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第四章材料现代分析方法概述第二节衍射分析方法概述X射线衍射分析衍射分析包括电子衍射分析中子衍射分析一、X射线衍射分析衍射方向(衍射线在空间分布的方位)和衍射强度是据以实现材料结构分析等工作的两个基本特征。德拜法(德拜-谢乐法)照相法聚焦法多晶体衍射方法针孔法衍射仪法劳埃法单晶体衍射方法周转晶体法四圆衍射仪表4-1X射线衍射分析方法的应用二、电子衍射分析高能电子衍射依据入射电子的能量大小低能电子衍射透射式电子衍射依据电子束是否穿透样品反射式电子衍射常见的三种电子衍射方法:电子衍射(透射电镜上进行,属高能透射电子衍射)(ED)反射高能电子衍射(RHEED)低能电子衍射(LEED)表4-2X射线衍射与电子衍射[TEM上]分析方法的比较表4-3电子衍射分析方法的应用第三节光谱分析方法概述原子发射光谱分析(AES)原子吸收光谱分析(AAS)原子荧光光谱分析(AFS)紫外、可见(分子)吸收光谱分析(UV、VIS)红外(分子)吸收光谱分析(IR)分子荧光光谱分析(FS)分子磷光光谱分析X射线荧光光谱分析(XFS)核磁共振波谱分析(NMR)拉曼(Raman)光谱分析表4-4光谱分析方法的应用第四节电子能谱分析方法概述X射线光电子能谱(XPS)光电子能谱紫外光电子能谱(UPS)X射线激发俄歇电子能谱(XAES)俄歇电子能谱电子激发俄歇电子能谱(AES)表4-5电子能谱分析方法光电子能谱与俄歇电子能谱分析方法的应用电子能谱分析可使用固体样品、气体样品和液体样品[液体样品应蒸发为气体或沸腾或做成载体(线)上的液体膜等]。第五节电子显微分析方法概述透射电子显微镜(TEM)可简称透射电镜扫描电子显微镜(SEM)可简称扫描电镜电子探针X射线显微分析仪简称电子探针(EPA或EPMA):波谱仪(波长色散谱仪,WDS)与能谱仪(能量色散谱仪,EDS)电子激发俄歇电子能谱(XAES或AES)表4-7电子显微分析方法第六节色谱、质谱及电化学分析方法概述一、色谱分析法气相色谱法(GC)液液相色谱法(LC)(高效液相色谱法)离子色谱法二、质谱分析法质谱分析法(MS)是基于元素(离子)的质荷比(质量与电荷的比值,m/e)进行材料定性、定量结构分析,特别是研究有机化合物结构的重要方法。三、电化学分析法
本文标题:第四章 材料现代分析方法概述
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