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LITEONGROUPSILITEKCORPORATIONPreparedBy:MichelLiu2001.07.30LITEONGROUPSILITEKCORPORATION一.查檢表二.柏拉圖三.層別法四.特性要因圖五.散佈圖六.直方圖七.管制圖LITEONGROUPSILITEKCORPORATION1.定義:一種便于收集數據,使用簡單記號填記或數字填寫並經統計整理,以作一步分析或作為核對,檢查用的一種表格或圖表.2.設計要領:A.能迅還、正確、簡易地收集到數據,記錄時只要在必要項目上加注記號或填寫數字.B.記錄時要考慮到層別,按人員、機台、原料、時間等分別調查.C.數據履歷要清楚-----由誰查檢、查檢時間、查檢期間、查檢方法、查檢班別、查檢機台…均應指明清楚,其他測定或檢查條件也要正確地記錄下來.D.盡可能以符號、數字記入,避免使用文字,不得已用數字和字詞時,亦應簡潔正確.E.查檢項目不宜太多,以4-6項為原則,其他可能發生的要因評為”其他”項.一.查檢表LITEONGROUPSILITEKCORPORATIONF.最好能一次記錄下來後,就能表示出圖表狀況來.G.如能使用寫實圖形,更可一目了然.H.收集數據的目的要明確.I.預留空位,以供在實際查檢中可再增列事先來考慮到而發生次數很多項目.3.作法:A.明確目的-----將來要能提出改善對策及數據,固之必需把握現狀解析與使用目的相配合.B.決定查檢項目-----從特性要因圖圈選的4-6項決定.C.決定抽檢方式-----主檢,抽檢.D.決定查檢方式-----查檢基準,數量,時間與期間,對象之決定,並決定收集者,記錄符號.E.設計表格實施查檢.LITEONGROUPSILITEKCORPORATION項目廠商類型交貨批退貨批批退率產線投入數產線退貨數(IR)產線DPPM1益卓Plastic22600.0%46982196181322新永Plastic4100.0%502200871733允泰Plastic6211.6%3306000272824英濟Plastic7900.0%103131062605美泰Plastic28120.7%6519345708746信柏Plastic4400.0%3659502316317協隆Plastic9122.2%4831922194538美佳Plastic1000.0%19600136639興三愛Metal/Rubber1600.0%5956839315610濱川Metal7900.0%74363224132411旭基橡膠Metal/Rubber6000.0%119439913711512廣上科技PCBA2114.8%10569613751300913鴻城PCBA3126.5%15573512658123備注MATERIALQUALITYREPORT(Apr.)1.統計日期:4/1~4/30.3.產線DPPM由IQC工程師依據四月份退貨數及產線總投入數統計分析所得.2.批退率由IQC工程師依據四月份批退數及進料總批數統計分析所得.LITEONGROUPSILITEKCORPORATION1.定義:在很多不良現象中,找出其中前幾項重要的不良項來進行控制.2.作法:A.決定其分類項目的內容(不良項目以七種為原則).B.決定項目(不良發生)期間,以便收集數據.C.依數據大小順序排列.D.計算出累積數和累積比率.E.繪出柱形圖.F.盡出累積曲線.G.記錄數據的履歷(時間、記錄者、目的等),記載事項.二.柏拉圖LITEONGROUPSILITEKCORPORATION不良現象CN7空焊CN4浮高CN2錫短路CN5腳彎T1浮高其它合計不良數443936151212158不良率27.85%24.68%22.78%9.49%7.59%7.59%100.00%累計不良率27.85%52.53%75.32%84.81%92.41%100.00%審核:JoeChi作成:馬華華Scannermainboard不良項目柏拉圖(May)生產數:38763PCSMainBoard不良柏拉圖44393615121227.85%52.53%75.32%84.81%92.41%100.00%05101520253035404550CN7空焊CN4浮高CN2錫短路CN5腳彎T1浮高其它不良現象不良數0.00%20.00%40.00%60.00%80.00%100.00%120.00%累積不良率不良數累計不良率LITEONGROUPSILITEKCORPORATION1.定義:為區別各種不同原因對結果之影響而以種種原因為主體,分別作統計分析的方法.2.功能與用途:在透過種種分層,依各層收集數據以尋找不良所在或最佳條件,以為改善品質的有效方法.3.層別的對象與項目:A.時間的層別.B.作業員的層別(班,組,操作法,熟練度,年齡,性別…)C.機械,設備的層別.D.原材料的層別.E.測定的層別(儀器,方法,人員等).F.檢查的層別(檢查員,場所,方法等).G.地區的層別.H.環境,氣候的層別.I.制品的層別(新舊,標準品,特殊品等).J.其他(良品與不良品,包裝,搬運方法別等).三.層別法LITEONGROUPSILITEKCORPORATION查檢表DVD功能測試站,收集一週不良機台150台,可瞭解不良排行為5A,5B,5C.日期:11/1---11/7站別:功能測試站產品:DVD-ROM領班:組長:日期11/111/211/311/411/511/611/711/811/911/10合計5A61099565505B4786736415C23453572923234243220Other213211010小計16242824201820150LITEONGROUPSILITEKCORPORATION1.定義:對于結果(特性)與原因(要因)間或所期之效果(特性)與對策間的關系,以箭頭連結,以尋求詳細原因或對策的一種圖形.2.作法:A.決定問題(或品質)的特征:未作之前,應先決定問題(或品質)的特性,如不良率,停機率,送疹率,抱怨的發生,外觀不良,尺寸不良等有關品質低下的問題特性加以確定.B.準備適當的紙張,劃制圖的骨架,將特性寫在右端自左劃上一條較粗的干線,就是代表制程.並在干線的右端一指向右方的箭頭,在工作現場可用筆劃在一張較大的紙上貼于現場.C.把原因分成幾個大類,每大類劃于中骨上,且在以方框圈起來,加上箭頭的大分枝,稍斜的(60度)插到母線,此大分枝稱子枝,大原因可依制程別分類,一般分為人,機械,材料,方法,量測及環境(即5M1E).D.探討大原因的原因,再細分為中,小原因,將其記入小骨及板骨上,細分中,小原因時,應注意必須能采取對策者為主要條件,且有因果關系者于同一中小枝骨內,無因果關系者則否.E.決定影響問題點的重點.在所到出的原因中認為影響較大的畫上紅圈,再從畫上紅圈的原因中指出認為影響更大的畫上紅圈,一直討下去,最後圈選出重要原因4-6項.四.特性要因圖LITEONGROUPSILITEKCORPORATION特性要因分析圖塑膠件外觀黑點不良分析塑膠件外觀黑點不良料溫過高成型條件加料速度過快背壓過高原料本身有雜質原料流動性差原料料袋未清凈加料員品質意識不夠局部摩擦產生鐵屑模具滑塊,頂針等油污過多模具表面靜電吸塵熱澆道溫度不穩定成型機料管使用太久烘料桶,進料風口積污過多料管之螺杆頭,止逆環,杆壞磨擦料管壁LITEONGROUPSILITEKCORPORATION對策要因分析圖不良原因執行日期持續持續模具磨損持續持續持續原料不良6月15日對策鎖模力,達至保護模具目的2.調整機器使用正常的低壓,高壓,1.現場模具的定期維護,保養6.變更材質成型條件變更3.每天要求定時清洗模具表面(2小4.在機臺上挂標準成型條件表5.IPQC人員每天檢查實際生產的成型條件與標準成型條件是否一致時一次)改善黑點不良防止成型條件不當加強SOP管制品管加強監督降低模具磨損量正確操作成型機進行模具保養一級保養二級保養三級保養改善原料品質IQC加嚴檢驗更換材質LITEONGROUPSILITEKCORPORATION1.定義:為了研究兩個變量間的相關性,而搜集成對二組數據,在方格紙上以點來表示出二個特性值之間相關情形的圖形.2.功能與用途:A.知道兩組數據之間是否有相關及其相關程度.B.把材料,機械設備,作業者,作業方法….可能影響的原因層別,繪制散布圖,可檢討何者影響結果.C.檢視是否有離島情形.D.抽樣檢驗中,若某品質之特性的測試成本高或困難則可采用與此特性有關系存在的另一個測試成本較低或測試容易之特性,以降低檢驗成本.E.管制圖中,若同一制品之二特性間有密切間關系時,則可舍去其中一個管制圖,以降低預防成本.F.兩組數據間若成直線變化,可依散布圖求至直線方程式以為訂定標準之用.五.散佈圖LITEONGROUPSILITEKCORPORATION3.作法:A.收集10組以上的相對數據,整理到數據表上.B.找出數據X,Y之最大值及最小值.C.畫出縱軸與橫軸(或是判斷要因與結果之關系,則橫軸代表原因,縱軸代表結果)並取X及Y之最大值與最小值差為長度畫刻度.yyyxxx正相關負相關無(零)相關yyxx弱相關強相關4.相關分析(CorrelationAnalysis)LITEONGROUPSILITEKCORPORATION實例解說1.收集數據並作出散佈圖組號12345678910輸入電壓(mv)202001004003006005008007001000輸出電壓(mv)0.22143658710系列LITEONGROUPSILITEKCORPORATION組號xi(輸入電壓)yi(輸出電壓)xi2yi2xiyi1200.24000.0442200240000440031001100001100440041600001616005300390000990066006360000363600750052500002525008800864000064640097007490000494900101000101000000100100002.計算相關系數並作相關分析A.整理相關數據LITEONGROUPSILITEKCORPORATION))(1*1/()(112221121111nininninininniyinyixinxiyixixiyir)()()(yysxxsxys簡記為:B.計算r=13.回歸直線nininininixinxiyixinxiyib1122111)(1*1)()(xxsxys簡記為:ninininininixinxixixiyinxiyina112211112)(111b=0.01a=0LITEONGROUPSILITEKCORPORATIONy=a+bx=0.01x所求回歸直線為:yu=a+3s+bxyl=a-3s+bx2)()1(2nyysrs4.回歸直線之管制其中:S=0LITEONGROUPSILITEKCORPORATION組號12345678910輸入電壓(mv)202001004003006005008007001000輸出電壓(mv)0.22143658710系列1线性(系列1)回歸直線LITEONGROUPSILITEKCORPORATION六.直方圖1.定義:是將所收集的測定值或數據之全距分為幾個相等的區間作,2.功能與用途:知道分布中心的傾向及瑕疵程度,作為制程改善的依據.3.作法:(1)次數分配表A.由全體數據中找出最大值(L)與最小值(S)(各行之間).B.求出所有數據中之最大值與最小值之差(即全距“R”).為橫軸並將各區間內之測定值所出現次數累積而成的面積用柱子排起來的圖形.LITEONGROUPSILITEKCORPORATIONC.決定組數D決定組距.(組距=全距/組數).F.計算各組的且中點.(各組的
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