2013年全国统考无损检测射线部分课件2

13)、曝光曲线的应用（1）、选择曝光条件曝光曲线主要是用来选择曝光条件的，选择条件有两种方法。a．一点法所谓“一点法”，就是从曲线上直接查出与工件厚度相对应的KV值和曝光量E的值，这种方法主要用于厚度均匀的工件。2b．两点法对于厚度不均匀的工件，用一点法确定曝光条件时，以某一厚度选取的条件可能使其它截面下的黑度超出规定的范围，因此需采用所谓的“两点法”来选取曝光条件。3“两点法”的要点：查出工件的最小厚度T1和最大厚度T2；从两厚度点作垂线分别与一千伏线相交；从交点作横轴平行线分别与纵相交于E1和E2，计算曝光量之比；由所用胶片的特性曲线求出标准规定的最大黑度与最小黑度所对应的曝光量的比值；比较与的大小，若，则T1或T2所对应的KV和E均可选取。若＞，则应提高千伏值，使。12'/EE121012LgELgEEE''''4（2）.材料改变时曝光曲线的应用a．射线照相等效系数：所谓射线照相等效系数是指在一定的管电压下，达到相同吸收效果的基准材料厚度与被检材料厚度之比，即一般以钢作为基准材料（），然后给出各种材料在不同的射线能量下相对于钢的射线照相等效系数。m0TmTmmTT01钢5b．材料等效厚度的计算知道了材料的射线照相等效系数，就可以计算出在一定的射线能量下与这种材料相当的钢的厚度。例题:已知铝的射线照相等效系数=0.08，则50mm厚的铝相当于钢的厚度为=500.08=4(mm)c.确定曝光条件:计算出材料相当于钢的厚度,就可用钢的曝光曲线确定材料的曝光条件。例如,由上面的计算知道50mm的铝相当于4mm的钢,则用4mm钢的曝光条件便可对50mm厚的铝件进行透照。铝铝钢TT6（3）、曝光曲线的特殊用途a.求平均半价层和平均吸收系数要确定某一管电压下的平均半价层，可在曝光曲线上选取两个曝光量E1和E2，使E2=2E1。从曲线上求出E1和E2对应的厚度值T1和T2，则平均半价层：平均吸收系数12TTHH693.07b.大致确定底片黑度范围透照截面厚度不均匀的工件时，往往按照某一截面来选择曝光条件，在这种情况下，底片上其它截面的黑度可利用曝光曲线和胶片特性曲线大致确定。例如，透照母材厚度为8mm、余高为5mm的焊缝，我们往往用焊缝厚度选取曝光参数，如果曝光曲线确定的底片黑度为1.8，哪么母材处的黑度是否会超过3.5呢？设所用曝光曲线和胶片特性曲线如下图所示。8由曝光曲线可知母材与焊缝的曝光量之比Ψ=25/10=2.5；由胶片特性曲线可知，黑度1.8与3.5的曝光量之比1.21067.30.4''5.3母D9母材下的黑度也可大致估算出来，设对应的相对曝光量对数为x，则由以上计算由胶片特性曲线上查得，LgE=4.07，对应的黑度D为3.9。母材下底片黑度大约为3.9。67.3105.2x7.40679.43979.05.267.3xLgx104、散射线及其控制1）、散射线来源及分类射线穿透物质时，会与物质相互作用而发生吸收和散射，其中散射主要是由康吴效应造成的。与一次射线相比，散射线能量变低、波长变长、方向改变。因此，射线透照时，凡是受到射线照射的物体都是散射源,例如试件、暗盒、墙壁、地板、甚至空气都是散射源，其中试件自身往往是最大的散射源。11按散射线的方向，散射线分三类：a.“前散射”--来自暗盒前方的散射，主要来自工件；b.“背散射”--来自暗盒背面的散射，是由暗盒后面的地板或墙壁产生的，它使整个底片影象模糊；c.“侧散射”--来自试件周围的物体，如墙壁等，或是试件厚薄交界处较薄部位的射线向较厚部位的散射。“侧散射”会使底片产生所谓的“边蚀”，使影象轮廓模糊不清。12132）、影响散射线的因素散射线的大小主要受下列因素的影响：（1）.照射场的大小—照射场较小时，散射线随照射场的增大而增大；照射场较大时，其大小对散射线几乎没有影响。（2）.射线能量—在工业射线照相应用范围内，散射线随能量增大而减小，但背散射随能量增大而增大。（3）.试件厚度—散射线随试件厚度增大而增大。143）、散射线控制措施受射线照射的物体都产生散射线，所以散射线无法消除，只能通过一定的措施加以控制，以减小散射线的影响。常用的控制散射线的措施主要有以下几种：（1）.铅罩和光阑—在射线管窗口加铅罩或光阑，以减小照射场的面积。（2）.使用遮蔽物—用铅板遮盖试件边缘曝露的暗盒，以减小侧散射的影响。（3）.背防护铅板—在暗盒背面垫铅板或使用较厚的铅增感后屏，以减少背散射的影响。15（4）.滤板—在射线管窗口加一定厚度的黄铜、铅或钢滤板以吸收能量较低的软射线，提高射线有效能量，从而减少散射线的影响，但这种方法往往会降低射线照相对比度。（5）.厚度补偿物—对厚度差较大的试件，可使用厚度补偿块或流质补偿物（如流质吸收剂或金属粉末）补偿，以减少散射线的影响。（6）.选择合适的射线能量—对于小管之类的试件，可适当提高射线能量、减少曝光时间来减少散射线的影响。165、射线检测工艺规程射线检测工艺规程包括：通用工艺规程工艺卡（1）射线检测通用工艺规程的编制a、射线检测通用工艺规程应根据相关法规、产品标准、有关的技术文件和相应标准的要求，并针对本音位的特点和检测能力进行编制。射线检测通用工艺规程应涵盖本单位（制造、安装或检测单位）产品的检测范围。17b、射线检测通用工艺规程至少应包括以下内容：a）适用范围；b）引用标准、法规；c）检测人员资格；d）检测设备、器材和材料；e）检测表面制备；f）检测时机；g）检测工艺和检测技术；h）检测结果的评定和质量等级分类；i）检测记录、报告和资料存档。j）编制（级别）、审核（级别）和批准人；k）制定日期。18（2）射线检测工艺卡的编制a、射线检测工艺卡应根据无损检测通用工艺规程、产品标准、有关的技术文件和相关标准的要求编制。b、工艺卡一般应包括以下内容：a）工艺卡编号；b）产品名称，产品编号，制造、安装或检验编号，锅炉、压力容器及压力管道的类别、规格尺寸、材料牌号、材质、热处理状态及表面状态；c）检测设备与器材：设备种类、型号、规格尺寸、检测附件和检测材料；19d）检测工艺参数：检测方法、检测比例、检测部位、标准试块或标准试样（片）；e）检测技术要求：执行标准和验收级别；f）检测程序；g）检测部位示意图；h）编制（级别）和审核（级别）人；i）制定日期。206、特殊工件透照工艺1）、大厚度比试件透照技术a.大厚度比试件的特点试件厚度差较大导致底片黑度差较大，超出标准允许的范围试件厚度变化导致散射比增大，产生边蚀效应。b.大厚度比试件透照技术适当提高管电压，增大宽容度，降低对比度双胶片技术。补偿技术。212）、小口径管环缝透照（1）.小口径管及其特点：小口径管一般是指D0≤100的管子。小口径管透照的特点主要有以下几点：a．透照厚度变化大。最小厚度为壁厚两倍（2T），最大厚度为射线束与内圆相切时的射线行程（），故透照厚度比为：因此透照时黑度变化大，横裂检出角大。)(2TDTTTDTk)(22b．散射线影响大。由于管子与暗盒线接触，两侧“边蚀”现象严重。（2）、透照工艺技术a.小径管采用双壁双影透照，当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：T（壁厚）≤8mm；g（焊缝宽度）≤Do/4椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右。b.不满足上述条件或椭圆成像困难时可采用垂直透照方式重叠成像。23c.透照次数小径管对接接头100%检测的透照次数：采用倾斜透照椭圆成像：T/Do≤0.12,相隔90°透照2次。T/Do＞0.12,相隔120°或60°透照3次。垂直透照重叠成像：一般应相隔120°或60°透照3次。由于结构原因不能进行多次透照时，经合同各方同意，可不按100%检测的透照次数要求，允许采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次，此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。24d．象质计及其放置小径管可选用通用线型像质计或专用（等径金属丝）像质计，金属丝应横跨焊缝放置。像质计应置于源侧，当无法放置在源侧时，可将像质计置于胶片侧。e．透照技术﹡椭圆控制：为形成椭圆，一般需将X射线管焦点从环缝中心沿管轴线偏移一定距离：式中：L1--焦点到管表面距离；L2--管表面到胶片距离；b—焊缝宽度；g—椭圆投影间距。F-焦距.D0-管外径)()(000210gbDDFSgbLLS25﹡透照参数可适当采用较高的管电压和较短的曝光时间，以减小散射线的影响。﹡散射线防护管子两侧应用铅板遮蔽，以防止侧散射的影响。﹡标记必须在管子射源一侧的焊缝中心放置定位标记，其它标记可放于管子上的适当位置，但不得遮盖焊缝影象。2627例题：用2005X射线机透照φ51×3.5的管子环焊缝，已知焦距F=600mm,焊缝宽度b=10mm。求椭圆间距g=5mm时的透照偏移距离S(不考虑焊缝余高)。)(161)510(5151600)(00mmgbDDF：S解283）、球罐γ射线全景曝光工艺(1)、设备和器材设备--γ射线探伤机射源—一般用192源，活度应尽可能大，使曝光时间控制在24小时内，以防增大底片灰雾度胶片—使用细粒胶片，如天津V型或类似胶片增感屏—铅屏，前屏厚0.1mm、后屏0.16mm暗盒—通常用塑料暗盒，有条件可使用真空暗盒。其它—布片带、磁铁、胶带、铅字、象质计等监测仪器—γ剂量仪和个人监测仪器。29（2）.工艺程序和要点划线--主体焊缝360×100胶片，人孔焊缝240×100胶片。搭接长度按20-30mm。编号和标记--每张底片应有焊缝编号、底片顺序号、搭接标记，每条焊缝的首张底片上还应有球罐编号、拍片日期等象质计--至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计;布片---暗袋必须与罐体贴紧，下球体的暗袋需用磁铁或胶带加固。30送源--要保证源位于罐体中心。可用一根尼龙绳沿上下人孔拉紧，将源头导管固定在罐体中心，将源摇到源头位置。曝光--按予定曝光时间，提前10--20%时间取一张胶片进行暗室处理，确认曝光时间达到规定后，再停止曝光。收源---曝光结束后，立即将源摇回源罐，并用监测仪测量，确认源已摇回。取片---取片要轻拿轻放，防止胶片弯折。洗片---严格控制处理条件，认真操作，防止因处理不当造成废片。31（3）、曝光时间计算可用γ射线曝光计算尺或用公式计算曝光时间。公式计算法：)1(2/2nAKXRtrTh32式中：t—曝光时间（h）;X—照射量（C/kg）;R—源到胶片距离（mm）δ—透照厚度（mm）；Th—半价层（mm）；A--射源活度（Bq）；--Ir192常数n—散射比rK)72.4102.32212mCihcmRBqKghcmC或33•天V型胶片的X实验值如下供参考：•Ir192透照厚度δ与Th和n值对照表：34(4)、注意事项拍片死区---射源导管下方存在死区，主要是下人孔焊缝和部分下极板拼缝，具体范围应通过实测，这些部位要进行补拍。夏季曝光---夏日球罐受太阳暴晒，温度过高，应尽量在晚上完成曝光。如果白天透照，应用防风棚遮盖，防止太阳暴晒。35(5)、安全防护根据GB4792“射线卫生防护标准”，一般可将照射率控制在安全距离公式为：式中其它符号与曝光时间计算公式相同。曝光时应在大于Rx的范围外设置警戒线和指示灯，并在四周设专人监护。hkgcNx/1042.5721/)21(hTxrxNAKR射线检测培训第五章暗室处理技术36371、暗窒基本知识（1）、暗窒基本要求a.暗窒要有足够的空间，不宜过小、过窄。b．暗窒应分为干区和湿区，并有相当的距离，以防胶片污染。c．干区和湿区的设备均应按操作顺序排列。d．暗窒要完全蔽光，进口应设计成迷宫式或双重门，墙上应设计胶片传递箱。e．暗窒应远离化学等污染源，如与透照间相邻，射线屏蔽应充分。