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讲师:徐文亮2012.6.28半导体测试最新方法及原理讲解YourInitials,PresentationTitle,MonthYear1©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential内容要点半导体器件常规热测试方法的弊端基于ETM热特性测试方法特点及原理讲解实际工程案例讲解——半导体器件热特性测试实机演示——LED热特性测试©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential热特性测试特点结温控制至关重要——光效,寿命没有统一的行业标准——datasheet质量参差不齐产品的多样性——芯片,封装,灯具组装测试结果可重复性?产品热结构层次设计,评估及优化?内部可靠性标准建立——较权威的测试设备?YourInitials,PresentationTitle,MonthYear3©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential半导体器件常规热测试方法接触型——热电偶非接触——热成像仪©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential接触型-热电偶构造及测试原理——两种不同成份的材质导体(热电偶丝材或热电极)组成闭合回当接合点两端的温度不同,存在温度梯度时,回路中就会有电流通过,此时两端之间就存在电动势。——热电偶是一种感温元件,是一次仪表,它直接测量温度,并把温度信号转换成热电动势信号,通过电气仪表(二次仪表)转换成被测介质的温度。©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential热电偶——弊端测试的局限性焊接情况?通道大小?位置选择?接触热阻?©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential热电偶——弊端接触型©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential非接触型-热成像仪构造及测试原理——热成像仪(红外热成像仪)是通过探测目标物体的红外辐射,并通过光电转换、信号处理等手段,将目标物体的温度分布图像转换成视频图像的设备——通常我们将比0.78微米长的电磁波,称为红外线。自然界中,一切物体都会辐射红外线,因此利用探测器测定目标本身和背景之间的红外线差,可以得到不同的红外图像,称为热图像。©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential非接触型-热成像仪©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential非接触型热成像仪——弊端©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential热特性测试方法讲解ETM测试方法特点及原理介绍JEDEC-51&MIL-STD-750标准联系及区别Static&Dynamic方法区别结构函数讲解©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential测试方法特点及原理介绍基于结构函数使内部热构造可视化热阻网络模型©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential:使用初期Cold-plateBaseChipDieattachJunctionGrease样品2:使用后期basegreaseDieattachRCchipRC结构函数比较结构函数结构函数©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential结构函数讲解基于热的RC线性系统理论基于温度采样点进行反卷积通过数学变化得到“从结到环境”整个热流路径下的热结构分布©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential结构函数讲解基于热的RC线性系统理论假设前提16环境边界Ta理想线性1D系统DLDLAV=A·DL1Dheat-flowTambCth=V·cvRth=DL/(A·l)©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential结构函数讲解基于热的RC线性系统理论假设前提17热阻-热容RC网络模型功率驱动点Ambient理想线性1D系统环境边界Ta©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidentialniiRR1niiCC1所有的相关参数都是1!11111111111111111111111111111111©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidentialniiRR1niiCC1doubleslope积分结构函数niiRR1dRdCRK)(apeak微分结构函数12©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential如图所示:材料变化©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential如图所示:几何体积变化©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential从结构函数我们能够获取每个层次的数据…CumulativestructurefunctionniiRR1dRdCRK)(DifferentialstructurefunctionniiRR1niiCC1Cth1Cth2Cth3Cth1Cth2Cth3ThermalcapacitancevaluescanbereadRth1Rth2Rth3Rth1Rth2Rth3Partialthermalresistancevaluescanberead©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential离散到连续单脉冲温度变化曲线©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential结构函数讲解基于热的RC线性系统理论…thtWta)(©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential标准的制定——JEDEC&MIL-STD-750YourInitials,PresentationTitle,MonthYear25©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential标准联系及区别MIL-STD-750美军标制定时期早在70年代,当时由于硬件条件的限制,和实现性的考虑,更侧重器件的功率加载上和某种程度的数据采集上;JEDECJESD51主要侧重测试环境和数据精度获取方面,器件热阻值可重复性和稳定性要求加强,当然对硬件技术要求较高;从功率器件热阻特性测试精度考虑,JEDECJESD51这方面考虑的更加全面,更适合数据的参考和比较。这两套标准没有实质性冲突的内容;©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential方法区别Static法功耗時間温度時間(対数軸)温度HeatingCurveCoolingCurve時間(対数軸)温度不受加热过程Power变动影响完整的热响应曲线可以产生足够精度的结构函数适合半导体器件热阻参数之间的比较和可靠性检查及leveltesting.©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential方法区别28logttimeTtemperaturettimeTtemperatureT'2t2Heatingfort2timeCoolingfort2timeMeasurementloopfortimeinstancet2t2t2MeasureT2ttimePdissipationHeatingfort1timeCoolingfort1timeMeasurementloopfortimeinstancet1t1t1MeasureT1t12t1T'1t1MeasurementdelaytimeTT'extrapolationdefinedinJEDECJESD51-1standardT'2T'1Dynamic法结果受加热过程Power变动影响较大,noise大采样点较稀疏,leveltesting很难实现硬件易实现©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential数值问题——结构函数结构函数几乎没有实际物理意义Source:©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential方法——小结DynamicTestMethod:多脉冲测试,对硬件要求不高,易实现,应用较早;采用点较稀疏,评估结-壳内部的热阻时,精度较低;测试周期相对较长;StaticTestMethod:一次脉冲测试,对仪器硬件本身要求较高,数据采集技术要求高;测试周期相对较短;基于此方法的T3Ster仪器率先实现,其测试效率和测试精度较高。©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential创新实现JEDEC51-1静态测试JEDEC51-14结壳热阻标准参考T3Ster制定高达1us的采样率,64K的采样存储空间1us高速电源切换最小电压分辨率12uV精确的结构函数用于分析内部构造HighPowerLED测试标准陆续出台JEDEC51-5x…©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential结构函数应用——RJC结-壳热阻标准测试32©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential结构函数应用——基板热阻比较33©2010MentorGraphicsCorp.CompanyConfidential
本文标题:00-半导体热特性测试最新方法及原理讲解
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