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、341JOURNALOFTHEGRADUATESVOL.34№12013SUNYAT-SENUNIVERSITYNATURALSCIENCES、MEDICINE2013SIMS*虞鹏鹏1,2,3(1.广东省地质过程与矿产资源探查重点实验室,广州5102752.中山大学地球科学系,广州5102753.中山大学地球环境与地球资源研究中心,广州510275)【】离子探针(Secondary-ionmassspectrometry,SIMS)是一种固体原位微区分析技术,具有高分辨率、高精度、高灵敏等特征,广泛应用于地球化学、天体化学、半导体工业、生物等研究中。本文主要阐明了SIMS技术的原理、类型及其特点,综述了在地球科学方面的某些研究,对比了不同微区分析技术的特点,最后,介绍了SIMS技术在黄铁矿微量元素原位微区分析的应用。【】离子探针原理;地球化学;天体化学;原位微区分析;黄铁矿Secondary-ionmassspectrometrySIMS、、。ppm-ppb。、、、。SIMS。1SIMS1.1。O-/O+2Cs+。。0.01-10%。*2013-03-25虞鹏鹏,中山大学地球科学系2012级硕士研究生,地球化学专业;E-mail:562898787@qq.comSIMS。、、、1。11CamecaIMS-1280O-、O-2、O+、O+2Cs+。PBMF。Pb、U、Th、Ti、Li。C、N、O、SCs+。Cs+。CamecaIMS-1280。10KeV10KeV“”100。。。、、、、、。。。CamecaIMS-1280。1E6cps、6.3E9cps6.3E8cps。L2、L1、C、H1、H217%L2H2。。73、○。。。。1.2SIMS。。。。2。。20。。。NanoSIMS10mm13mm1/2inch25mm1inch。4mm。SIMS、。。SIMS。Fitzsimons3SIMS18O160。1.32。SIMS4。Valley5。6。78。10‰-100‰910。83SIMS。、2。。3。。。。。Heide。Metson11。1.412CameraF、Camera12701280、CameraNanoSMSSHRIMP。F。3F4F5F6F7F。。F5μm。4Felectrongun。F1‰。F10-9。13IMS-6F5000。14IMS-3FLINESCAN、。Cameca12701280585mm。15000entranceslitexitslit3000。0.01%。Cameca12701280。CamecaNanoSIMS50nm。15Cameca1280Hf-OSr-Nd。16Cameca1280UU-Pb。SHRIMP、U-Pb。。、Clement1710。3093、○M/△M=10000。SHRIMPSHRIMP。SHRIMP18。19SHRIMP、U-Pb。2SIMS、11。1SIMSXXXWDSEDX/WDS20evEDS150evEDS155-180evM/△M>800M/△M>7000WDS100EDS10001-10<1WDSEDS20043SIMS、、Guan20GRV99027。Kobayashi21Camera1270。Huari22Cameca6F04SIMSδ13C=-8.8‰~+1.7‰δ15N=-17.1‰~+5.3‰。G.D.LayneK.W.Sims23SIMS1270232Th/230ThSIMS、。NanoSIMS50nm。Messenger24CameraNanoSIMS50。NguyenandZinner25。Floss26。SHRIMP、U-Pb。2728、29、30。28—SHRIMPU-Pb。31。4SLA-ICP-MS32-34。Martin35EMPASIMS。190270380550800。CamecaIMS-3fAdvancedMineralTechnology。100-300ppm。10kV10nA、15μmCs+2.55μm197Au-75As-63Cu-109Ag-123Sb-128130Te-7880Se-34S-56Fe-4.5kV。Au100ppbAs0.1ppmCu600ppbAg3.8ppmSb7.1ppmTe300ppbSe30ppbCo300ppb。36。CuAsAuNi。5SIMS、、。。SIMSSIMS。。14、○[1]周强,李金英,梁汉东,等.二次离子质谱仪(SIMS)分析技术及应用进展[J].质谱学报,2004,25(2):115.[2]杨晓志,夏群科,程昊,等.离子探针技术在地球化学研究中的应用综述[J].安徽地质,2004,14(1):52-57.[3]FitzsimonsCW,HarteB,ClarkRM.SIMSstableisotopemeasurement:countingstatisticsandanalyticalprecision[J].MineralMag,2000,64:59-83.[4]PrattAR,HuctwithCM,HeideVP,etal.QuantitativeSIMSanalysisofTraceAuinpyriteusingtheinfinitevelocity(Ⅳ)method[J].JournalofGeochemicalExploration,1998,60:241-247.[5]ValleyJW,GranhamCM,HarteB,etal.Ionmicroprobeanalysisofoxygen,carbonandhydrogeniotoperatios[J].SEGReviewsinEconomicGeology,1998,7:73-98.[6]ZinnerE.Isotopicmeasurementswiththeionmicroprobe[J].USGeolSurlBull,1989:1445-1462.[7]ZinnerE,FaheyAJ,MckeeganKD.Characterizationofelectronmultipliersbychargedistributions[A].In:SecondaryIonMassSpec:SIMS[M].Vspringer-Verlag,Berlin,1986,170-172.[8]SlodzianG,LorinJC,HavetteA.Isotopiceffectontheionizationprobabilitiesinsecondaryionemission[J].JPhysiqueLett,1980,40:555-558.[9]HervigRL,WilliamLB,Kirkland,etal.Oxygenisotopemicroanalysesofdiageneticquarz:possiblelowtemperatureocclusionofpores[J].GeochimCosmochimActa,1995,59:2537-2543.[10]GrahamCM,ValleyJW,WinterBL.Ionmicroprobeanalysisof18O/16OinauthigenicanddetritalquartzintheSt.PeterSandstone,MichiganbasinanWisconsinArch,USA:contrastingdiagenetichistory[J].GeochimCosmochimActa,1996,60:5101-5116.[11]MestonJB.SecondaryionmassspectrometryIn:perryDL(ed),InstrumentalSurpaceAnalysisofGeologicMaterial[M].VCHPublishersInc.,NewYork.1990:312-352.[12]徐伟彪.离子探针测试方法及其在矿物微区微量元素和同位素分析中的应用[J].高校地质学报,2005,11(2):239-252.[13]尹会听,王洁.二次离子质谱分析技术及应用研究[J].光谱实验室,2008,25(2):180-184.[14]曹永明,卢世峰,朱烨,等.IMS-3fSIMS线扫描功能的应用[J].质谱学报,1986,10(1):24-27.[15]李献华,李武显,王选策,等.幔源岩浆在南岭燕山早期花岗岩形成中的作用:锆石原位Hf-O同位素制约[J].中国科学(D),2009,39:872-887.[16]高钰涯,李献华,李秋立,等.二次离子质谱第四纪锆石年代学:台湾金瓜石英安岩定年[J].地学前缘,2010,(2):146-155.[17]ClementSW,etal.Designofalarge,highresolutionionmicroprobe[C].Proc.FirstInt.Conf.onSIMS.,Muenster.,1997.[18]陈亚东.离子探针技术的特点和应用[J].桂林冶金地质学院报,1988,8(2):197-200.[19]简平,刘敦一,孙晓猛.滇川西部金沙江石炭纪蛇绿岩SHRIMP测年:古特提斯洋壳演化的同位素年代学制约[J].地质学报,2003,(2):217-228.[20]GuanY,HsuW,LeshinLA,etal.HydrogenisotopesofphosphatesinthenewMartianmeteoriteGRV99027[C].LunarPlanet.Sci.Conf.,2003,XXXIV:1830.[21]KobayashiK,TanakaR,MorigutiT,etal.2004.Lithium,boronandleadisotopesystematicsofglassinclusionsinolivinesfromHawaiianlavas:evidenceforrecycledcomponentsintheHawaiianplume.ChemicalGeology,212:143-161.24SIMS[22]HuariEH,WangJ,PearsonDG,etal.Microanalysisofδ13C,δ15NandNabundancesindiamondsbysecondaryionmassspectrometry[J].ChemicalGeology,2002,185:149-163.[23]LayneGD,SimsKW.SIMSforthemeasurmentof232Th/230ThinVolcanicRocks[J].InterJofMassSpec,2000,203:187-198.[24]MessengerS,KellerLP,StadermannFJ,etal.Samplesofstarsbeyondthesolarsystem:Silicategrainsininterplanetarydust[J].Science,2003,300:105-108.[25]NguyenAN,ZinnerE.Discoveryofancientsilicatestardustinameteorite[J].Science,2004,303:1496-1499.[26]FlossC,StadermannFJ,BradleyJ,etal.Carbonandnitrogenisotopicanomaliesinananhydrousinterplanetarydustparticle[J].Science,2004,303:1355-1358.[27]胡健民,刘新社,李振红,等.鄂尔多斯盆地基底变质岩与花岗岩锆石SHRIMPU-Pb定年[J].科学通报,2012,57(26):2482-2491.[28]胡健民,孟庆任,石玉若,等.松潘-甘孜地体内花岗岩锆石SHRIMPU-Pb定年及其构造意义[J].岩石学报,2005,(3):867-880.[29]FroudeDO,I
本文标题:SIMS分析技术及其在黄铁矿原位微区分析微量元素测定的应用-虞鹏鹏
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