stm32F373-sdadc测试

STM32F373CCT6之SDADC试用平凡的阳光想使用stm32的sdadc，但看到网上有人说，stm32的sdadc不准确，在0.5V以上时偏差较大；甭管怎么说，先试试看。使用外部电压基准，测量dac输出电压，dac为无缓冲模式，后接洞洞板上的ad8629跟随，ad8629的输出接adc与sdadc；此外还监测了stm32F373内部温度传感器，纽扣电池电压，参考电压；数据通过串口输出，经Excel处理成图。由于纽扣电池没安装，测到的是Vcc经过2个二极管后的电压，它经内部分压后测其半电压值；Vref默认也为分压后测其半电压。Dac输出0-4095，每个电平经adc与sdadc各取3个样点。想知道sdadc在不同增益下的表现，故将各增益分别列出。由于sdadc结果有正负，在0V时会有负值出现，对此做了绝对值处理；在增益为0.5时，等于Vref的电平输出结果为32767。为方便比对，将sdadc取值范围由（0-32767）换算到（0-4095）。不同增益下的测试数据，成图如下：增益=0.5：增益=1：增益=2：增益=4增益=8增益=16增益=32当外部温度变化时，它们会怎么样，用热风枪吹芯片，使其温度变化，可以见见温度的影响，顺便瞧瞧内部温度传感器的表现。测试数据是连续的，但Excel不支持太多的数据成图，便把数据1分为3，分别成图；大体对应变温的三个阶段：1：热风枪加温---吹热风2：自然冷却3：加速冷却---吹常温风，约22摄氏度关于sdadc的增益，共有7级：0.5、1、2、4、8、16、32其中16与32为数字增益，何为数字增益，据说是用的滤波器增益，这部分增益有何不同：本次测试在0V附近测不准，应是地处理不当；在32倍增益时，测量的电压在0.05V以下，地电平影响较大，数据量小且不可靠，无法判别数字增益的差异。差分测量，似乎与共模电平有关连，还没找到解决办法。想拿它直接测热电偶，就目前来看欠妥，须在其前端加信号处理电路。增益=0.5_1：增益=0.5_2：增益=0.5_3：增益=4_1：增益=4_2：增益=4_3：增益=16_1：增益=16_1：增益=16_1：增益变化时，噪声会如何变化，可以换算sdadc值，使之与adc值靠近比对。增益=1_增益噪声：增益=8_增益噪声：增益=32_增益噪声：归结：诚如网友所说，sdadc在测量电压0.5V时，偏差较大；但就以上的测试数据，可以看出这个偏差是由于斜率不同造成的，也就是说这个偏差容易修正。还可以看到，sdadc确实比adc稳定度高一些，温度传感器，对于测外温度而言，可能靠不住。由于Vref使用了外部3V基准电压源，没有看到温度对sdadc有显著的影响。