Smart ICT培训教材

附录三以下是在贵公司统计的记录:ICT机器一共27台，其中压头板和通讯卡高机器位置ICT机器名称压头板通讯卡C-ST300H-0603-002高新P3042-0304-01低低P3042-2207-02低低P3042-1905-02低低P3042-1005-01低低H-ST300-0710-001高新C-ST300-0410-004高新C-ST300-0406-001高新H-ST300-0710-002高新P3042-0404-01低低P3042-2311-02高新P3042-1805-02低低C-ST300-0603-001高新P3042-0905-01低低C-ST300-0406-002高新C-ST300-0410-003高新C-ST300-0406-003高新P3042-1206-01低低P3042-2411-02低低P3042-0504-01低低C-ST300-0406-004低低P3042-2005-02低低C-ST300-0406-005低低P3042-0605-01低低P3042-0805-01低低TH01-15711-00TH01-14711-00TH01-15611-00TH01-14611-001/1高高高高华之巨6楼ICT机器电子板高低版本统计B6栋6楼B6栋5楼B6栋4楼To:西乡伟创力版本的12台机器，低版本的15台机器.B6栋3楼B5栋3楼B5栋4楼B5栋5楼附录二1.ICT机器保养工作必需由专业人员才能开箱维护保养,非专业人员不得进行.2.对于检查出有问题的配件和电子板必需要更换和维修,绝不让带有问题的机器进行工作.三.机器保养内容及步骤:2.使用毛刷﹑风枪﹑抹布把机器内外部(包电脑主机﹑散热风扇)的灰尘杂物清理干净.3.检查机器的各种信号﹑控制﹑电源连接电线是否连接牢固可靠绝缘层没破损等不良现象.4.检查机器的各种螺丝是否紧固无松动无欠缺,特别是机械运行部份.1.断开机器总电源.5.检查气管气路是否有老化漏气等不良现象,供气气压是否在4～6bar范围内,SMARTestST300ICT机器保养作业指导书1.延长机器的使用寿命.2.确保机器使用稳定,测试精度准确.3.预防解决机器故障隐患的发生,保证生产正常.一.机器保养目的:4.保持机器整洁.二.保养机器常用工具:毛刷﹑风枪﹑扳手﹑螺丝批﹑万用表﹑镊子﹑剪钳﹑尖嘴钳﹑抹布﹑清洁液10.操作机器压头上下运动几次,检查压头是否有异常声音发出,上下运动是否顺畅.四.备注:过滤器积水较多时要及时清理干净.6.接通机器总电源.7.用万用表测量机器压头机身接地电阻是否在0.5R以下,AC供电是否在210～230VAC范围内.8.启动机器,运行ICT软件,检查机器的各个按键开关功能是否正常,接触是否良好.9.运行ICT机器自带的电子板自检程序,对ICT主板﹑压头控制板﹑通道板进行检查.附录一不可测项目和限制1、电容器较难测试或不能测试的情况。1）图８-１、当C1为小容量无极性电容器与电感量较小的L1并联时：A.C10.1UF,L100UH，C1不可测或较难测。B.C10.01UF,L1mH，C1不可测或较难测。C.C1100PF,L10mH，C1不可测或较难测。2）图８-２、当C1为小容量无极性电容器与电阻值较小的R1并联时:A.C1100PF,R120K，C1不可测或较难测。B.C11000PF,R11K，C1不可测或较难测。C.C10.1UF,R130R，C1不可测或较难测。3）图８-３、当C1为小容量无极性电容器与电容量较大的C2并联时，C1不可测。按照电容的ICT误差测试范围±30％计算，如果小容量C1容值是电容量较大C2的3/1，C1不可测。4）图８-４、小容量无极性电容器容量在（硅管C100PF,锗管C1000PF），误差设为±30%时ICT较难测出.图8-42、电阻器较难测试或不能测试的情况图８-５、当电感器L1电感量较小L10mH时，电阻R1较难测试或不能测试。图８-６、当电容器C1电容量较大和电阻R1电阻值较大时:A.C11000UF,R11K电阻R1较难测试或不能测试。B.C1100UF,R110K电阻R1较难测试或不能测试。C.C110UF,R1100K电阻R1较难测试或不能测试。D.C11UF,R11M电阻R1较难测试或不能测试。3、电感器较难测试或不能测试的情况图８-７、当电阻器R1，阻值较小时:A.R11K,L110mH电感L1较难测试或不能测试。B.R1100R,L11mH电感L1较难测试或不能测试。C.R110R,L1100uH电感L11较难测试或不能测试。图８-８、当电容器C1容量较大或其容值刚好与L1感抗谐振时:A.C11uF,L1100uH电感L1较难测试或不能测试。B.C10.1uF,L11mH电感L1较难测试或不能测试。C.C10.01uF,L110mH电感L11较难测试或不能测试。4、半导体类较难测试或不能测试的情况图８-９、当L1电感量较小L1mH时，D1较难测试或不能测试。图８-１０、当R1电阻值较小R100R时，D1较难测试或不能测试。5、极性的不可测项目。-不能分别晶体管及二极管的型号-相并联的二极管（如图11的D1,D2的极性不可测）第六章调试原理及测试方法介绍一、ICT的测试原理（隔离技术）在线测试仪ICT的功能与一个万用表的功能相似，只不过它的速度是万用表所无法比拟的，电路板上的许多零件受周围电路的影响，万用表就无法准确测试出元件的数值，而ICT使用了测试隔离技术，能将待测试零件与周围电路隔离起来，测试这些零件就显得轻松自如了，隔离技术对ICT来说如此重要，可以说没有隔离技术就没有ICT。（详细内容见SMARTEST200PLUS/398的12页）图1在上面的电路中（图1），R1是要测量的电阻，R2和R3形成一个支路与R1并联，显然恒流源输出的电流I会被R2和R3形成支路分流，即I=IR1+IR2。当运用公式R1=V/I计算R1的电阻时，会得到错误的结果。为了让恒流源流出的电流都从R1流过，系统使用一个电压跟随器在G点提供一个电压VG，使VG=VA，这样流经R2的电流IR2便为零，即IR1=I，使用公式R1=V/I便可以正确计算出R1的电阻值。注：所以在调试过程中，我们可以采用调换针号和加隔离点（G点）使调试出来的结果更加接近标准值。二、四线测试原理（小电阻、大电容、小电感）四线测试：采用电桥测试法可以消除探针与电路板之间的接触电阻，使电阻测量稳定到0.01Ω且与探针新旧基本无关。下面以小电阻为例，通过两线测试法；来比较说明四线测试法的原理。两线测试法（图2）：我们知道，从恒流源A到要测试的元件R的引线有一定的电阻，测试针和元件R之间有一定的接触电阻，我们把引线及接触电阻总合为R0（通常为0.5Ω~1Ω），根据V=I（R+R0）=I*R+I*R0可知：①当要测量的R阻值比较大（指相对R0）时，I*R可以忽略不计，测量出R值就比较精确。②当要测量的R阻值比较小（指与R0相当或者是几倍到十几倍）时，测量结果比实际数值大0.5Ω~1Ω，对于小电阻这样的结果是不行的。而使用四线测试法则可以避免这种情况。图2图3四线测试法(图3)：由于测量单元是高输入阻抗的，流经测量单元的电流为零，测量单元测的电压是R两端的电压，而非R和R0电压和，这样就消除了R0对测量结果的影响，应用公式R=V/I可以得到R的准确数值。第七章ICT的WINDOWS调试步骤当一切准备工作做好后，就开始调试针床，我们用ICT的最新WINDOWS（2.3.3）版本来调试针床并进行讲解。调试大致可分为4个步骤：1、接触测试2、开路测试3、短路测试4、元件测试下面就根据上面的4个步骤我们来详细讲解。一、打开Windows程序，导入程式。点击，进入系统后，主板会进行自检，如果自检合格，自检对话框就会自动消失，反之，自检不合格，对话框就会显示自检失败的项目。①新建一个文件File/Newproject(图3-1)②打开零件编辑器View/ComponentEditor（或按Ctrl+C或点）③导入程式File/Import(图3-2)注：因我司编程式是用DOS编辑的，其后缀名为“.dat”。所以在Filesoftype选择SmarTestDOS*（.dat）。当然我司ICT还可以转换其它公司ICT类型的程式。具体如下：图3-1图3-2二、保存文件程式导入后，就要把文件另存到指定的文件夹里（按客户/年/月）。三、开短路学习开/短路是记录PCB板上每一个针与其它针之间的电阻状态的数据结构。开/短路数据把针号组织为链（link），每条链上包含一个或多个针。一条链上的所有4之间视为短路。两条链之间的针为开路。开/短路数据通常是通过程序自动学习产生的。(图3-4)图3-4在每条链的第一列，单元格显示了针号，冒号和空格后接着是该针与其他链上所有针之间的电阻值。从第二列开始，括号里显示了该单元格中的针与同一链上与在前之其他针之间的电阻值。1、开/短路操作步骤①打开开/短路界面：开、短路测试View/OpenShortEditor（或按Ctrl+O或点）见下图3-5图3-5图3-6②开、短路参数设置：Others/OpenShortSetting或按F6（图3-4）就会产生（图3-6）的对话框：在输入针号的起始号码，如：1，在输入针号的最后号码，最好是输入最后针号的那一个插座的最大号码，如插座板上一共有3个64PIN的插座，而针板最后针号是187，那么在下面就输这个插座最后号码192。再点“OK”(图3-7)图3-7③先学习（点击Other/learn或按功能键F4或点），再测试（Other/Test或按功能键F2或点）但有时测试不稳，可以适当的调整学习门限、短路门限、开路门限或者加延迟时间或屏蔽针号（不推荐用户经常修改上述值）。注：查看系统学习完后的结果，特别是短路链。短路的原因是不是重针、小电阻或者是电路中的跳线、电感等造成的。五、接触测试图3-8接触测试是测试板是否放置在针床上。在多板测试的方案项目中，可能完操作者不会把所有的板装载进来。Smartest在真正测试之前会检测板的存在与否。(图3-8)测试原理是简单的，它测试开/短路的对话框中指定的当前4个针之间的电阻。如果任何两针之间的阻值小于625欧姆，则Smartest会认为该板装载进来，可以进行下一步测试。如果所有的接触测试针被设置为0，则接触测试将测试两个元件行。如果其中任何一个测试通过的话，则接触测试通过。IC或者Ropen类型不会被选作位接触测试的元件行。六、元件测试1、修改为使整体学习和测试的通过率高，所以，在整体学习和测试前先要修改一些测试类型、频率、电流、电压、负载等内容。①电阻：Type栏≥1K选R＜1K选Rsmall//电容选Rfast②电容：Type栏≥1uF选Clarge＜1uF选C③LED：Type栏选LED④三极管功能测试：a、NPN：Type栏选NPN；Frep选择负载67/100/200。b、PNP：Type栏选PNP；Frep选择负载67/100/200。⑤场效应管功能测试：a、NFET：Type栏选NFET；Frep选择负载67/100/200；V/I栏给的电压为±9V测其饱和导通电压、V/I栏给的电压为±1V测其截止电压。b、PFET：Type栏选PFET；Frep选择负载67/100/200；V/I栏给的电压为±9V测其饱和导通电压、V/I栏给的电压为±1V测其截止电压。⑥光藕、光电可控硅：Frep选择负载67/100/200。⑦电容极性测试：Actual、STD输入电压200mV；+%为0，-%为10。⑧跳线：Actual、STD输入电阻10R；+%为10，-%为0。⑨开路测试：+%为0，-%为10⑩稳压二极管：如果BOM已告诉我们稳压二极管的稳压电压（0～50V）注：电压大于10V，需备用的硬件支持。2、整体学习和测试按回到元件编辑器，对整个程式进行学习和测试。①（按或按Shift