析方法　Ｘ射线荧光光谱法通则３　方法提要粉末样品用合适的熔剂按一定比例熔铸成适合于Ｘ射线荧光光谱仪测量的试料熔片。在选定的仪器测量条件下测量试料熔片中待测元素特征谱线的荧光Ｘ射线强度，根据校准曲线或方程式来计算，且进行元素间干扰效应校正，获得样品中待测成分的含量。４　试剂和材料除非另有说明，在分析中仅使用确认为分析纯的试剂和蒸馏水或去离子水或相当纯度的水。４．１　四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂１２２２：优级纯，使用前在６５０℃下灼烧４ｈ。１犛犖／犜２７６４—２０１１４．２　硝酸锂：使用前在１０５℃下干燥２ｈ。４．３　碘化铵。４．４　硝酸锂碘化铵溶液：称取适量的硝酸锂（４．２）和碘化铵（４．３）配制成硝酸锂浓度为２２０ｍｇ／ｍＬ，碘化铵浓度为４０ｍｇ／ｍＬ的混合溶液。４．５　氩气甲烷混合气体：含体积分数为９０％的氩气和体积分数为１０％的甲烷。５　仪器５．１　波长色散Ｘ射线荧光光谱仪：符合ＧＢ／Ｔ１６５９７规定。５．２　熔样皿：用铂合金（９５％Ｐｔ＋５％Ａｕ）制成，容积＞３０ｍＬ。５．３　铸型模：用铂合金（９５％Ｐｔ＋５％Ａｕ）制成，要求底部内表面平整光滑。注：熔样皿和铸型模可合二为一。５．４　熔样炉：能加热到１０５０℃，控温精度为±５℃。５．５　分析天平：感量０．１ｍｇ。６　试样制备试样粒度应小于１００μｍ，并在１０５℃烘干后置于干燥器中。７　分析步骤７．１　测量次数对于同一试样，进行两次平行测定。７．２　试料熔融称取５．００００ｇ四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂１２２２（４．１）和１．００００ｇ试样（第６章）于熔样皿中，均精确至０．２ｍｇ，混匀后加入１ｍＬ硝酸锂碘化铵溶液（４．４），在电炉上烘干（约６ｍｉｎ）。试料和熔剂在１０００℃一起熔融，不时旋转和／或摇动，直至完全熔解且熔体均匀。如果熔样皿壁上挂有小熔珠，需摇动熔样皿把其熔下。熔融１０ｍｉｎ后，把熔融物倒入已预热３ｍｉｎ以上的铸型模中，取出，冷却。也可用自动熔样炉进行试料熔融，熔融过程中摇动和转动熔样皿，制成的玻璃片在熔样皿中或倒入铸型模中成型。试料熔片应是均匀的玻璃体，表面平整光滑，无气泡和未熔小颗粒等夹杂，否则应重新制备。７．３　校准曲线的制作７．３．１　校准样品选择有一定浓度和梯度范围的系列有证标准物质作为校准样品，并确保每个测量元素的给出浓度的标准物质数量应大于或等于该元素校准曲线参数个数的三倍。校准曲线参数是指校准曲线的截距、斜率、经验α影响系数和谱线重叠系数等。７．３．２　测量条件各元素特征谱线的测量条件通过优化获得，通常应测试（３～４）个不同浓度的样品。测量条件参见２犛犖／犜２７６４—２０１１附录Ａ，不同仪器可根据实际情况选择合适的测量条件，包括背景校正方法和测量时间。７．３．３　校准方程可根据实际情况选择合适的校准方程，如理论α影响系数法、基本参数法、经验α影响系数法等。但应注意校准方程参数的个数，每增加一个参数，应增加三个校准样品以确保该参数的可靠性。理论α影响系数法的校准方程参见附录Ｂ。校准方程中各测量元素除Ｃａ以ＣａＦ２形式表示外，其他元素以氧化物形式表示。７．４　测量７．４．１　漂移校正选择合适的校准样品熔片或试料熔片作为漂移校正熔片进行仪器的漂移校正。可采用单点校正或两点校正，校正的间隔时间可根据仪器的稳定性决定。７．４．２　试料熔片测量预热仪器直至仪器稳定后，按选定的测量条件测定试料熔片。若进行仪器漂移校正，仪器稳定后，先进行漂移校正，再进行试料熔片测定。７．５　结果计算根据测出的试料熔片中各元素特征谱线的Ｘ射线荧光强度，按校准方程计算出各元素的含量。对于含量在１％以上的成分，计算结果表示到小数点后两位；含量在１％以下的成分，计算结果表示到两位有效数字。８　精密度在同一实验室，由同一操作者使用相同设备，按相同的测试方法，并在短时间内对同一被测对象相互独立进行的测试获得的两次测试结果的绝对差值，对于含量在１％以下的成分，不大于这两个测定值的算术平均值的１０％；对于含量在１％以上、１０％以下的成分，不大于这两个测定值的算术平均值的５％；对于含量在１０％以上、５０％以下的成分，不大于这两个测定值的算术平均值的２％；对于含量在５０％以上的成分，不大于这两个测定值的算术平均值的１％。３犛犖／犜２７６４—２０１１附　录　犃（资料性附录）仪器参考工作条件仪器参考工作条件表犃．１　仪器参考工作条件成分分析谱线晶体准直器／（°）峰位／（°）背景／（°）电压／ｋＶ电流／ｍＡ峰位测量时间／ｓＡｌ２Ｏ３ＡｌＫαＰＥＴ０．４６１４５．００９１４７．１５７３０１０６１０ＢａＯＢａＫαＬｉＦ２０００．１５８７．２００８８．７２７５０６４１０Ｔ．ＣａＦ２ＣａＫαＬｉＦ２０００．４６１１３．１５０—５０６４４０Ｆｅ２Ｏ３ＦｅＫαＬｉＦ２０００．１５５７．５０９５６．５９５６０４０１０Ｋ２ＯＫＫαＬｉＦ２０００．４６１３６．７４８１３８．５６４５０６４１０ＭｎＯＭｎＫαＬｉＦ２０００．１５６２．９８２６３．７３４５０２０１０ＰＰＫαＧｅ０．４６１４１．０７２１４２．６９１３０１０６３０ＳｉＯ２ＳｉＫαＩｎＳｂ０．４６１４４．６０７１４６．５８６３０１０６２０ＳＳＫαＧｅ０．４６１１０．６５１１１３．２４７３０１０６３０４犛犖／犜２７６４—２０１１附　录　犅（资料性附录）校准方程理论α影响系数法的校准方程见式（Ｂ．１）。犆犻＝狊×（１＋∑α犻犼×犆犼）×犐犻＋犫…………………………（Ｂ．１）式中：犆犻、犆犼———测量元素和影响元素的浓度，单位为％；狊、犫———校准曲线的斜率和截距；α犻犼———影响元素对测量元素的理论α影响系数；犐犻———测量元素的荧光Ｘ射线强度。５犛犖／犜２７６４—２０１１书书书１１０２—４６７２犜／犖犛中华人民共和国出入境检验检疫行　业　标　准萤石中多种成分的测定犡射线荧光光谱法ＳＮ／Ｔ２７６４—２０１１中国标准出版社出版北京复兴门外三里河北街１６号邮政编码：１０００４５网址ｗｗｗ．ｓｐｃ．ｎｅｔ．ｃｎ电话：６８５２３９４６　６８５１７５４８中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷开本８８０×１２３０１／１６　印张０．７５　字数１１千字２０１１年６月第一版　２０１１年６月第一次印刷印数１—１６００书号：１５５０６６·２２２０８４　定价１６．００元