SPC讲义-最新3

1、第片SPC1第片SPC2ISO/TS16949质理管理体系的立足点是(TS目的)预防而非检测。统计过程控制SPC第片SPC3SPC的产生•工业革命以后，随着生产力的进一步发展，大规模生产的形成，如何控制大批量产品质量成为一个突出问题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。•1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”，对过程变量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。第片SPC4SPC是什么?•SPC------英文StatisticalProcessControl的字首简称，即统计过程控制。SPC就是应用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而达到改进与保证质量的目的。SPC强调全过程的预防。第片SPC5SPC是什么?•一种用于检测变差的工具•它能识别问题，但不能解决问题。增强产品一致性提高产品质量减少废品和返工缺陷提高产量第片SPC6统计过程控制SPC是一种前摄性手段，用于协助进行以下工作：•减少浪费•减少。

2、变差•获得高质量的产品•PDCA循环更低的单位成本第片SPC7管制圖的歷史管制圖是1924年由美國品管大師W.A.Shewhart休哈特博士在貝爾實驗室研究產品品質特性之次數分配時所發明。因其用法簡簡單且效果顯著，人人能用，到處可用，遂成為實施品質管制時不可缺少的主要工具，當時稱為(StatisticalQualityControl)。第片SPC8管制圖在英國及日本的歷史英國在1932年，邀請W.A.Shewhart休哈特博士到倫敦，主講統計品質管制，而提高了英國人將統計方法應用到工業方面之氣氛。就控制圖在工廠中實施來說，英國比美國為早。日本在1950年由W.E.Deming博士引到日本。同年日本規格協會成立了品質管制委員會，制定了相關的JIS標准。第片SPC9SQC與SPCSQC(StatisticalQualityControl)。戴明博士(Dr.Deming)所發展。SQC主要內容(美國定義強制性的戰時標準)Z1-1-1941GuideforQualityControlZ1-2-1941ControlChartMethodforanalyzingDataZ1-3-。

3、1942ControlChartMethodforControlQualityDuringProductionSPC(StatisticalProcessControl)。重視過程中的管制。SQC是SPC的前身。第片SPC10品質變異製造的產品中，其品質一定有變異存在；變異的原因如原料品質、作業方法、機器狀況等的因素，但不可能保持完全沒有變異，依變異種類可區分為機遇原因與非機遇原因。1.機遇原因：原就存在製程中的原因中，如天氣的變化，環境的影響，物料在一定範圍內的變化等，這類原因佔85%的比例，必須由管理階層的努力才能解決。2.非機遇原因：原不存在製程中的原因，約有15%的問題屬於此類，可經由基層作業員的努力來改善。第片SPC11製程中的變異來源機器Machine(首先著手)材料Materual方法Method環境Environment作業人員Men(最後著手)第片SPC12变差的种类•普通原因–由于正常的磨耗和磨损，如工具磨损。•特殊原因•非正常情况，如工具损坏。第片SPC13管制圖的功能與目的在於區別機遇原因或非機遇原因所造成的偏差機遇原因所發生的偏差在界線內A。

4、非機遇原因所發生的偏差在界線外B中心線(CL)管制下限(LCL)管制上限(UCL)BBAA第片SPC14管制圖應用時機通常在試量產時,建議用解析用管制圖(即UCL&LCL為正負3σ)當試產轉為正式生產時,我們就會將解析用管制圖轉為管制用管制圖,此時UCL及LCL就變成我們所設定的管制界線總之管制界線的判斷,要合乎品質成本與要有一定的規則,千萬不可隨興第片SPC15统计过程控制•有两种类型的SPC图：•计量型–为了得到计量型SPC图，我们需要可计算“数量”的数据，如：•孔的尺寸(32.45毫米)，厚度(0.55毫米)•温度(32度)，重量(38.98克)第片SPC16统计过程控制•计数型–为了得到计数型SPC图，我们需要得到计数型（直观)数据，如•注量不足（在注塑工序中）•油漆颜色不标准的阻流板•不完全装配•不充分焊接第片SPC17统计过程控制•计量型SPC图我们将主要研究的计量型SPC图为：–均值和极差图(和R图）X第片SPC18－R图•何时使用－R图•当有测量数据时•为了确定过程偏差•当您能获得一个大小不变的子组时，子组数大小在2－9个连续零件之间•当每件零件是在相似的条件之。

5、下而且是在很短的时间间隔生产出来时。XX第片SPC19•计算－R图参数的方法：–1.确定子组的大小，一般在2－9件零件之间。–2.确定进行测量的频率。–3.收集数据。–4.计算每个子组的平均值并将结果记录下来。–5.确定每个子组的极差并将结果记录下来。–6.在图上标出平均值和极差。–7.计算上控制线和下控制线。–8.对图进行解释。－R图XX第片SPC20－R图我们用以下运算法则计算控制线：其中K为子组数RA-X=LCLRA+X=UCLRD=LCLRDUCLkXXXXkRRRR2x2x3R4Rn21n21X和第片SPC21－R图D4,D3和A2的值n2345678910D43.272.572.282.1121.921.861.821.78D3-----0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31Xl对于样本容量小于7情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有极差的下控制限。第片SPC22－R图•练习–用附录1的数据计算UCL和LCL，以便得出数据的平均值和极差。–将数据标在图上，并确定有无任何超。

6、出控制范围的情况。X第片SPC23统计过程控制•计数型SPC图我们将主要研究的计数型SPC图为：–不合格品率的P图第片SPC24不合格品率p图•何时使用p图•当数据为计数型数据时（一种可以计数的属性）。•当您希望确定正在检验的一组产品中不合格品的比率时。•数据来自大小相等或不等的样品时。第片SPC25p图•计算p图的方法–确定子组的容量，一般大于50个零件。–确定检验的频率。–收集数据。–确定该子组中不合格品的数量。–把有缺陷的产品的数量记录在P图上。–确定有缺陷零件的比率，即有缺陷零件的数量／子组中的零件数量。–在P图上描绘该值。第片SPC268计数型数据控制图8-1P管制图P图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目的百分数。8-1-1收集数据8-1-1-1选择子组的容量、频率和数量子组容量：子组容量足够大（最好能恒定），并包括几个不合格品。分组频率：根据实际情况，兼大容量和信息反馈快的要求。子组数量：收集的时间足够长，使得可以找到所有可能影响过程的变差源。一般为25组。8-1-1-2计算每个子组内的不合格品率（P）P=np/n第片SPC27n为每组检验的产品的数量；np为每。

7、组发现的不良品的数量。选择控制图的坐标刻度8-1-1-3选择控制图的坐标刻度一般不良品率为纵坐标，子组别（小时/天）作为横坐标,纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。8-1-1-4将不合格品率描绘在控制图上a描点，连成线来发现异常图形和趋势。b在控制图的“备注”部分记录过程的变化和可能影响过程的异常情况。8-1-2计算控制限8-1-2-1计算过程平均不合格品率（P）P=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/(n1+n2+…+nk)第片SPC28式中：n1p1；nkpk分别为每个子组内的不合格的数目n1；nk为每个子组的检验总数8-1-2-2计算上下控制限（USL；LSL）USLp=P+3P(1–P)/nLSLp=P–3P(1–P)/nP为平均不良率；n为恒定的样本容量注：1.从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之变化。2.如果LSL的计算结果为负值，则LSL应为默认值0。第片SPC29p图•课堂练习–用附录5中的数据计算P图的UCL和LCL。–把数据标在图上并确定是否有任何超出控制范围的情况。第片SPC30什么是6？6的目的旨在最终实现无差。

8、错业务实绩。每100万个机会中只有3.4个问题的6标准是对顾客期望值日益提高和现代产品复杂性日益增加所作出的反应。第片SPC31什么是6？为低质量付出的代价（占收入的％）等级第片SPC32其它全球性公司的说法•据通用电气公司估计，3或4与6之间的差值致使他们每年因低效率和生产率降低而损失80亿至120亿美元。利润通用电气公司利润估计为20亿美元增加的利润提高效率减少浪费缩短循环提高市场占有率第片SPC33GE與61995年末開始推行6推行6節約的成本收益3億美圓/19977.5億美圓/199815億美圓/1999；利潤率從13.6%/1995提高到16.7%/1998市值突破30,000億美圓第片SPC34过程能力研究什么是Ppk和什么是Cpk第片SPC35过程能力研究•Ppk的定义由25个或更多个子组进行的初始过程能力研究估计的标准差TS16949要求Ppk必须大于或等于1.67第片SPC36持续过程能力研究•PpK的计算12)(nXXisSSMINZPpkLSL-XZ,X-USLZ)Z,Z(Zmin,3minLSLUSLLSLUSL第片SP。

9、C37过程能力研究•Cpk的定义对稳定过程进行的持续过程能力研究。TS16949要求CpK必须大于或等于1.33。第片SPC38过程能力研究•CpK的计算nd221.12831.69342.05952.32662.53472.70482.84792.97103.078113.173123.258133.336143.407153.47222RLSL-XZ,RX-USLZ)Z,Z(Zmin,3minLSLUSLLSLUSLddMINZCpk。