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天线来料检验标准保密文件1A/0天线组件天线来料检验标准保密文件2A/0文件编号:HBS—PZ---WI—012更改记录发行/修定日期修定内容摘要页次版本/版次总页数拟制审核批准2017-08-01初版1-7A/07陈斌拟文人/时间FROM/DATE:/2017.8.1□文件类型:GATEGORY检验规范□传阅CIRCULAR□阅后存档FILIG保密/期限CONFIDENTIAL/TERM□其它OTHERS天线来料检验标准保密文件3A/0目录1.0.............................................................................................................................................................................目的2.0.............................................................................................................................................................................范围3.0.............................................................................................................................................................................抽样计划4.0.............................................................................................................................................................................定义4.1......................................................................................................................................................................检验条件4.2......................................................................................................................................................................抽样标准5.0..........................................................................................................................................................................术语和定义5.1......................................................................................................................................................................缺陷等级5.2........................................................................................................................................................天线不良缺陷定义5.3..........................................................................................................................................................附着力等级定义6.0.............................................................................................................................................................................检验内容6.1.....................................................................................................................................................外观不良判定标准6.2.............................................................................................................................................................尺寸判定标准7.0.......................................................................................................................................................可靠性试验及判定标准8.0...................................................................................................................................................................周期性测试要求9.0..........................................................................................................................................................................包装要求10.0......................................................................................................................................................................出货附带报告天线来料检验标准保密文件4A/0手机天线检验标准1.0目的本标准明确了深圳市华邦盛电子有限公司手机天线的质量检验标准,确保产品质量达到客户要求。2.0范围本标准适用于深圳市华邦盛电子有限公司手机天线的质量检验和控制。3.0抽样计划按GB2828.1—2003中一般检验的Ⅱ级水平进行抽检,合格质量水平(AQL)及检验查水平规定(见表1)。表1检验项目抽样方案合格质量水平常规检验包装箱GB2828.1—2003Ⅱ级CRMajMin最小包装箱00.41.0颜色/外观尺寸测量取样10PCSACC=0;REJ=1结构/Sample取样3PCSACC=0;REJ=1组件配装取样3PCSACC=0;REJ=1性能测试参照可靠性测试标准ACC=0;REJ=14.0定义:4.1.检验条件4.2.1距离:人眼与被测物表面的距离为250mm-350mm;4.2.2时间:每面检查时间不超过5-10S;4.2.3位置:检视面与桌面成45°,上下左右转动15°,前后翻转;4.2.4光源:D65-CLE标准光源(光源必须在检验测者正前上方);4.2.5温度:23+/-3℃;4.2.6湿度:30%-85%;4.2.7光照强度:1000±200LUX;4.2.8视力:检验员视力需在1.0以上;4.2.9检测工具:卡尺;4.2抽样标准:采用MIL-STD-105EII表,正常检验、单次抽样计划,AQL订定为CRI(0),MAJ(0.4)及MIN(1.0);5.0术语和定义5.1.缺陷定义致命缺陷:(CRITICAL)产品存在对使用者的人身及财产安全构成威胁的缺陷或造成天线不能使用的缺陷或严重影响主要性能指标、功能不能实现的缺陷;主要缺陷:((MAJOR)重要的质量特性和功能特性不符合部件规格,不能达到使用效果,或严重影响外观收货标准及其它可能引起投诉的缺陷;天线来料检验标准保密文件5A/0次要缺陷:(MINOR)影响天线外观的缺陷,不影响产品使用,最终有可能愿意让步接受的缺陷;5.2天线不良缺陷定义漏雕/漏喷涂:漏雕字符或线路,局部漏喷涂;锯齿:雷雕的线路或文字边缘呈锯齿;针孔:雷雕或喷涂、丝印表面有针孔;油污/脏污:工作台面不整洁或其它环境造成;划伤/划痕:外力或利器造成;变形、折邹:包装或制作时未保护好;弹片触点偏位:主板天线弹片接触不到;弹片触点起翘:弹片触点与天线本体分离;色差:与样品不一致;起泡:雷雕/喷涂过程形成;断线:一条完整线路出现断开;短路:两条线或两条以上的导电线路连接在一起;字体图文:印刷、丝印、镭雕、腐蚀等工艺不良;缺料:产品不完整;利边、毛边:切割工艺未切彻底;触点氧化:表面生锈,发白;5.3附着力等级定义5B-划线边缘光滑,在划线的边缘及交叉点处均无表层脱落;4B-在划线的交叉点处有小片的表层脱落,且脱落总面积小于5%;3B-在划线的边缘及交叉点处有小片的表层脱落,且脱落总面积在5%~15%之间;2B-在划线的边缘及交叉点处有成片的表层脱落,且脱落总面积在15%~35%之间;1B-在划线的边缘及交叉点处有成片的表层脱落,且脱落总面积在35%~65%之间;0B-在划线的边缘及交叉点处有成片的表层脱落,且脱落总面积大于65%。6.0检验内容6.1外观判定标准备注:1.所有外观不良潜在影响功能不良的为主要缺陷;2.本标准未定义到的不良现象不代表不管控;检查项目判定标准缺陷定义CRMAJMIN漏雕/漏喷涂不允许▲锯齿不允许▲针孔不允许▲油污/脏污不允许▲划伤/划痕不允许▲变形、折邹不允许▲天线来料检验标准保密文件6A/0弹片触点偏位不允许▲弹片触点起翘不允许▲色差参照品质签定限度样▲起泡不允许▲断线不允许▲短路不允许▲字体图文比对样需一致▲缺料不允许▲利边、毛边不允许▲触点氧化不允许▲6.2尺寸检查天线的尺寸需符合规格书要求,进料检验时,每批针对重点尺寸测量10PCS7.0可靠性试验实验项目实验方法及要求实验要求时间(H)实验取样(PCS)判定标准高温高湿在温度为70±2℃,湿度为95%RH条件下放置483产品表面无变色、起泡,表层脱落、起皱、裂痕、变形、起翘等。附着力测试:用3M610胶纸粘在同一位置拉3次不允许有脱落盐雾测试在35±2℃的密闭环境中湿度>85%,PH值在6.5~7.2内,用5%的NaCL溶液连续喷雾243产品表面无变色、起泡,表层脱落、起皱、裂痕、变形、起翘、氧化、腐蚀等温度冲击低温-40℃贮存30分钟转到高温75
本文标题:手机天线检验标准
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