激励器测试报告

测试报告一、激励信号1.载频频率技术指标：5~25MHz/1KHz步进测试方法：在计算机的控制面板上设定载频频率，并设置载频频率步进1kHz，用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励信号输出频率。在5MHz到25MHz范围抽测4个频点。载频频率测试记录设定频率（MHz）测试频率（MHz）步进频率（KHz）测试频率（MHz）备注5.2835.28315.28410.25610.256110.25715.51215.512115.51324.82824.828124.8292.调频频偏技术指标：20/30/50（KHz）测试方法：在计算机的控制面板上设定载频频率和调频频偏。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率，每个频率设定两个调频频偏，使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱。调频频偏测试记录载频频率（MHz）设定频偏（KHz）测试频偏（KHz）设定频偏（KHz）测试频偏（KHz）15.252019.63029.410.453029.55048.914.855049.72019.63.调频周期技术指标：12/24/240(ms)测试方法：在计算机的控制面板上设定载频频率，调频周期。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率，使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励信号输出。设频谱仪中心频率为载频频率0f，SPAN=500Hz，RBW=1Hz，分别读出两根相邻谱线的频率，调频周期为两根相邻谱线频率差的倒数。调频周期测试记录载频频率（MHz）设定周期（ms）测试周期（ms）设定周期（ms）测试周期（ms）5.152020303010.253030505014.45505020204.调制脉冲周期技术指标：1.0/1.2/1.5/2.0/2.4(ms)测试方法：在计算机的控制面板上设定载频频率，调制脉冲周期，调频周期。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率，使用HP54600B2型示波器测试监控组合X13输出的发射开关信号。调制脉冲周期测试记录载频频率（MHz）设定周期（ms）测试周期（ms）设定周期（ms）测试周期（ms）5.451.01.02.02.010.851.21.22.42.414.251.51.51.01.05.调制脉冲宽度技术指标：0.1~0.5(ms)测试方法：在计算机的控制面板上设定载频频率，调制脉冲周期，调制脉冲宽度。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率，使用HP54600B型示波器测试监控组合X13输出的发射开关信号。调制脉冲宽度测试记录载频频率（MHz）设定宽度（ms）测试宽度（ms）设定宽度（ms）测试宽度（ms）5.450.10.10.40.410.850.20.20.50.514.250.30.30.10.16.输出功率：技术指标：≥20dBm/（7dB可调，1dB步进）测试方法：在计算机的控制面板上设定载频频率，在5MHz到15MHz3范围内抽测3个频率，并分别设定输出衰减（1~7）dB；使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱。输出功率测试记录载频频率（MHz）输出功率（dB）设定衰减（dB）测试值（dB）备注5.1520.24119.2410.8520.06317.0614.4518.81711.819.相位噪声技术指标：L(1Hz)-75dBc/Hz测试方法：使用PN9000相位噪声测试系统，任选低、中、高三个频率点，用HP8662信号发生器作参考源，测试富氏频偏为1Hz至1MHz的相位噪声。10.下边带抑制技术指标：≥65dB测试方法：在计算机的控制面板上设定载频频率，在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率，使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱。下边带抑制测试记录载频频率(MHz)载频功率（dBm）边带功率（dBm）边带抑制（dB）备注45.4520.24-56.276.4410.8520.06-57.177.1614.2518.81-60.4178.8211.杂散抑制技术指标：80dB(MHz2以内)测试方法：在计算机的控制面板上设定载频频率，在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率，使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱的功率。设Span=4MHz,RBW=1KHz杂散抑制测试记录载频频率(MHz)载频功率（dBm）杂散功率（dBm）杂散抑制（dB）备注5.4519.9-58.6-78.510.8519.2-59.0-78.214.2518.7-60.2-78.912.谐波抑制技术指标：≥30dB测试方法：在计算机的控制面板上设定载频频率，在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率，使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱的功率。设Span=40MHz,RBW=1KHz谐波抑制测试记录5载频频率(MHz)载频功率（dBm）谐波功率（dBm）谐波抑制（dB）备注5.4519.7-6.826.510.8519.9-8.327.914.2518.6-1129.613.边带电平技术指标：-80dB)300(0KHzf相对载波功率测试方法：在计算机的控制面板上设定载频频率，控制激励器输出线性调频脉冲调幅信号。使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励信号输出，可用两种方法测试：1，设置频谱仪中心频率为载频频率0f，SPAN=700KHz，RBW=1Hz，分别读出0f和KHzf3000处的幅度值。2，设置频谱仪中心频率为载频频率0f,SPAN=500KHz，RBW=1Hz，先读出0f的幅值，重新设置频谱仪中心频率为KHzf3000，设置适当的参考电平，再读出KHzf3000的幅值。边带电平测试记录载频频率(MHz)载频功率（dBm）边带功率（dBm）边带抑制（dB）备注5.25-12.67-9582.330.1/1.0(ms)10.85-15.5-10286.50.1/1.0(ms)14.25-14.3-11095.70.1/1.0(ms)61.调频周期技术指标：12/24/240(ms)测试方法：在计算机的控制面板上设置“输出频率”分别为5.15MHz、14.25MHz、24.45MHz，每个频率设置两个不同的调频周期。使用HP8560E型频谱分析仪测试一本振输出，设频谱仪中心频率为载频频率0f，SPAN=500Hz，RBW=1Hz，分别读出两根相邻谱线的频率，调频周期为两根相邻谱线频率差的倒数。调频周期测试记录载频频率(MHz)设定周期（ms）测试值（ms）设定周期（ms）测试值（ms）145.1512122424150.252424240240164.4524024012124.调频频偏技术指标：20KHz/30KHz/50KHz测试方法：在计算机的控制面板上设置“输出频率”分别为5.35MHz、14.55MHz、24.75MHz，每个频率设置两个不同的调频频偏。使用HP8560E型频谱分析仪测试一本振输出，设定频谱仪中心频率为载频频率0f，SPAN=100KHz，RBW=10Hz，调频频偏测试记录载频频率设定周期实测周期设定周期实测周期7(MHz)（KHz）（KHz）（KHz）（KHz）145.3520205050150.5530302020164.75505030305.杂散抑制技术指标：≥80dB(MHz2以内)测试方法：在计算机的控制面板上设置“输出频率”分别为5.25MHz、14.85MHz、24.25MHz，设置“信号形式”为单频。使用HP8560E型频谱分析仪测试一本振输出信号的频谱的功率。设Span=4MHz,RBW=1KHz杂散抑制测试记录载频频率(MHz)载频谱（dBm）杂散谱（dBm）杂散抑制（dB）备注145.253.5-77.581154.854.17-76.8381164.253.17-78.83826.相位噪声技术指标：L(1Hz)-75dBc/Hz测试方法：使用PN9000相位噪声测试系统，任选低、中、高三个频率点，用HP8662信号发生器作参考源，测试富氏频偏为1Hz至1MHz的相位噪声。8测试结果：载频频率（MHz）相位噪声（dBc/Hz）备注145.25-75四、系统同步信号1）收发开关控制信号技术指标：1.输出电平：TTL2.脉冲周期：1.0/1.2/1.5/2.0/2.4(ms)测试方法：在计算机的控制面板上设置“输出频率”分别为6.5MHz、11.5MHz、14.5MHz，设置“信号形式”为线性调频，设置不同的调频频偏和脉冲周期，设置“系统状态”为启动。使用HP54600B型示波器测试监控组合X13输出的发射开关信号。脉冲周期测试记录载频频率（MHz）设定值(ms)测试值(ms)设定值(ms)测试值(ms)6.51.01.02.02.011.51.21.22.42.414.51.51.51.01.0