JJF (浙) 1132-2016 圆测头千分尺校准规范

(浙)浙江省地方计量技术规范JJF（浙）1132—2016——————————————————————————————圆测头千分尺校准规范CalibrationSpecificationforcircleanvilmicrometer2016-03-16发布2016-04-20实施浙江省质量技术监督局发布JJF(浙)1132-2016I圆测头千分尺校准规范CalibrationSpecificationforcircleanvilmicrometer归口单位：浙江省质量技术监督局主要起草单位：浙江省计量科学研究院杭州市质量技术监督检测院浙江省方正校准有限公司温州市计量技术研究院嘉兴市计量检定测试院参加起草单位：萧山区质量计量监测中心本规范技术条文由起草单位负责解释JJF(浙)1132-2016JJF(浙)1132-2016II主要起草人：黄伟城（浙江省计量科学研究院）陆益（浙江省计量科学研究院）邓丽芬(杭州市质量技术监督检测院)汪正亚（浙江省方正校准有限公司）江涛(温州市计量技术研究院)沈丹（嘉兴市计量检定测试院）参加起草人：吴国伟（萧山区质量计量监测中心）JJF(浙)1132-2016III目录引言„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（Ⅲ）1范围„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„(1)2引用文件„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（1)3术语和计量单位„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（1）3.1示值变动性„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„(1)4概述„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„(1)5计量特性„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（2)5.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动„„„„„„„„„„„„„„„„（2）5.2测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量„„„„„„„„„„„„„（2）5.3测力„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（3）5.4刻线宽度及宽度差„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（3）5.5微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离„„„„„„„„„（3）5.6微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置„„„„„„„„（3）5.7测头的球面半径„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（3）5.8测量面的平面度„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（3）5.9示值变动性„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（3）5.10漂移„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（3）5.11示值误差„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（3）5.12细分误差„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（3）5.13校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量„„„„„„„„„„„„„„（4）6校准条件„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（4）6.1环境条件„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（4）6.2校准项目和校准设备„„„„„„„„„„„„„„„„„„（4）7校准方法„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（5）7.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动„„„„„„„„„„„„„„„„（5）7.2测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量„„„„„„„„„„„„„„（6）7.3测力„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（7）7.4刻线宽度及宽度差„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（7）JJF(浙)1132-2016IV7.5微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离„„„„„„„„（7）7.6微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置„„„„„„„„（7）7.7测头的球面半径„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（7）7.8测量面的平面度„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（7）7.9示值变动性„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（8）7.10漂移„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（8）7.11示值误差„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（8）7.12细分误差„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（8）7.13校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量„„„„„„„„„„„„„„（9）8校准结果表达„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（9）9复校时间间隔„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„„（9）附录A圆测头千分尺示值误差测量结果的不确定度评定„„„„„„„（10）附录B校准证书或校准报告内容„„„„„„„„„„„„„„„„„(14)JJF(浙)1132-2016III引言JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》、JJG21-2008《千分尺检定规范》共同构成圆测头千分尺的计量技术法规。本技术规范首次发布。JJF(浙)1132-20161圆测头千分尺校准规范1范围本规范适用于分度值/分辨力为0.001mm、0.01mm，测量上限至100mm的圆测头千分尺的校准。2引用文献JJF1001-2011通用计量术语及定义JJF1059.1-2012测量不确定度评定与表示JJG21-2008千分尺凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用本规范。3术语和计量单位3.1示值变动性在一组重复性测量条件下进行多次测量示值的最大值与最小值之差。4概述圆测头千分尺是应用螺旋副结构，将回转运动变为直线运动的计量器具，其测微螺杆为圆头形状，固定测砧有圆头和平面二种形状。主要用于测量各种工件外尺寸。它由尺架、固定测砧、测微螺杆、测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。其外形结构如图1、图2、图3所示。图1双圆测头千分尺1—尺架2—圆头固定测砧3—测微螺杆4—锁紧装置5—固定套筒6—微分筒7—测力装置8—护板装置JJF(浙)1132-20162图2单圆测头千分尺1—尺架2—平面固定测砧3—测微螺杆4—锁紧装置5—固定套筒6—微分筒7—测力装置8—护板装置图3数显圆测头千分尺1—尺架2—圆头固定测砧3—测微螺杆4—微分筒5—测力装置6—显示屏7—护板装置5计量特性5.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动测微螺杆的轴向窜动和径向摆动应不大于0.01mm。5.2测砧与测微螺杆测量面的偏移量测砧与测微螺杆测量面的偏移量应不超过表1的规定。表1测砧与测微螺杆测量面的偏移测量范围上限/mm偏移量/mm250.05500.08750.131000.155.3测力圆测头千分尺的测力系指测微螺杆测量面与量具测力仪平面接触时所作用的JJF(浙)1132-20163力为(3～6)N。5.4刻线宽度及宽度差微分筒刻线宽度为（0.08～0.20）mm,固定套筒上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差不大于0.03mm。5.5微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离不大于0.4mm。5.6微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套筒纵刻线对准时，微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm,离线不大于0.1mm。5.7测头的球面半径圆测头千分尺测量面的圆弧半径用半径样板以光隙法进行测量，只允许半径样板两侧有光隙，中间无间隙。5.8测量面的平面度固定测砧测量面是平面的平面度不大于0.6μm。5.9示值变动性数显圆测头千分尺的示值变动性不大于1μm。5.10漂移数显圆测头千分尺任意位置时数值漂移不大于1μm/h。5.11示值误差圆测头千分尺示值误差不超过表2的规定。表2示值误差测量范围/mm最大允许误差/μm0～25，25～50±450～75，75～100±55.12细分误差数显圆测头千分尺数显装置的细分误差不超过±2μm。5.13校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量校对用量杆的尺寸偏差和变动量不超过表3的规定。JJF(浙)1132-20164表3校对用量杆的尺寸偏差和变动量校对量杆标称尺寸/mm尺寸偏差的最大允许误差/μm变动量/μm25，50±2175±31.5注：以上指标不用于合格性判断，仅供参考6校准条件6.1环境条件圆测头千分尺和校对用的量杆的室内温度和室内平衡温度的时间在表4的范围内。室内相对湿度不大于70％RH。表4室内温度和室内平衡温度测量范围/mm室内温度对20℃的允许偏差/℃平衡温度的时间/h圆测头千分尺校对用的量杆（0～100）±5±326.2校准项目和校准设备圆测头千分尺校准项目和校准设备见表5。表5校准项目和校准设备序号校准项目主要校准设备1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动杠杆千分表2测砧与测微螺杆测量面的偏移量1级检验平板、杠杆百分表或百分表3测力量具测力仪MPE：±1.0％4刻线宽度及宽度差工具显微镜MPE：±（1+L/100）μm读数显微镜MPEV：0.01mm5微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离工具显微镜或读数显微镜、塞尺6微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置—7测头的球面半径半径样板MPE:±0.029mm8测量面的平面度2级平面平晶9示值变动性5等或3级量块10漂移—11示值误差5等或3级量块12细分误差微分筒及5等或3级量块13校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量光学计、测长机、4等或2级量块JJF(浙)1132-201657校准方法首先检查外观,确定没有影响计量特性因素后再进行校准。7.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动一般情况下用手感检查测微螺杆的轴向窜动和径向摆动。有异议时，可按下列方法校准。7.1.1测微螺杆的轴向窜动，用杠杆千分表校准。校准时，杠杆千分表与测微螺杆测量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力（3～5）N,如图4所示。杠杆千分表示值的变化，即为轴向窜动量。7.1.2测微螺杆的径向摆动，用杠杆千分表校准。校准时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆的端部，再沿杠杆千分表测量方向加力（2～3）N，然后在相反方向加同样大小的力，此时杠杆千分表示值的变化即为径向摆动量。径向摆动的测量应在测微螺杆相互垂直的两个方向进行。此过程如图5所示。图4轴向加力示意图JJF(浙)1132-20166图5径向加力示意图7.2测砧与测微螺杆测量面的偏移量（0～25）mm的圆测头千分尺可目力观察圆测头千分尺测砧与测微螺杆测量面的偏移量，测量上限大于25mm的圆测头千分尺可借助校对用量杆进行校准。如有异议时，可按下列方法进行校准。校准上限大于25mm的圆测头千分尺可用专用检具测量偏移量。在检验平板上用杠杆百分表进行校准，校准时借助夹具放置在检验平板上，如图6所示，调整夹具使圆头千分尺的测微螺杆与检验平板工作面平行，然后用杠杆百分表校准测砧与测微螺杆在这一方位上的偏移量x，然后将尺架侧转90°，按上述方法校准测砧与测微螺杆在另一方位上偏移量y,测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量△按下式求得：△=22yx此项校准也可用其他专用检具校准。JJF(浙)1132-20167图6在检验平板上用杠杆百分表进行校准示意图7.3测力用分度值/分辨力不大于0.1N的量具测力仪校准。校准时，使测微螺杆测量面与量具测力仪的平面工作面接触后进行。7.4刻线宽度及宽度差在工具显微镜上校准。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽检3条刻线。此项校准也可采用满足不确定度要求的其他方法。7.5微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离在工具显微镜上校准，也可用0.4mm塞尺置于固定套筒刻线表面上用比较法校准。校准应在微分筒转动一周内不小于3个位置上进行。7.6微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置当测量下限调整正确后，使微分筒锥面的端面与固定套筒任意毫米刻线的右边缘相切时，读取微分筒的零刻线与固定套筒纵向刻线的偏移量为校准结果。7.7测头的球面半径