SPC教学

SPC製程管制簡介1.統計技術分類：A.初級：QC七大手法(解決95﹪問題)B.中級：抽樣計劃、統計檢定/推定(解決5﹪問題)C.高級：田口式品質工程、相關迴歸、變異數分析等（視產業產品特性選用）1SPC製程管制簡介2.管制圖的由來&目的&種類：A.由來：1924年由Shewart博士發明B.目的：判定產品特性在批量中是否呈現在穩定狀態下及非機遇原因（特殊原因）C.管制圖種類：（1）計量值：由量具實測（連續性）（2）計數值：由單位計數（間斷性）2SPC製程管制簡介3.常態分配：A.數據蒐集→查檢表→次數分配→直方圖→常態分配→管制圖B.常態分配特性：（1）對稱X軸（2）－∞＜X＜∞，尾巴無限延伸漸近X軸但不相交（3）X＝M＝樣本平均值（4）以±3σ為管制界限（稱為Shewart’sChart）34SPC製程管制簡介4.管制圖形式一般的選擇：品質系統IQCOQCIPQC/PQC計數值計量值計數值5SPC製程管制簡介5.管制圖之用途：（1）查覺製程有無產生變異之非機遇原因存在，所謂非機遇原因就是引起產品品質大變動的原因。（2）利用所獲得資料制定或變更規格或判斷製程是否符合規格要求，並處於穩定管制狀態下（3）利用所獲得資料提供或變更製造方法。（4）利用所獲得資料提供或變更檢驗方法、允收方法。（5）作為製造或購買之產品允收或拒收之依據。（6）用於非生產性方面之問題，例如能源消耗之管制、意外事件之發生頻率、打字或填表錯誤等6機遇原因之變異非機遇原因之變異1.大量之微小原因所引起。1.一個或少數幾個較大原因所引起。2.無論發生何種機遇原因，其個別的變異2.任何一個非機遇原因，都可能發生大的極為微小。變異。3.幾個較代表性之機遇原因：3.幾個較代表性之非機遇原因：＊原料之微小變異。＊原料群體之不良。＊機器之微小振動。＊不完全之機器調整。＊儀器測定時，不十分精確的作法。＊新手之作業員。4.要完全消除是非常困難且不經濟的作法。4.要完全消除是經濟且正確的作法。5.發生次數多且微小，不值得調查。5.發生次數少且顯著，必須徹底調查。【其對產品品質並無不良影響】【其對產品品質影響甚為嚴重】6.機遇原因：6.非機遇原因：＊在管制下的變異（ControlledVariation）＊不能管制的變異（UncontrolledVariation）＊穩定者（Stable）＊不穩定者（Unstable）＊無法避免的原因（UnavoidableCause）＊可避免的原因（AvoidableCause）＊製程中固有的變異（InherentVariation）＊過多的變異（ExcessVariation）＊可用作『修改』一個經常而穩定的製程。＊可用作『創造』一個經常而穩定的製程。76.差異比較：7.平均數（X）與標準差（σ）與變異（σ）：A.平均數：代表群體值的一個數值。B.標準差：代表群體值間差異大小的一個數值。C.變異數：代表群體值標準差之平方值例如：有一批產品，隨機抽取n﹦5件，其量測數據分別為：1，2，3，4，5SPC製程管制簡介X﹦﹦﹦3ΣXn155σ﹦ΣX－（ΣX）2n2√﹦1.414n288.平均值與全距管制圖：（X﹣RChart）（1）由平均值管制圖（X﹣Chart）與全距管制圖（R﹣Chart）兩者合併使用。（2）平均值管制圖是管制平均值之變化，即分配集中之趨勢之變化。（3）全距管制圖是管制變異之程度，即分配之散佈（離中）狀況。（4）取樣方法：＊依（不同的機器、操作者、原料）分別取樣本，以免除這些因素變異而產生非機遇原因。＊儘量使樣本『組內變異小，組間變異大』管制圖才容易生效。99.統計技術應用：項次1管制項目統計技術應用擔當者核准APQP。DFMEA。CPk分析。管制圖。MSA分析。查檢表（含PPAP）品質規劃小組開發主管2。抽樣計劃。查檢表。推移圖品檢員IQC3IPQC。管制圖。CPk分析。查檢表。PFMEA品保員品保主管品保主管4FQCOQC。抽樣計劃。魚骨圖。柏拉圖。推移圖。查檢表品檢員品保工程師品保主管品保主管5量規儀器。MSA分析。查檢表。管制圖6設備保養搬運檢查。查檢表。推移圖作業員製造主管1010.第一種錯誤（α）與第二種錯誤（β）：（1）第一種錯誤（生產者冒險率）：（緊張忙亂的錯誤）＊亦即製造程序實質上未改變，樣本因機遇原因落於管制界限之外，使檢驗人員判斷錯誤，認定不良致將製造程序修改，造成人工、工具、材料遭受損失，此時所犯之錯誤。（2）第二種錯誤（消費者冒險率）：（心不在焉的錯誤）＊亦即群體已經改變，平均值亦已經移動（由μ1轉變為μ2），因為μ2之一部分仍在μ1這一邊±3σ範圍之內，而使檢驗人員誤判μ2為正常，致喪失尋找非機遇原因之機會，造成廢品增加，此時所犯之錯誤。（3）比較：良品不良品判為不良品判為良品α1－β1－αβ批量判定11