ICT编程标准

DATE:Parts_NActual_VStand_VHi_PLo_P+Lm%-Lm%G1G2DlyModeTypeRptOffset021010勿隔离0J作跳线检测0.2~221010勿隔离0J作跳线检测2~202~2040~20-1勿隔离0~2R小电阻须延时的机会少于大电阻.20~99.9920~99.9940400~2R小电阻须延时的机会少于大电阻.100~40M100~40M20~1020~100~2R若Mode为R//C或R//L,+/-Lm%设为20~30,Rpt为5.VRRR(max)/25050隔离其余一脚0~2R1~100pF1~100pF00不须延时C51~3000pF不作检测~3000pF~3000pF50~3040~30不须延时0~2C51~3000pF大小电容均不须延时.~2.999uF~2.999uF3030不须延时0~2C5大小电容均不须延时.3uF~40mF3uF~40mF3030不须延时4/8C大小电容均不须延时.150uF~40mF150uF~40mF3030勿隔离不须延时4/8C迁择Mode为4时勿隔离.5~9V约0.2至数mA阳极阴极3020~80勿隔离50~10006D5L1uH~1uH~1010不须隔离不须延时0J51uH~作跳线检测约0.7V阳极阴极3040~301D5正向测试PN结正反向测试,并联较大电容必须足够延时.约1.5V~10V阴极阳极-140~301D5约2V约2V阳极阴极3040~301D5LED测试,延时可增强亮度约0.7V阳极阴极3040~301D5正向测试(如并联较大电容必须足够延时)齐纳电压值齐纳电压值阴极阳极-140~301D5反向测试约0.7VB(E)E(B)3040~300~2D/Q51.PN结电压降测试;约0.7VE(B)B(E)3040~300~2D/Q52.PN结电压降测试;0.7~10VC(E)E(C)3040~300~2D/Q53.测量E-C间电压降.0.7~8V约0.3VC(E)E(C)20-1B4~3Q5测量C-E间的饱和压降按ALT+C,看测量结果是否甚大约1.2V123040~30D5PN结电压降测试约2~10V约0.3V3430-1127PC5测量3,4脚的饱和压降.J,F,W111010勿隔离不延时0J0I,U,MIC保护二极管测试.学习前,电源脚,接地脚设置正确,+/-Lm%设为30,Type为2(最佳),学习后在EDIT画面下DEBUG,考虑适当延时.CX约几10pF约几10pF3030不须延时C51~3000pFXTL(晶振）不作检测原则一:Stand_V与Actual_V相同(限于R,L,C),不得已时才考虑修改;*(除跳线以外)，其余均将Rpt设为5.(测量值不稳定时考虑设置Rpt为D.)原则二:量测值精确(最接近Actual_V),真实且稳定,兼而省时(省去多余延时).*作为旁路的小电容,一般上限充许较大误差,确保最低值满足要求即可.精度要求非常高的电容另虑.DZQ,TPC若三步均约0.7V,则要通过互换高低点等方法使其中一步测量结果甚大于0.7V.ICT测试数据(+/-Lm%)设定值参考REMARK极性测试(小心试之),下限勿取-1,因OPEN时电流更小.R,PRC*作为旁路的小电容,一般上限充许较大误差,确保最低值满足要求即可.精度要求非常高的电容另虑.