SPC 初级教材

SPCSTATISTICALPROCESSCONTROL統計制程管制初級教育訓練教材何謂SPC?定義:SPC:即統計制程管制(StatisticalProcessControl),是利用統計方法達到制程管制的技術.目的:改進並確保品質,使得由于被拒收或其它原因而導致的制程成本降至最低.管制圖的種類:分類計量值管制圖計數值管制管制圖的種類:計量值管制圖平均值與全距管制圖:X-RChart中位值與全距管制圖:X-RChart個別值與移動全距管制圖:X-RmChart平均值與標準差管制圖:X-SChart~計數值管制圖不良率管制圖Pchart不良數管制圖Pnchart缺點數管制圖CChart單位缺點數管制圖UchartG-COM廠內管制圖之使用位置:工作段制程管制圖控制參數樣本單位錫膏印刷X-RChart錫膏厚度5點/PCB/小時/線,bymodel回焊爐最高溫X-RChart最高溫5點/PCB/班,bymodelSMT回焊爐升溫斜率X-RChart升溫斜率5點/PCB/班,bymodelSMT目檢UChart單位缺點數目視板數/2小時/線,bymodelSMTICTPChart不良率測試板數/2小時/線,bymodelH/I目檢UChart單位缺點數目視板數/2小時/線,bymodel基板預熱溫度X-RmChart預熱溫度4小時量一次或換機種時H/I助焊劑比重X-RmChart助焊劑比重4小時量一次或換機種時錫爐溫度X-RmChart錫溫4小時量一次或換機種時T/U目檢UChart單位缺點數目視板數/2小時/線,bymodelT/UICTPChart不良率測試板數/2小時/線,bymodelF/T測試檢查PChart不良率測試板數/2小時/線,bymodelPACK目檢UChart單位缺點數目視板數/2小時/線,bymodelT/U管制圖之計算方式:X-RChart之計算XChartRChart上限UCLx=X+A2RUCLR=D4R中心線CLx=XCLR=R下限LCLx=X-A2RLCLR=D3R∵n=5∴D4=2.114D3=0A2=0.577X:上月(歷史資料)統計結果R:上月(歷史資料)統計結果X:每次量測之平均值R:每次量測之全距作業方式:(1).錫膏印刷機操機員或專人每小時(或更換機種時)取四片PCB(二片為前/左刮,二片為后/右刮),量測5個重要位置,算出X及R,將數據填寫于兩份管制圖上(一份為前/左刮,一份為后/右刮),分機種制作.(2).SMTProfile測試員每天每班(或更換機種時)應對回焊爐進行量測,并將管制圖,分機種制作.(3).每月月底檢討該月生產狀況,算出每種錫膏厚度規格的X、R及管制上下限,來判斷管制標準是否需做進一步修正.UChart之計算UChart中心線CLu=U=LCLL=U-下限上限UCLu=U+ΣCΣn3√Un=U+3√√n3√Un=U-3√√nUUU:上月歷史資料統計結果(平均單位缺點數)C:每2小時之缺點數n:每2小時之生產目檢數量U:單位缺點數U=c/n*1000000DPPM注:下限值為0,U&UCL之單位均為DPPM作業方式:(1).領班於該線生產中,統計出該線這2小時所目視檢查之數量、缺點總數,算出其U、UCL,繪於管制圖上.(2).管制圖分班別,機種別制作.(3).每月月底統計出該月之平均單位缺點數U,來判斷管制標準是否需做進一步修正.PChart之計算:PChart中心線CLp=P=上限下限UCLp=P+3LCLp=P-3ΣdΣn√P(1-P)n=P+3√P(1-P)√n√P(1-P)n=P-3√P(1-P)√nP:上月歷史資料統計結果(平均不良率)d:每2個小時生產之不良數n:每2小時測試數量P:不良率P=d/n*1000000DPPM注:下限值為0,P&UCL之測量單位均為DPPM.作業方式:(1).領班每2小時統計其所測試之數量、不良數,算出其P、UCL,繪於管制圖上.(2).管制圖應分班別,機種別制作.(3).每月月底統計出該月之平均不良率P,以判斷管制標準是否需做進一步修正.X-RmChart之計算:XChartRmChart上限UCLx=X+E2RmUCLRm=D4Rm中心線CLx=XCLRm=Rm下限LCLx=X-E2RmLCLRm=D4Rm∵n=2∴E2=2.66D3=0D4=3.267X(bar):上月歷史資料統計結果Rm=∣Xi-Xi+1∣Rm=(上月歷史資料統計結果)Rm:移動全距K:樣本組數n:一次取用的測定值個數ΣRm/K-n+1作業方式:(1).錫爐操作員每4小時量一次或換機種時量測一次,算出其移動全距rR后,將X及R繪於管制圖上.(2).每月月底統計出該月之X及Rm,以判斷管制標準是否需進一步修正.管制圖之異常型態:作業人員在執行管制圖時,需注意下列異常現象,以判斷制程是否異常,而做進一步的更正與處置.異常現象:(1)任何一點超出管制界限A區B區C區C區B區A區UCLCLLCL(2)連續7點在中心線的上方或下方A區B區C區C區B區A區UCLCLLCL(3)連續7點上升或下降A區B區C區C區B區A區UCLCLLCL制程能力Ca-制程準確度CP-制程精密度Cpk-制程能力指數計算公式:實際平均值-規格中心值規格公差/2Ca=x100%=X-uT/2x100%T=Su-SL=規格上限-規格下限=規格公差規格公差6個估計標準差Cp==T6σ雙邊規格(4)連續3點中有2點在距離中心線的2/3處(A區).A區B區C區C區B區A區UCLCLLCL(5)點的排列具有規則性(周期性).A區B區C區C區B區A區UCLCLLCL等級A+ABCDCaCa≦12.5%12.5%Ca≦25%25%Ca≦50%50%Ca1.67≦Cp1.33≦Cp1.671.0≦Cp1.330.67≦Cp1.0Cp0.67Cpk0.67CpCpk1.67≦Cpk1.33≦Cpk1.671.0≦Cpk1.330.67≦Cpk1.0規格上限-實際平均值3個估計標準差Cpu==Su-X3σ單邊規格X-SL實際平均值-規格下限3個估計標準差或CpL==X-SL3σ單邊規格Cpk=(1-Ca)xCp或Cpk=Min(Cpu,CpL)Ca,Cp,Cpk等級