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光圈基础知识培训一、光学零件的面精度三项内容:1)被检光学表面的曲率半径相对参考光学表面曲率半径的偏差,称为曲率半径偏差。以Ν表示:即光圈。曲率半径偏差的方向不同2)被检光学表面在相互垂直方向上的曲率半径,相对参考光学表面曲率半径的偏差不相等,称为象散偏差.以ΔΝ表示。这种偏差在相互垂直方向上的干涉条纹数量不相等。3)被检光学表面的局部区域相对参考光学表面的偏差。称为局部偏差,以ΔΝ表示。这种偏差在任一方向上产生局部不规则的干涉条纹。二、光圈定义和计量:当光线投射到两个曲率半径相差不多的球面。其空气楔对称时,就会出现同心环的干涉条纹,即牛顿圈,通称光圈。1)光圈示意图:低光圈高光圈示意图2)光圈数的计量:①Ν>1:以有效检验范围内直径方向最多条纹数的一半量。如图1Ν=6/2=3②Ν<1:通过直径方向上干涉条纹的弯曲量h相对条纹的间距H的比值。如图2Ν=h/H3)象散偏差的计量:象散偏差光圈数ΔΝ是以两个相互垂直方向上光圈数的最大代数差的绝对值来度量(光圈数以有效范围内最多的一半来度量)。ΔΝ=ΝX-ΝY图1h图2H低高XXYXXYYY4)局部偏差的计量:局部不规则干涉条纹对理想平滑干涉条纹的偏离量h与相邻条纹间距H的比值来度量。三、光圈的判定方法:椭圆形ΔΝ=(6-8)/2=1马鞍形ΔΝ=(2+6)/2=4柱形ΔΝ=(0-1)=1XYYˋˊˋˊ不对称形X-XY-Y方向倾向450状况ΔΝ=/4(1/a-1/b)abXhHΔΝ=h/H※样板:白光灯以一个红色为一个光圈,依次娄推。※干涉仪:以黑白相间为一个光圈,依次娄推。①样板检光圈方法1:在白光下,以红色为基准,视黄色与绿色的位置来判定高低,若黄色在红色之内,绿色在红色之外,即高光圈。若绿色在红色内,黄色在红色之外则是低光圈。②样板检光圈方法2:微压法,当从样板的两边或对称的三个点同时向下加压时,若光圈由中心向外扩散,则是高光圈。如果是由边缘向里收宿,则表示光圈低。③干涉仪检光圈方法1:在零件与标准块中间加压,若光圈由中心向外扩散,则低光圈,反之为高光圈。④干涉仪检光圈方法2:用手向前推动螺钉,使零件与标准块距离缩短,若光圈中心向外扩散,则是高光圈。反之为低光圈。高和低光圈塌边:剖面图高和低光圈勾边:剖面图⑤干涉仪检光圈方法3:用手压标准块,同推螺钉方法相同。四、光圈检验注意事项:1)用光学样板检验:①检验前,为使光学样板与被检零件的温度和检验室温相一致,应根据零件直径尺寸的大小按下表规定时间进行定温;零件直径(100)1~1010~2020~3030~4040~6060~8080~100100以上定温时间(分)2351020304060以上②在工作中,应排除影响光圈变化的各种因素,如体温、风扇、热源等。对于面形精度要求高的零件,室温控制在200C±300C范围内;③检验凸面及平面光圈时,通常使样板在上,零件在下;检验凹面光圈时则相反。当被检零件的厚度与直径尺寸之比小于1:10时,可按检验凹面光圈方法或将样板轻轻提起,使光圈免受样板重量的影响,以保证估测的正确性;④检验时应垂直观察,并先判定光圈的高低和数量,后判定局部误差。动作要仔细、判断应迅速,并防止样板与零件相互拖拉。造成划伤;⑥光圈不规则时,也会同时出现几种状况,常取被检表面局部偏差最大值;⑦ΔΝ检验时:检验大曲率半径或平面样板的ΔΝ时,多将光圈拉成光带(一般为三条,最好有一条通过中心。精度高时也可拉成一条带),以便观察判断光圈局部误差。⑦小样板检验大零件,则按如下换算关系:N1/N2=S1/S2N2/N2=D12/D22⑧一个光对应的弧高尺寸:一个=0.25µ=0.00025mm五、用测角仪成象方法判定光圈※用位移量来判定光圈:①先用标准块将分划板图像调致最清晰位置,反复多次确定自己的原点。②再将所需测的零件放入承物台上,调节分划象为最清晰的位置,量出零件清晰点与原点位置的移动量,判别定是否合乎要求。③900直角三面光棱镜,以一个直角面为测量面时,用第一表面的像与后表面反射像清晰之差来进行判定(两个直角面,只测一个即可)。④900直角三面光棱镜,大面光圈一定要为以多次反射像为准进行判定,其它分划线不能作为在大面光圈的判定。※用角度值进行光圈判定:当成像不清晰时,测角仪的分划变宽,这时量出变宽的角度分量进行判定。是否合乎给定的参数。图例低高
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