XRF的原理介绍

EDXRF原理介绍与华唯XRF系列产品大纲基本原理硬件结构核心部件原子核e-e-△E=E–E0E0EX光管产生的XrayE1E2Xray△E=E1–E0=KαXray△E=E2–E0=KβKLMN物理学基础产生X射线的机理X射线激发所产生的分析线原子核e-KLMNKαKβLαLβMα特性X射线的能量KαKβLαLβMα13Al鋁1.4871.557---14Si矽1.7401.836---17Cl氯2.6222.816---24Cr鉻5.4125.9470.573--26Fe鐵6.4007.0580.705--28Ni鎳7.4728.2650.8520.869-29Cu銅8.0428.9040.9300.950-33As砷10.53211.7241.2821.317-34Se硒11.20812.4941.3791.419-35Br溴11.90813.2891.4801.526-46Pd鈀21.12323.8092.8383.021-47Ag銀22.10324.9322.9833.185-48Cd鎘23.10826.0843.1333.355-51Sb銻26.27229.7103.6043.897-79Au金68.13077.8439.70411.4812.12180Hg汞70.10780.1039.98011.8532.19582Pb鉛74.16084.77510.54212.6262.34383Bi鉍76.25387.16810.82813.0262.420能量（ｋｅＶ）原子序号元素符号中文名定性分析的原理一次X射線一次X射線一次X射線由元素A所构成的样品由元素B所构成的样品由元素A和元素B所构成的样品元素A的螢光X射線元素B的螢光X射線元素A和元素B的螢光X射線对由元素A和元素B所构成的样品进行X射线照射后,各个元素都会发生荧光X射线,但因两者所持能量强度不同,所以可以辨别。定量分析的应用使用荧光X射线的定量方法:1.标准曲线法→根据实验事实的方法元素A含量少的样品元素A元素A的螢光X射線元素A含量多的样品含元素A越多的话，元素A的荧光X射线也越强元素A的螢光X射線用XRF测定元素的方法有害物質検量線0123456050100有害物質濃度(mg/kg)有害物質X線強度(cps)事先测定标准物质(已知浓度的样品)↓从测定结果中求得浓度和X射线强度的关系(标准曲线)↓根据标准曲线算出实际样品的浓度一般用标准曲线法测定（经验系数法）样品浓度样品强度XRF仪器构造样品波形分析器光管探测器滤光片高压电源华唯XRF核心部件介绍高压电源美国SpellmanX光管国产丹东科维探测器美国AmptekX-123软件分析方法经验系数法高压电源的技术参数与说明关键技术参数：稳定性，包括：输入电压inputvoltage:DC+24vDC+-10%，输入电流：4.0A（最大maximum）输出电压Outputvoltage:0-50Kv@1mA电压稳定性：95%最大功率MaximumPower：50W高压电源的作用高压电源为X光管提供供电，是保证仪器测试数据精密度与准确度的基础。我司仪器选用高性能进口高压电源来确保供电条件的最优化。X光管结构准直器铍窗高能电子束X-ray高压0~50KV灯丝X光管的寿命X光管在使用过程中的损坏因素主要为灯丝烧断靶材击穿管体内真空遭破坏灯丝加热过程中逸出金属雾，附着铍窗，造成铍窗通过率大幅度降低探测器(光信号转换成电信号单元)DC5VinputX-ray荧光Θ=45度铍窗AmptekX-123分辨率149±5eV数据传输探测器与前放主放与多道脉冲处理器探测器的技术指标与说明最佳分辨率：149±5eV.最高计数率：2X105CPS峰背比≥5000/1（天/信噪比增强器）能响曲线1KeV~40KeV各类型探测器的比较型号SDDSi-PINSi（Li）是否要液氮最佳分辨率125eV150eV150eV否否需要脉冲处理系统技术指标与说明前置放大器主放大器数字化多道脉冲处理器（MCA）任何的电子电路都会造成电子漂移，产生仪器误差，以上系统可以有效的补偿漂移效应，确保仪器精确度。成型时间放大倍数软件根据实际应用情况自动调整。达到最佳效果其他重要元器件辐射防护系统华唯公司的辐射防护系统现有两种结构整机全铅版防护迷宫+自动保护装置射线区域全封闭结构+自动保护装置滤光片系统七组滤光片自动选择系统针对不同材质的测试对象，其激发的X荧光中带有特定的干扰杂波，必须采用特定的滤光片进行初步处理，以提高光效质量，确保良好的测试效果。华唯公司选用的七组滤光片系统是经过数万次实验的最终科技成果，具有良好的滤光及控制效果。整机电路系统优良的整机电路系统是精密仪器稳定性与精确度的基础保证。华唯公司XRF内部电路设计严谨，各类屏蔽与干扰控制机件得当，安装与调试完全符合国际标准。有效的保证了数据的准确性与稳定性数据分析软件在XRF技术中，数据分析与处理技术最为深奥，检测样品中基材对于测试元素的干扰、相邻元素间的干扰、本底对于测试的干扰等虽经过光路控制可以得到一定程度抑制，但最终仍需通过数据分析软件，进行剔除、筛选、分析并最终得出结论。数据分析软件对于XRF的优异具有决定性影响。现阶段国内外XRF仪器的数据分析软件主要分为以下几种理论分析模型基础：经验系数法/理论＠系数法/FP法等。相互间互有侧重，自成一体。华唯产品集合二十多年分析模型研究基础，结合长期的实验结果，成功的将三类理论模型进行结合，应用与华唯产品的数据分析软件中。考虑各类变量最多，剔除各类影响因素最多。充分适合与多材料的工厂生产实际需求。开放性工作曲线各企业实际使用的物料千差万别，任何测试仪器厂家均无能力穷尽所有物料，并在仪器上预制相关的工作曲线。各厂家只会在机器中预制常用的物料类型的工作曲线。不具备与物料匹配的工作曲线时大多数仪器厂家会要求企业选择相近物料的工作曲线进行测试，这种做法往往会导致测试结果偏差较大、部分浓度区间的物料测试结果偏差较大或根本无法测试。国际电工委员会推荐XRF仪器需设立开放性工作曲线，使用户根据自己的风险物料特点建立自己符合的物料范围的工作曲线库，从而确保更加良好的测试效果。然而由于各种原因现阶段在机器中设立开放性工作曲线的厂商寥寥无几。在仪器中设置开放性工作曲线代表着仪器厂家对于产品稳定性与线性的充分信心。亦表明其技术的领先性。现阶段华唯全线产品中均预制开放性工作曲线功能，满足用户进一步物料检测需求。XRF好坏的评估方法仪器安全性XRF为X射线产品，X射线具备累计性及身体不可感知性，故其对于人员的危害性更加隐蔽、更加危险。优良的XRF必须首先确保零辐射的基本条件实现。用户可以详细了解仪器厂家的防护原理、防护措施、索要相关检验证书。有条件的还可使用X射线探测器进行实际检验。仪器稳定性测试XRF属于对比型分析仪器，其数据的稳定性及同一样品的再现性对于后期鉴定及测试极为重要。将各种有害元素居中的样品用仪器进行测量，连续测量21次（即95﹪的置信度），这21次的结果波动误差范围基本上反映了正常使用时，仪器测量的误差范围；此误差范围应该小于我们要求的测量误差。仪器分辨能力测试对不同含量的样品测试数据是否保持相关线形，是决定未来测试不同含量样品是否可以产生相关的数据变化，从而引起检测人员关注的重要属性。使用的仪器工作曲线，逐个对准备好的样品进行测量，测试结果的规律应该与已知的含量结果的规律有较好的一致性（即较好的线性关系）；则说明仪器具有较好的分辨能力。是否拥有开放式工作曲线应特别注意XRF仪器的分析软件是否具有开放的制作工作曲线的功能，此性能可以保证用户后期使用的延展性,并可以充分验证XRF生产商是否具有足够的技术支持能力对仪器具体技术参数进行比较时，还应注意基体材料的影响因素XRF应用领域1.陶瓷陶瓷元素分析玻璃元素分析水泥元素分析2.环境土壤元素分析废水元素分析燃烧灰分元素分析3.食品各种食物中异物分析饲料中元素分析食品容器中不纯物分析4.化学橡胶中不纯物分析-RoHS塑料中金属成分分析-RoHS涂料元素分析石油重油中不纯物分析电镀液中主成分及不纯物分析5.金属、非金属原料分析合金、非金属主成分及不纯物分析矿石元素分析固体主成分及不纯物分析贵重金属主成分及不纯物分析矿渣精炼分析6.电子、电器产品电子零件有害物质分析-RoHS多层镀层镀膜厚度及主成测定各种电子零件镀膜厚度及主成测定其它纤维中元素分析考古学古物元素分析宝石元素分析与鉴定各种样品元素快速鉴定血液中重金属快速分析谢谢！！！