材料研究与测试方法题库

二、判断题请判断下列说法是否正确？（认为正确请打勾,否则打叉）P1加大管电流和管电压，都可以使白色X射线的强度增大。（）P2加大管电流，可以使白色X射线的强度增大；但加大管电压，不能使白色X射线的强度增大。（）P3加大管电流和管电压，都不能使白色X射线的强度增大。（）P4加大管电流和管电压，都可以使白色X射线的短波限增大。（）P5加大管电流和管电压，都不能使白色X射线的短波限增大。（）P6加大管电流和管电压，都可以使白色X射线的短波限减小。（）P7加大管电流，可以使白色X射线的短波限增大。（）P8加大管电压，可以使白色X射线的短波限增大。（）P9在管电流和管电压不变的条件下，加大靶元素的原子序数，可以使白色X射线的强度增大。（）P10在管电流和管电压不变的条件下，加大靶元素的原子序数，可以使白色X射线的短波限λ0增大。（）P11在管电流和管电压不变的条件下，加大靶元素的原子序数，可以使白色X射线的短波限λ0减小。（）P12衍射X射线的强度与入射X射线的强度正相关。（）P13衍射X射线的强度与入射X射线的强度无关。（）P14晶体结构对称程度越高，多重性因子P值就越大，某一特定面网的衍射X射线的强度也越大。（）P15晶体结构对称程度越高，某一特定面网的衍射X射线的强度也越小。（）P16对于某一特定晶体，其X射线的强度随Bragg角θ的加大而变大。（）P17对于某一特定晶体，其X射线的强度随Bragg角θ的加大而变小。（）P19对于某一特定晶体，其衍射X射线的强度随实验温度的加大而变大。（）P20对于某一特定晶体，其衍射X射线的强度随实验温度的加大而变小。（）P21Debye图中的点状线是由颗粒过细造成的。（）P22Debye图中的点状线是由颗粒过粗造成的。（）P23Debye图中的点状衍射线的现象往往是由颗粒受到应力引起的。（）P24Debye图中的衍射线的宽化现象可以由颗粒过细造成的。（）P25Debye图中的衍射线的宽化现象可以由颗粒过粗造成的。（）P26Debye图中的衍射线的宽化现象可以由颗粒受到应力引起的。（）P27矿物中以结构水的形式存在的水指的是参加晶格的H2O。（）P28矿物中以结晶水的形式存在的水指的是参加晶格的羟基OH-。（）P29矿物中以结构水的形式存在的水指的是参加晶格的羟基OH-。（）P30矿物中以结晶水的形式存在的水指的是参加晶格的H2O。（）P31胶体水指的是吸附在晶体表面的H2O。（）P32层间水是存在于存在于层状结构晶体层中、以H2O形式存在的水。（）P33对于固定的靶，晶体面网的衍射指数HKL越大，其衍射角也越大。（）P34对于固定的靶，晶体面网的衍射指数HKL越大，其衍射角也越小。（）P35X射线滤波片的作用是滤去Kβ射线，保留Kα射线。（）P36X射线滤波片的作用是滤去Kα射线，保留Kβ射线。（）P37X射线滤波片的作用是滤去Kα2射线，保留Kα1射线。（）X射线滤波片的作用是滤去Kβ和Kα2射线，保留Kα1射线。（）P38提高光学显微镜的分辨率的方法包括减小波长，提高透镜孔径角和观察介质的折射率。（）P39提高光学显微镜的分辨率的方法包括加大波长，提高透镜孔径角和观察介质的折射率。（）P40提高电子显微镜的分辨率的方法包括加大加速电压，减小像差。（）P41提高电子显微镜的分辨率的方法包括减小加速电压，以减小像差。（）P42电子显微镜在实验时抽真空的作用包括提高电子枪的使用寿命。（）P43用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射金刚石晶体(SG=Oh5-Fm3m，a=3.56Å)，因为系统消光，观察不到111，311，331，333等衍射符号全为奇数的衍射线。（）P44用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m,a=3.56Å)，因为系统消光，观察不到200，400，600，220，440，444等衍射符号全为偶数的衍射线。（）P45用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m,a=3.56Å)，因为系统消光，观察不到100，211，301，210，321等衍射符号奇偶数混杂的衍射线。（）00P46用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m,a=3.56Å)，观察不到800衍射线。（）P47用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m，a=3.56Å)，观察不到800衍射线原因与不满足布拉格方程。（）P48Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m，a=3.56Å)，观察不到666衍射线原因是不满足布拉格方程。（）P49用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射NaCl晶体(SG=Oh5-Fm3m，a=5.64Å)观察不到800衍射线原因是不满足布拉格方程。（）P50用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射NaCl晶体(SG=Oh5-Fm3m，a=5.64Å)观察不到800衍射线原因是系统消光。（）P51晶体红外光谱的产生与电磁波与晶体中原子的振动形成共振吸收有关。()P52晶体红外光谱的产生与电磁波与晶体中原子电子能级对电磁波光子的吸收有关。()三、填空题T1对X射线的测量包括(能量色散)方法和(波长色散)方法。T2倒易点阵中的点可代表正点阵中的（一组晶面），倒易矢量的方向代表（相应晶面法线方向），而倒易矢量的长度等于（相应晶面间距倒数）。T3增加X射线衍射机率的方法包括（管电流）、（管电压）和（两者兼增加）。T4决定X射线衍射强度的主要因素包括（多重性）因子、（温度）因子、（吸收）因子、（结构）因子、（洛伦兹）因子。T5要提高白色X射线的强度，可以（提高管电压）或（提高管电流）或（增大阳极靶材料原子序数）。T6电子显微成分分析技术中，根据分析区域的几何特点，可以包括（透射电子显微镜）（扫面电子显微镜）和（电子探针显微镜）三种方法。T7固体物质的热效应包括（热胀冷缩）、（溶解）、（液化）、（升华）、（晶型转变）。T8热分析中，差热分析是利用试样和参比物之间的(温差与温度)来反映试样的热性质，差示扫描量热分析则是用试样和参比物之间的(能量随温度变化)来反映试样的热性质，而热重分析是用试样加热或冷却过程中的(质量与温度或者时间)变化来反映试样的热性质。T9物质中水的存在形式有：(吸附水)、(结晶水)、(结构水)、(过渡类型水)等。T10影响差热分析曲线的主要内因有：(试样因素)、(实验条件)、(仪器方面因素)。T11提高光学显微镜的分辨率的方法包括（减小波长）、（增加折射率）和（加大物镜镜口率）。T12提高电子显微镜的分辨率的方法包括（保持良好的加速电压）、（延长抽真空时间和真空度）和（对中良好）。T13电子显微镜在实验时抽真空的作用是（防止空气分子对电子的散射）（避免与空气分子碰撞后电子能量的损失）（真空后气体分子密度减少，可以使观测更加准确）。T14用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射NaCl粉末晶体(SG=Oh5-Fm3m，a=5.64Å)，观察不到800衍射线的原因是（不满足布拉格方程）。T15用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射NaCl粉末晶体(SG=Oh5-Fm3m，a=5.64Å)，观察不到100衍射线的原因是（系统消光）。T16用Fe/Mn(λ=1.93728Å)照射金红石TiO2粉末晶体(SG=D4h14-P42/nmm，a=4.58Å，c=2.95Å)，观察不到800衍射线的原因是（系统消光）。T17用Fe/Mn(λ=1.93728Å)照射金红石TiO2(SG=D4h14-P42/nmm，a=4.58Å，c=2.95Å)，观察不到555衍射线的原因是（不满足布拉格方程）。T18用Fe/Mn(λ=1.93728Å)照射蒙脱石粉末晶体（单斜晶系a=5.18Å，b=8.94Å，c=15.2Å，β=90o）观察不到100衍射线的原因是（系统消光）。T19用Fe/Mn(λ=1.93728Å)照射蒙脱石粉末晶体（单斜晶系a=5.18Å，b=8.94Å，c=15.2Å，β=90o）观察不到999衍射线的原因是（不满足布拉格方程）。T20用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m，a=3.56Å)，观察不到100衍射线的原因是（系统消光）。T21用Cu/Ni(λ=1.54178Å)照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m，a=3.56Å)，观察不到800衍射线的原因是（不满足布拉格方程）。T23红外光谱谱图中，影响谱带位置的因素主要有：(质量效应)、(电子效应)、(空间效应)和(氢键振动的耦合)。T24产生红外吸收振动的条件是：(有瞬时偶极矩变化)、(辐射光子具有的能量与产生振动跃迁所需的跃迁能相等)。T25产生拉曼吸收振动的条件是：(极化率变化)、(辐射光子具有的能量与产生振动跃迁所需的跃迁能相等)。T26分子或基团中，(偶极矩变化)的振动是红外活性的。T27分子或基团中，(极化率变化)的振动是拉曼活性的。T28红外光谱谱图中，影响谱带强度的因素主要有：(电负性)、(振动形式)、(分子对称性)、(费米共振—倍频和基频耦合)和(能级跃迁几率)。T29红外光谱分析中，将分子或基团的振动分为：(伸缩振动)和(弯曲振动)两个类型，它们又各自包括(对称伸缩振动)、(非对称伸缩振动)以及(面内弯曲-剪式振动)、(面内摇摆-平面摇摆振动)、(面外弯曲-扭曲振动)、(面外摇摆-非平面摇摆振动)等基本形式。T30化合物基团的振动频率与键的力常数k成(基团振动的频率正比于键力常数k^0.5)关系。T31主要的表面分析方法有：(X射线电子能谱XPS)、(俄歇电子能谱AES)、(扫描隧道显微镜STM)和(原子力显微镜AFM)。T32X射线光电子能谱分析原理是：X光与物质相互作用，物质的(能级上电子)被电离，产生(光电子)。T33紫外光电子能谱分析原理是：紫外光与物质相互作用，物质的(能级上电子)被电离，产生(离子)。T34俄歇电子能谱分析原理是：光子与物质相互作用，物质原子的(K层电子)被电离产生空位，受激原子弛豫，较外层电子充填空位的多余能量以(另一个L层电子吸收)形式释放，激发出另一电子，原子处于(激发态)状态。T35光电子能谱分析中，化学位移是指：物质中原子因所处的(化学环境)不同，引起光电子的(结合能)的变化，造成谱图上谱线相对于纯元素原子的谱线发生位移。T36光电子能谱分析中，影响化学位移的因素主要有：(离子电价)、(电负性)。T37俄歇电子能谱分析中，影响化学效应的因素主要有：(化学环境)、(元素化合价)和(原子弛豫效应)。T38穆斯堡尔谱是(固体中的某些放射性原子核有一定的几率无反冲地发射γ射线，而处于基态的固体中的同种核对前者发射的γ射线也有一定的几率能够无反冲地共振吸收形成的线谱)。T39造成难以观察到原子核γ射线共振吸收的原因主要是(反冲)引起的(原子)和(整个晶体)的能量分离。T40常用的穆斯堡尔谱参数有：(超精细相互作用)、(化学位移)和(四极矩)。T41NMR中，处于高能态的核通过(吸收电磁波量子)释放能量而及时返回到(低能态)的过程称为弛豫。根据Heisenberg测不准原理，激发能量E与体系处于激发态的平均时间(寿命)成(反比)，与谱线变宽成(正比)。T42在一定的辐射频率下，处于不同化学环境的化合物中的相同质子，出现核磁共振的(频率)或(吸收峰)不同的现象，称为化学位移。化学位移主要与(电负性)有关。D1白色X射线:不同性质的碰撞产生连续谱，称为白色X射线。D2特征X射线:随电压增加，X谱线上出现尖锐的谱峰，尖峰限于很窄的波长范围内。因其具有与元素的对应关系，故称为特征X射线。D3短波限λ0：当电子在加速电场中的全部动能转化为一个光子，则此光子的能量最大，波长最短，，因此叫做短波限λ0。D4吸收限λk：物质对X射线有吸收效应。实验发现，将元素的质量吸收系数和波长作图，在某些特定波长位置，质量吸收系数发生突变，这些突变点波长称为吸收限。造成吸收限的原因是光子能量恰好大于元