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第1页共10页华侨大学电子工程系两位flashADC设计设计课题:两位flashADC设计姓名:连炳发专业:集成电路设计与集成系统学号:1015251015日期2013年7月1日——2013年9月4日指导教师:杨骁华侨大学厦门专用集成电路与系统重点实验室-2013-2一、两位flashADC设计实验分析:设计一个采样时钟为200MHz的2位FlashADC,参考电路如图所示。电路包括:两相不交叠时钟电路设计,比较器电路、温度码转二进制码电路设计.FlashADC核心电路实现结果:当(VIP-VIN)-0.5时,输出000当-0.5(VIP-VIN)0时,输出001当0(VIP-VIN)0.5时,输出011当(VIP-VIN)0.5时,输出111温度码转二进制码电路设计把上述结果转换为二进制码(2位):000――――00001――――01011――――10111――――113(a)参考电平的设计选择合适的电阻值,使得21.5refcomVVV,210.5VrefrefVV-=DDV1refV21.5refCOMVV3refV(b)ADC架构如图所示3refV1refV21.5refcomVVVinVinVPVNVQVCMOS电容电容122Vin+,Vin-为要比较的输入信号,Vref3,Vref1为参考电压,4Vref2为共模电平和0的比较电平。12,为两相不交叠时钟。(c)两相不交叠时钟电路设计(d)比较器设计方案一:静态再生锁存比较器结构5方案二:动态比较器结构方案三:AB类再生锁存比较器结构6比较器的输入级及比较电路比较器的输出级(d)温度码转二进制码电路设计7二、各模块的具体设计本试验,采用和实验设计题目提供的不同设计架构。本设计由差分放大器、反相器串联形成的缓冲器组合形成比较器,由D触发器在时钟的控制下锁存比较器输出的比较结果。使用组合逻辑搭建温度码到二进制码的编码。具体电路细节如下所示:温度码生成器:D触发器:8顶层设计:各个模块的仿真波形如下:差分放大器(单级测试):差分放大器(两级级联):9比较器斜坡信号测试:比较器正弦信号测试:正弦信号测试下的温度码:正弦信号下的二进制码:10从以上波形仿真中可见,本设计基本符合设计要求,但是在速度和精度方面仍有欠缺,有待改进。.三、设计体会总结:通过此次的设计,我们收获了很多。对集成电路的设计有了一定的认识,设计前必须对设计内容有详细的了解,精细地划分各个模块,做好工作分配工作。充分利用网络书籍资料,为自己的设计提供理论依据和实际设计。
本文标题:两位flash-ADC设计
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